基于脉冲回波法的室温硫化硅橡胶涂层超声无损检测方法技术

本发明专利技术公开了基于脉冲回波法的室温硫化硅橡胶涂层超声无损检测方法，S1：使用无水乙醇对硅橡胶待测样品表面进行擦拭清洗；S2：通过台式测厚仪对待测样品进行厚度测量，并进行记录，同时记录室内温度；S3：将耦合剂涂在待测样品的待测区域，并将超声探头置于待测区域，并发射声波，声波在待测样品的RTV涂层上进行折射和反射，其波形被数字超声波探伤仪检测，并传输给计算机，计算机进行波形分析。本发明专利技术的有益效果是：通过将超声探头置于待测样品的上方，利用声波对待测样品进行扫描，并记录反射信号的时间和幅度，再通过计算机分析信号从而对缺陷类型与位置进行确定，具有穿透力较强、检测精度较高、无污染以及对待测样品不产生损伤等特点。生损伤等特点。生损伤等特点。

【技术实现步骤摘要】
基于脉冲回波法的室温硫化硅橡胶涂层超声无损检测方法


[0001]本专利技术涉及涂层检测
，特别是基于脉冲回波法的室温硫化硅橡胶涂层超声无损检测方法。

技术介绍

[0002]室温硫化硅橡胶(Room Temperature Vulcanized silicone rubber,RTV)具有良好的憎水性和憎水迁移性，常用于设备表面，用于提高设备外绝缘水平，并有效提高电力系统外绝缘的耐污水平。但由于施工不规范、涂料质量问题或者老化等因素会导致RTV涂层内部出现气泡、细小裂纹、涂覆不均匀等缺陷，因此需要对其进行质量检测。
[0003]目前对室温硫化硅橡胶无损检测的方法有红外、射线、磁粉、涡流和渗透检测；
[0004]1、红外无损检测技术是将可控热载荷(如脉冲、连续循环加热等)处理到被测对象上，使材料中的缺陷或损伤可以通过表面温度梯度来呈现。物体温度场的变化是利用红外热成像系统进行观测和记录，红外热成像序列进行处理后，再进行数据分析从而实现对物体内部缺陷的快速无损检测。但在实际检测中，涂层厚度对于检测具有很大影响，从而导致结果不精确；
[0005]2、射线无损检测是利用X射线的穿透性，传统的X射线探伤机对铸件体积型缺陷较敏感，检出率很高，能较直观地显示工件的内部缺陷的形状和大小，缺陷影像的平面分布真实、尺寸的测量精确，对与薄壁工件探伤灵敏度较高。但对于裂纹类，如果照相角度不适当，则比较容易漏检；此外射线检测使用成本较高，并且X射线对人体有害，长时间处于此环境，容易对人体造成伤害；
[0006]3、磁粉检测方法可以检测微米级宽度的缺陷并对裂纹具有高灵敏度，可有效探查初期形成的裂纹。此外磁粉检测基本不受几何形状和物体大小的限制，几乎可以运用到构件表面的部位，同时磁粉检测可多次重复性，易于保存检测结果。但缺点也很明显，只适用于检测铁磁性材料，非磁性材料并不适用，因此磁粉检测对结构表层和近表层的问题具有极其优秀的检测灵敏度，但不宜用来检验结构表层浅而大的划痕、隐藏较深的内部裂缝和缺陷；
[0007]4、涡流检测是在电磁感应原理的基础上建立的。放置一块导体在交变磁场中，感应电流会形成在导体周边，这种感应电流进而催生涡流。涡流检测具有检测效率高、检测成本低、更加绿色环保，虽然涡流检测技术具有多方面使用优势，但是探测精确度方面不如磁粉检测，因为趋肤效应，激励频率较高，产生的涡流只能集中在元件表面；如果频率过低，涡流渗透深度虽然辉增加，但是检测的灵敏性会被削弱；涡流检测也容易受到客观因素的影响；并且涡流检测技术只能够对可以感生涡流的非金属类材料以及具有导电性的金属材料实施检测；最后涡流检测技术难以对金属材料内部深层缺陷进行检测；
[0008]5、渗透检测又称渗透探伤，该方法实用性强、操作简单、效率高，是常用的无损检测方法。渗透检测的缺陷显示直观，能大致确定缺陷的类型质，检测灵敏度较高，费用低，对于复杂的裂纹、疏松、夹杂类等缺陷也可一次全面检测，现场使用方便。但是只能检测靠近
表面的缺陷，无法检测深层内部缺陷，且渗透检测一般需要使用清洗剂、渗透剂和显像剂等化学检测剂，对人的健康和环境有不利的影响。

