射频传导测试的通路配置装置、方法、可读介质和设备制造方法及图纸

本申请涉及电子技术领域，公开了一种射频传导测试的通路配置装置、方法、可读介质和设备，可以自动切换测试仪表和待测终端之间的接线，保证了射频传导测试的可靠性，并避免频繁的接线动作造成的时间浪费。该装置，包括：M个第一端口、N个第二端口、控制模块以及测试通路模块；其中，第一端口用于连接测试设备；第二端口用于连接待测的终端；控制模块，用于根据测试频段，从测试通路模块中确定出Y个测试通路，其中，Y个测试通路用于传输测试设备和终端设备之间的传输信号；其中，传输信号用于对终端的射频传导进行测试。的射频传导进行测试。的射频传导进行测试。

【技术实现步骤摘要】
射频传导测试的通路配置装置、方法、可读介质和设备


[0001]本申请涉及电子
，特别涉及一种射频传导测试的通路配置装置、方法、可读介质和设备。

技术介绍

[0002]在对手机等终端产品进行蜂窝射频传导指标测试时，需要使用射频线缆连接测试仪表的仪表接口和手机单板上的射频测试座。例如，待测终端可以为手机单板，如手机印制电路板（printed circuit board，PCB）。而在不同射频频段组合下测试仪表与手机单板之间连接的射频线缆的接线数量和位置可能不同。例如，一些射频频段组合涉及较多的接线数量，如部分长期演进（longterm evolution，LTE)的多分量载波(CC)组合如载波聚合（CA）组合和非独立组网(non
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stand alone，NSA)组合通常涉及到3根以上的射频线缆。
[0003]参照图1示出射频传导测试的接线示意图，测试仪表01中包括多个仪表接口如仪表接口011
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014，待测终端02例如印制电路板（printed circuit board，PCB）包括多个射频测试座如射频测试座021
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027。其中，图1中的仪表接口011
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014分别使用一根射频电缆连接射频测试座026、025、027、024。此外，在切换频段组合时，将面临着重新手动接线和配置仪表的问题。那么，在切换其他射频频段组合时，通常需要将图1示出的仪表接口011
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014与射频测试座026、025、027、024之间4根接线拔掉再重新在其他仪表接口和射频测试座之间手动接线。
[0004]然而，目前一些5G产品的射频频段组合数量较多，在不同射频频段组合下换线、接线需要花费大量时间，带来较大工作量。多次扣合、拔起的接线动作也不利于射频线缆的使用寿命和射频测试座的焊接可靠性，在多次接线后，经常遇到射频测试线损坏，或射频测试座脱落的现象。并且，每种频段下手机单板都会有1个发送（TX）端口和多个接收（RX）端口，且接线方式不同，用户需要耗费较大的精力去查表才能完成射频仪表与手机单板之间的手动接线。

