测试方法、计算机设备及可读存储介质技术

本申请提供一种测试方法、计算机设备及可读存储介质。测试方法包括：响应于数据输入指令，录入提测单；提测单包括待测产品的目标产品编号、待测产品中待测回路的目标回路编号以及目标回路参数；根据目标产品编号以及目标回路编号从用例库中确定第一测试用例集；其中，用例库中的每一测试用例与对应的产品编号、回路编号以及回路参数相关联；根据目标回路参数从第一测试用例集中确定提测单对应的测试用例集；根据提测单对应的测试用例集执行测试，以生成测试报告。本申请提供的测试方法可提升测试效率。测试效率。测试效率。

【技术实现步骤摘要】
测试方法、计算机设备及可读存储介质


[0001]本申请涉及本申请涉及测试
，尤其涉及一种测试方法、计算机设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]冒烟测试用于在每个版本变更后，在正式测试前，对软件系统进行的一次简单验证性测试。它的目的是确认软件基础的功能正常，确保软件系统能够运行并能够执行后续的正式测试。
[0003]相关技术中，局限于测试人员对更变点的理解以及测试人员的能力，在白盒、黑盒以及系统测试时，往往需要进行全量测试，或者由业务能力较强的测试人员手动勾选测试用例形成冒烟测试用例，这样一来，导致执行测试活动的门槛较高，且测试用例冗余，测试效率低。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，提供一种测试方法、计算机设备及可读存储介质，可自动生成测试用例集，并进行自动化测试，同时减少测试用例冗余的情况，提升测试效率。
[0005]本申请第一方面提供一种测试方法，应用于与待测产品连接的上位机。测试方法包括：响应于数据输入指令，录入提测单；提测单包括待测产品的目标产品编号、待测产品中待测回路的目标回路编号以及目标回路参数；根据目标产品编号以及目标回路编号从用例库中确定第一测试用例集；其中，用例库中的每一测试用例与对应的产品编号、回路编号以及回路参数相关联；根据目标回路参数从第一测试用例集中确定提测单对应的测试用例集；根据提测单对应的测试用例集执行测试，以生成测试报告。
[0006]在一种实施方式中，根据目标产品编号以及目标回路编号从用例库中确定第一测试用例集，包括：在用例库中匹配与目标产品编号关联且与目标回路编号关联的测试用例，以生成第一测试用例集。
[0007]在一种实施方式中，目标回路参数包括目标回路特性、目标应用程序编程接口编号以及目标器件编号，根据目标回路参数从第一测试用例集中确定提测单对应的测试用例集，包括：在第一测试用例集中匹配与目标回路特性关联的测试用例，以生成第二测试用例集；在第一测试用例集中匹配与目标器件编号关联或与目标应用程序编程接口编号关联的测试用例，以生成第三测试用例集；将第二测试用例集与第三测试用例集的并集确定为提测单对应的测试用例集。
[0008]在一种实施方式中，测试方法还包括：响应于结构更新指令，录入结构更新提测单，结构更新提测单包括结构更新的产品编号、增删器件的器件编号及更新回路的回路编号；在用例库中匹配与结构更新的产品编号、及更新回路的回路编号关联的测试用例，以生成第四测试用例集；在用例库中匹配与结构更新的产品编号、及增删器件的器件编号关联的测试用例，以生成第五测试用例集；将第四测试用例集与第五测试用例集的并集确定为
结构更新提测单对应的测试用例集。
[0009]在一种实施方式中，测试方法还包括：响应于器件更新指令，录入器件更新提测单，器件更新提测单包括更新器件的产品编号及更新器件的器件编号；在用例库中匹配与更新器件的产品编号及更新器件的器件编号关联的测试用例，以生成第六测试用例集；将第六测试用例集确定为器件更新提测单对应的测试用例集。
[0010]在一种实施方式中，测试方法还包括：响应于软件更新指令，录入软件更新提测单，软件更新提测单包括软件更新的产品编号及更新的应用程序编程接口编号；在用例库中匹配与软件更新的产品编号、及更新的应用程序编程接口编号关联的测试用例，以生成第七测试用例集；将第七测试用例集确定为软件更新提测单对应的测试用例集。
[0011]在一种实施方式中，在执行根据目标产品编号以及目标回路编号从用例库中确定第一测试用例集之前，测试方法还包括：确定提测单的信息质量；当提测单的信息质量不满足预设条件时，执行第一提示，第一提示用于提示重新录入提测单；其中，预设条件包括，提测单的测试特征至少包括目标产品编号、目标回路编号以及目标回路参数。
[0012]在一种实施方式中，根据提测单对应的测试用例集进行测试，以生成测试报告，包括：当确认连接至提测单对应的待测产品时，执行提测单对应的测试用例集中的所有测试用例，以生成待测产品的测试报告。
[0013]本申请第二方面提供一种计算机设备，用于测试待测产品，计算机设备包括：存储器，用于存储程序指令；及处理器，用于读取并执行存储器中存储的程序指令，当程序指令被处理器执行时，使得计算机设备执行如上任一项所述的测试方法。