技术实现思路

[0009]本专利技术的目的在于克服现有技术的缺点，提供基于脉冲回波法的室温硫化硅橡胶涂层超声无损检测方法。
[0010]本专利技术的目的通过以下技术方案来实现：基于脉冲回波法的室温硫化硅橡胶涂层超声无损检测方法，包括以下步骤：
[0011]S1：使用无水乙醇对硅橡胶待测样品表面进行擦拭清洗；
[0012]S2：通过台式测厚仪对待测样品进行厚度测量，并进行记录，同时记录室内温度；
[0013]S3：将耦合剂涂在待测样品的待测区域，并将超声探头置于待测区域，并发射声波，声波在待测样品的RTV涂层上进行折射和反射，其波形被数字超声波探伤仪检测，并传输给计算机，计算机进行波形分析。
[0014]优选的，步骤S3中，超声探头垂直在待测样品的上方。
[0015]优选的，步骤S3中，通过脉冲发生器向超声探头和放大器发射一发射波T，当发射波T穿过有缺陷的固定介质时，会反射部分声波，形成缺陷波F，其余声波传播到介质地面后反射回来，形成底波B，将发射波T、底波B和缺陷波F经放大器传输给计算机中进行比较，通过幅度分析，得出缺陷在介质内的深度。
[0016]本专利技术具有以下优点：本专利技术通过将超声探头置于待测样品的上方，利用声波对待测样品进行扫描，并记录反射信号的时间和幅度，再通过计算机分析信号从而对缺陷类型与位置进行确定，具有穿透力较强、检测精度较高、无污染以及对待测样品不产生损伤等特点。
附图说明
[0017]图1为超声检测装置的结构示意图；
[0018]图2为质量检测方法的结构示意图；
[0019]图3为颗粒状缺陷试品的结构示意图；
[0020]图4为条状缺陷试品的结构示意图；
[0021]图5为厚度不均缺陷波形示意图；
[0022]图6为0.6mm～0.8mm颗粒状缺陷探伤波形示意图；
[0023]图7为0.8mm宽度条状缺陷检测波形示意图；
[0024]图中，1
‑
待测样品，2
‑
耦合剂，3
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超声探头，4
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数字超声波探伤仪，5
‑
计算机。
具体实施方式
[0025]为使本专利技术实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施方式中的附图，对本专利技术实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本专利技术一部分实施方式，而不是全部的实施方式。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施方式的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0026]因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保
护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施方式。基于本专利技术中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本专利技术保护的范围。
[0027]需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施方式及实施方式中的特征可以相互组合。
[0028]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0029]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0030]在本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于脉冲回波法的室温硫化硅橡胶涂层超声无损检测方法，其特征在于：包括以下步骤：S1：使用无水乙醇对硅橡胶待测样品(1)表面进行擦拭清洗；S2：通过台式测厚仪对所述待测样品(1)进行厚度测量，并进行记录，同时记录室内温度；S3：将耦合剂(2)涂在所述待测样品(1)的待测区域，并将超声探头(3)置于待测区域，并发射声波，声波在所述待测样品(1)的RTV涂层上进行折射和反射，其波形被数字超声波探伤仪(4)检测，并传输给计算机(5)，所述计算机(5)进行波形分析。2.根据权利要求1所述的基于脉冲回波法的室温...

【专利技术属性】
技术研发人员：李亚伟，刘兴文，陈昊，陈凌，卢金奎，赵福平，刘凤莲，杨昊，
申请(专利权)人：西南民族大学，
类型：发明
国别省市：