技术实现思路

[0005]本申请实施例提供了一种射频传导测试的通路配置装置、方法、可读介质和设备，可以自动切换测试仪表和待测终端之间的接线，保证了射频传导测试的可靠性，并避免频繁的接线动作造成的时间浪费。
[0006]第一方面，本申请实施例提供了一种射频传导测试的通路配置装置，包括：M个第一端口、N个第二端口、控制模块以及测试通路模块；其中，第一端口用于连接测试设备；第二端口用于连接待测的终端；控制模块，用于根据测试频段，从测试通路模块中确定出Y个测试通路，其中，Y个测试通路用于传输测试设备和终端设备之间的传输信号；其中，传输信号用于对终端的射频传导进行测试。例如，M为4，N为8。其中，测试设备也可以称为测试仪表，第一端口可以称为测试端口，第二端口也可以称为终端端口。可以理解，该装置终端测试通路模块可以提供多条测试通路，且可以在不同测试频段下自动切换不同测试通路，从
而避免更换测试频段时重复接线。例如，该装置识别出当前测试频段采用哪些测试通道进行传输信号的传输。那么，用户无需多次手动对测试仪表和待测终端进行接线动作，有利于避免射频线缆、射频测试座发生故障，保证了射频传导测试的可靠性，并避免频繁的接线动作造成的时间浪费。
[0007]在第一方面的一种可能实现方式中，Y个测试通路包括用于传输终端向测试设备发送的上行信号的第一测试通路、以及用于传输测试设备向终端发送的下行信号的第二测试通路。可以理解，上行信号可以为终端在当前测试频段下以最大发射功率进行发送的射频信号，下行信号可以为测试仪表在最大下发电平（如
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50dBm）下发送的信号。此时，上行信号和下行信号用于对待测的终端进行射频传导测试。
[0008]在第一方面的一种可能实现方式中，控制模块，还用于根据测试通路模块中的P个测试通路传输上行信号的功率值，从P个测试通路中确定出第一测试通路，其中第一测试通路传输上行信号的功率值大于第一数值，并且Y小于P。其中，第一测试通路中的第二端口可以对应于终端中的TX端口。例如，由于TX端口和PRX（主集接收）端口为同一端口，由此同时确定了TX端口和PRX端口。可以理解，本申请利用P个测试通路中TX端口的信号功率较大的特点，基于各个测试通路中的上行信号的功率值，自动确定出第一测试通路，即对应TX端口的测试通路。例如，射频传导测试时TX端口可以为一个，即第一测试通路的个数为一个。
[0009]在第一方面的一种可能实现方式中，控制模块，还用于根据测试通路模块中的Q个测试通路传输下行信号的反射系数，从Q个测试通路中确定出第二测试通路，其中，第二测试通路传输下行信号的反射系数小于第二数值，测试通路传输下行信号的反射系数为测试通路中下行信号的功率值与测试通路中下行信号的反射信号的功率值的比值，Q个测试通路与P个测试通路不同，并且Y小于Q。其中，第二测试通路中的第二端口可以对应于终端中的RX端口。可以理解，本申请利用P个测试通路中RX端口的反射系数较小的特点，基于各个测试通路中的下行信号的发射系数，自动确定出第二测试通路，即对应RX端口的测试通路。例如，射频传导测试时RX端口可以为多个，即第二测试通路的个数为多个。
[0010]在第一方面的一种可能实现方式中，测试通路模块中包括：射频开关模块；控制模块，具体用于控制射频开关模块导通测试通路模块中与测试频段对应的Y个测试通路。例如，控制射频开关模块可以包括N个射频开关，每个射频开关可以为一个非反射式单刀双掷开关。本申请使用非反射式单刀双掷开关的主要目的是使不工作的通路具有较小的反射系数，以及增加两个端口的隔离度。
[0011]在第一方面的一种可能实现方式中，M个第一端口包括M1个射频输出端口和M2个射频输入端口，并且测试通路模块中还包括：功分模块，用于根据第一端口的数量M和第二端口的数量N，将上行信号由N路信号进行合路后再进行分路为M2路信号，以将下行信号由M1路信号合路为一路信号后再分路为N路信号。例如，M1和M2均为2，M1个射频输出端口为RF1OUT、RF3OUT，M2个射频输入端口为RF1COM、RF3COM。
[0012]在第一方面的一种可能实现方式中，功分模块包括第一功分器、第二功分器、第三功分器和第四功分器；其中，第一功分器包括M1个第一支路和第一主路，第二功分器包括M2个第二支路和第二主路；第三功分器包括N个第三支路和第三主路，第四功分器包括N个第四支路和第四主路；M1个射频输出端口连接M1个第一支路，第一主路连接第三主路；M2个射频输入端口连接M2个第二支路，第一主路连接第四主路；N个第三支路连接射频开关模块，N
个第四支路连接射频开关模块。
[0013]在第一方面的一种可能实现方式中，测试通路模块中还包括：双定向耦合模块；双定向耦合模块用于输出测试通路模块中的测试通路传输的通信信号的放大信号，每个放大信号对应通信本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频传导测试的通路配置装置，其特征在于，包括：M个第一端口、N个第二端口、控制模块以及测试通路模块；其中，所述第一端口用于连接测试设备；所述第二端口用于连接待测的终端；所述控制模块，用于根据测试频段，从所述测试通路模块中确定出Y个测试通路，其中，所述Y个测试通路用于传输所述测试设备和终端设备之间的传输信号；其中，所述传输信号用于对所述终端的射频传导进行测试。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述Y个测试通路包括用于传输所述终端向所述测试设备发送的上行信号的第一测试通路、以及用于传输所述测试设备向所述终端发送的下行信号的第二测试通路。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述控制模块，还用于根据所述测试通路模块中的P个测试通路传输所述上行信号的功率值，从所述P个测试通路中确定出所述第一测试通路，其中所述第一测试通路传输所述上行信号的功率值大于第一数值，并且Y小于P。