[0014]本申请第三方面提供一种计算机可读存储介质存储，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时使处理器实现如上任一项所述的测试方法。
[0015]本申请提供的测试方法，通过将测试用例与产品编号、回路编号以及回路参数关联，然后通过查询录入的提测单中的目标产品编号、目标回路编号以及目标回路参数，以在用例库中根据目标产品编号、目标回路编号以及目标回路参数匹配对应的测试用例，从而生成与提测单对应的测试用例集，如此一来，通过精准匹配，可改善测试用例冗余的情况，提升测试效率。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本申请的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对本申请保护范围的限定。在各个附图中，类似的构成部分采用类似的编号。
[0017]图1为本申请提供的测试方法涉及的应用环境示意图。
[0018]图2为本申请一实施例提供的测试方法的流程示意图。
[0019]图3为本申请一实施例提供的步骤S230的子步骤示意图。
[0020]图4A为本申请一实施例中的提测单的示意图。
[0021]图4B为本申请一实施例中的用例库的示意图。
[0022]图5为本申请另一实施例提供的测试方法的流程示意图。
[0023]图6为本申请一实施例中待测产品的回路示意图。
[0024]图7为本申请另一实施例提供的测试方法的流程示意图。
[0025]图8为本申请另一实施例提供的测试方法的流程示意图。
[0026]图9为本申请一实施例在执行步骤S210之前的测试方法的流程示意图。
[0027]图10为本申请一实施例提供的计算机设备的结构框图。
[0028]图11为本申请一实施例提供的控制装置的结构框图。
[0029]主要元件符号说明
[0030]上位机10
[0031]待测产品20
[0032]计算机设备100
[0033]存储器1100
[0034]处理器1200
[0035]控制装置200
[0036]响应模块2100
[0037]第一确定模块2200
[0038]第二确定模块2300
[0039]执行模块2400
具体实施方式
[0040]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0041]需要说明的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，应用于与待测产品连接的上位机，其特征在于，所述测试方法包括：响应于数据输入指令，录入提测单；所述提测单包括所述待测产品的目标产品编号、所述待测产品中待测回路的目标回路编号以及目标回路参数；根据所述目标产品编号以及所述目标回路编号从用例库中确定第一测试用例集；其中，所述用例库中的每一测试用例与对应的产品编号、回路编号以及回路参数相关联；根据所述目标回路参数从所述第一测试用例集中确定所述提测单对应的测试用例集；根据所述提测单对应的测试用例集执行测试，以生成测试报告。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标产品编号以及所述目标回路编号从所述用例库中确定第一测试用例集，包括：在所述用例库中匹配与所述目标产品编号关联且与所述目标回路编号关联的测试用例，以生成第一测试用例集。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标回路参数包括目标回路特性、目标应用程序编程接口编号以及目标器件编号，所述根据所述目标回路参数从所述第一测试用例集中确定所述提测单对应的测试用例集，包括：在所述第一测试用例集中匹配与所述目标回路特性关联的测试用例，以生成第二测试用例集；在所述第一测试用例集中匹配与所述目标器件编号关联或与所述目标应用程序编程接口编号关联的测试用例，以生成第三测试用例集；将所述第二测试用例集与所述第三测试用例集的并集确定为所述提测单对应的测试用例集。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试方法还包括：响应于结构更新指令，录入结构更新提测单，所述结构更新提测单包括结构更新的产品编号、增删器件的器件编号及更新回路的回路编号；在所述用例库中匹配与所述结构更新的产品编号、及所述更新回路的回路编号关联的测试用例，以生成第四测试用例集；在所述用例库中匹配与所述结构更新的产品编号、及所述增删器件的器件编号关联的测试用例，以生成第五测试用例集；将所述第四测试用例集与所述第五测试用例集的并集确定为所述结构更新提测单对应的测试用例集。5.根据权利要求1所述的方...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱文涛，张宏韬，陈熙，王雷，
申请(专利权)人：深圳市正浩创新科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：