设备测试流程的生成方法、设备及计算机可读存储介质技术

本发明专利技术公开了一种设备测试流程的生成方法、设备及计算机可读存储介质，所述设备测试流程的生成方法包括以下步骤：获取待测试设备的配置信息；根据所述配置信息，确定所述待测试设备包含的待测试元件以及每一所述待测试元件对应的测试项目；基于所述待测试元件的安装信息，确定所述测试项目对应的基础顺序；根据所述基础顺序与每一所述待测试元件的测试影响参数，确定所述待测试设备的测试流程。通过上述方法，能够基于不同种类待测试设备包含的待测试元件，生成最适配的测试流程，排除一些潜在的影响因素，提升设备的测试精度和测试效率。效率。效率。

【技术实现步骤摘要】
设备测试流程的生成方法、设备及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及产品测试领域，尤其涉及设备测试流程的生成方法、设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]为了保证产品质量，电子产品设备在生产时会进行元件测试。如手机、平板以及VR设备(Virtual Reality，虚拟现实)等设备需要做IMU(Inertial Measurement Unit，惯性测量单元)和P
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sensor(光感应元件)等传感器的校准测试。
[0003]由于设备的元件数量较多，且分布于设备的各个结构位置，测试过程中可能涉及到设备的拆装工作，如果元件的测试流程不合理，会造成重复拆装影响测试效率。此外，一些元件在测试当中出现发热等类似的状况，也可能会影响后续其他元件的测试效果，由此可见，元件测试的先后顺序至关重要。
[0004]目前，设备元件的测试流程主要通过技术人员来人为制定，但人为制定的测试流程存在依赖个人经验的局限性，并且其流程顺序是固定不可更改的，这往往会导致人为制定的不合理的测试流程在影响测试精度的同时，还拉低测试效率。
[0005]上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