4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述控制模块，还用于根据所述测试通路模块中的Q个测试通路传输所述下行信号的反射系数，从所述Q个测试通路中确定出所述第二测试通路，其中，所述第二测试通路传输所述下行信号的反射系数小于第二数值，所述测试通路传输所述下行信号的反射系数为所述测试通路中所述下行信号的功率值与所述测试通路中所述下行信号的反射信号的功率值的比值，所述Q个测试通路与所述P个测试通路不同，并且Y小于Q。5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述测试通路模块中包括：射频开关模块；所述控制模块，具体用于控制所述射频开关模块导通所述测试通路模块中与所述测试频段对应的所述Y个测试通路。6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述M个第一端口包括M1个射频输出端口和M2个射频输入端口，并且所述测试通路模块中还包括：功分模块，用于根据所述第一端口的数量M和所述第二端口的数量N，将所述上行信号由N路信号进行合路后再进行分路为M2路信号，以将所述下行信号由M1路信号合路为一路信号后再分路为N路信号。7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述功分模块包括第一功分器、第二功分器、第三功分器和第四功分器；其中，所述第一功分器包括M1个第一支路和第一主路，所述第二功分器包括M2个第二支路和第二主路；所述第三功分器包括N个第三支路和第三主路，所述第四功分器包括N个第四支路和第四主路；所述M1个射频输出端口连接所述M1个第一支路，所述第一主路连接所述第三主路；所述M2个射频输入端口连接所述M2个第二支路，所述第一主路连接所述第四主路；所述N个第三支路连接所述射频开关模块，所述N个第四支路连接所述射频开关模块。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述测试通路模块中还包括：双定向耦合模块；所述双定向耦合模块用于输出所述测试通路模块中的测试通路传输的通信信号的放大信号，每个放大信号对应所述通信信号的功率值。9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述双定向耦合模块中包括N个双定向耦合器，所述N个双定向耦合器连接所述控制模块，每个所述双定向耦合器中包括：定向耦合器、双刀双掷开关、可变增益放大器和第一负载；所述定向耦合器包括第一传输端口和第二传输端口以及第一耦合端口和第二耦合端口，其中所述第一传输端口连接所述射频开关模块，所述第二传输端口连接一个所述第二端口；所述双刀双掷开关包括第一开关端口、第二开关端口、第三开关端口和第四开关端口，其中所述第一开关端口连接所述第一耦合端口，所述第二开关端口连接所述第二耦合端口，所述第三开关端口连接所述第一负载，所述第四开关端口连接所述可变增益放大器，且所述第一负载的另一端接地；所述控制模块，还用于控制所述双刀双掷开关为直通态，并通过所述可变增益放大器对应于第一增益输出所述测试通路中的所述上行信号的放大信号，或者，通过所述可变增益放大器对应于第二增益输出所述测试通路中的所述下行信号的反射信号的放大信号，控制所述双刀双掷开关为交叉态，并通过所述可变增益放大器对应于所述第二增益输出所述测试通路中所述行信号的放大信号。10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，对应于所述双刀双掷开关为直通态，所述第三开关端口与所述第一负载连通，且所述第四开关端口与所述可变增益放大器连通；对应于所述双刀双掷开关为交叉态，所述第三开关端口与所述可变增益放大器连通，且所述第四开关端口与所述第一负载连通。11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述测试通路模块还包括：检波模块；所述检波模块，用于输出所述测试通道中传输的所述上行信号的功率值，所述测试通道中传输的所述下行信号的功率值，或者所述测试通道中传输的所述下行信号的反射信号的功率值。12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述检波模块连接所述控制模块，所述检波模块包括：切换模块、检波器和模数转换器；所述切换模块的一端连接所述N个双定向耦合器，另一端连接所述检波器；所述检波器的另一端所述模数转换器；所述模数转换器的另一端连接所述控制模块；所述切换模块，用于连通所述N个双定向耦合器中的至少一个双定向耦合器与所述检波器；所述检波器用于检测所述至少一个双定向耦合器中的每个所述双定向耦合器输出的放大信号，确定出所述放大信号的直流电压值，并将所述直流电压值输出至所述模数转换器；
所述模数转换器用于将所述直流电压值转换为功率值，并将所述功率值输出给所述控制模块，且所述功率值为数字信号。13.根据权利要求1至12中任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：第一用户输入模块；所述第一用户输入模块连接所述控制模块，所述第一用户输入模块用于向所述控制模块发送第一指令，所述第一指令用于指示所述控制模块从所述测试通路模块中自动确定所述Y个测试通道。14.根据权利要求5至12中任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：第二用户输入模块；所述第二用户输入模块连接所述控制模块，所述第二用...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐哲，魏永涛，
申请(专利权)人：荣耀终端有限公司，
类型：发明
国别省市：