技术实现思路

[0006]本专利技术的主要目的在于提供一种设备测试流程的生成方法，旨在解决设备元件的测试流程主要通过技术人员来人为制定，但人为制定的测试流程存在依赖个人经验的局限性，并且其流程顺序固定不可更改的技术问题。
[0007]为实现上述目的，本专利技术提供一种设备测试流程的生成方法，所述设备测试流程的生成方法包括以下步骤：
[0008]获取待测试设备的配置信息；
[0009]根据所述配置信息，确定所述待测试设备包含的待测试元件以及每一所述待测试元件对应的测试项目；
[0010]基于全部所述待测试元件，确定基础固定测试顺序；
[0011]基于所述待测试元件的安装信息，确定所述测试项目对应的基础顺序；
[0012]根据所述基础顺序与每一所述待测试元件的测试影响参数，确定所述待测试设备的测试流程。
[0013]可选地，所述根据所述配置信息，确定所述待测试设备包含的待测试元件以及每一所述待测试元件对应的测试项目的步骤包括：
[0014]获取所述待测试元件的功能参数；
[0015]基于预设对照列表以及所述待测试元件的功能参数，确定所述待测试元件对应的所述测试项目。
[0016]可选地，所述根据所述基础顺序与每一所述待测试元件的测试影响参数，确定所述待测试设备的测试流程的步骤之前，还包括：
[0017]获取所述待测试元件对应测试项目的预估测试时长；
[0018]获取所述待测试元件的预先标注的测试影响因素，以及所述测试影响因素对应的权重值；
[0019]根据所述预估测试时长和所述权重值，确定所述影响测试参数。
[0020]可选地，所述根据所述基础固定测试顺序与每一所述待测试元件的测试影响参数，确定所述测试项目的执行顺序的步骤包括：
[0021]基于所述安装信息，确定所述待测试设备的设备组装流程；
[0022]根据所述基础顺序以及所述待测试元件的测试影响参数，排列所述测试项目；
[0023]基于所述组装流程和排列后的所述测试项目，生成所述待测试设备的测试流程。
[0024]可选地，所述根据所述基础顺序与每一所述待测试元件的测试影响参数，确定所述待测试设备的测试流程的步骤之后，还包括：
[0025]在所述测试流程结束后，获取已测试设备的测试报告；
[0026]当所述测试报告显示所述已测试设备测试通过时，获取所述已测试设备的同类设备的测试结果参数；
[0027]根据所述测试结果参数，评估所述已测试设备的测试效率；
[0028]当所述已测试设备的测试效率低于预估测试效率时，确定影响所述测试效率的目标元件；
[0029]基于所述目标元件的测试结果，调整所述目标元件测试影响因素对应的权重值。
[0030]可选地，所述当所述已测试设备的测试效率低于预估测试效率时，确定影响所述测试效率的目标元件的步骤还包括：
[0031]基于所述同类设备的测试结果参数，确定每一所述元件对应的测试参考结果；
[0032]基于所述测试报告，确定每一所述元件的测试结果；
[0033]根据每一所述元件的测试结果，与对应的所述参考测试结果的对比情况，确定所述目标元件。
[0034]可选地，所述基于所述目标元件的测试结果，调整所述目标元件测试影响因素对应的权重值的步骤包括：
[0035]基于所述目标元件的测试结果和所述目标元件的测试参考结果，确定所述目标元件的测试超期比例；
[0036]根据所述测试超期比例，调整所述目标元件测试影响因素对应的权重值。
[0037]可选地，所述当所述已测试设备的测试效率低于预估测试效率时，确定影响所述测试效率的目标元件的步骤之前，还包括：
[0038]根据所述同类设备的测试结果参数，设定预估差值；
[0039]基于所述预估差值，根据所述测试结果参数，确定所述预估测试效率。
[0040]可选地，为实现上述目的，本专利技术还提供一种设备，所述设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的设备测试流程的生成程序，所述设备测试流程的生成程序配置为实现如上所述的设备测试流程的生成方法的步骤。
[0041]可选地，为实现上述目的，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述存储介质
上存储有设备测试流程的生成程序，所述设备测试流程的生成程序被处理器执行时实现如上所述的设备测试流程的生成方法的步骤。
[0042]本专利技术实施例提供一种设备测试流程的生成方法、设备及计算机可读存储介质，所述方法包括：获取待测试设备的配置信息，根据待测试设备的配置信息，进而确定待测试设备包含的待测试元件以及每一种待测试元件对应的测试项目，由于一些待测试元件之间的先后顺序是必须的，因此需要先基于待测试元件，确定待测试项目的基础顺序，然后根据基础顺序以及每一种待测试元件的测试影响参数，确定所有测试项目的执行顺序，也即待测试设备的测试流程。通过上述方法，能够基于不同种类待测试设备包含的待测试元件，生成最适配的测试流程，排除一些潜在的影响因素，提升设备的测试精度和测试效率。
附图说明
[0043]图1为本专利技术设备测试流程的生成方法第一实施例的流程示意图；
[0044]图2为本专利技术设备测试流程的生成方法第二实施例的流程示意图；
[0045]图3为本专利技术设备测试流程的生成方法第三实施例的流程示意图；
[0046]图4为本专利技术设备测试流程的生成方法第一实施例应用场景示例参考图；
[0047]图5是本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的终端结构示意图。
[0048]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种设备测试流程的生成方法，其特征在于，所述设备测试流程的生成方法包括以下步骤：获取待测试设备的配置信息；根据所述配置信息，确定所述待测试设备包含的待测试元件以及每一所述待测试元件对应的测试项目；基于所述待测试元件的安装信息，确定所述测试项目对应的基础顺序；根据所述基础顺序与每一所述待测试元件的测试影响参数，确定所述待测试设备的测试流程。2.如权利要求1所述的设备测试流程的生成方法，其特征在于，所述根据所述配置信息，确定所述待测试设备包含的待测试元件以及每一所述待测试元件对应的测试项目的步骤包括：获取所述待测试元件的功能参数；基于预设对照列表以及所述待测试元件的功能参数，确定所述待测试元件对应的所述测试项目。3.如权利要求1所述的设备测试流程的生成方法，其特征在于，所述根据所述基础顺序与每一所述待测试元件的测试影响参数，确定所述待测试设备的测试流程的步骤之前，还包括：获取所述待测试元件对应测试项目的预估测试时长；获取所述待测试元件的预先标注的测试影响因素，以及所述测试影响因素对应的权重值；根据所述预估测试时长和所述权重值，确定所述影响测试参数。4.如权利要求1所述的设备测试流程的生成方法，其特征在于，所述根据所述基础顺序与每一所述待测试元件的测试影响参数，确定所述待测试设备的测试流程的步骤包括：基于所述安装信息，确定所述待测试设备的设备组装流程；根据所述基础顺序以及所述待测试元件的测试影响参数，排列所述测试项目；基于所述组装流程和排列后的所述测试项目，生成所述待测试设备的测试流程。5.如权利要求1所述的设备测试流程的生成方法，其特征在于，所述根据所述基础顺序与每一所述待测试元件的测试影响参数，确定所述待测试设备的测试流程的步骤之后，还包括：在所述测试流程结束后，获取已测试设备的测试报告；当所述测试报告显示所述已测试设备测试通过时，获取所述已测...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡小波，丘仕英，石庆，
申请(专利权)人：深圳市亿境虚拟现实技术有限公司，
类型：发明
国别省市：