一种绝对式双参数涡流检测方法的改进技术

本发明专利技术一种绝对式双参数涡流检测方法的改进，具体指一种利用涡流检测技术装置与检测软件结合，对管材、线材、棒材的成品和半成品进行在线测量和选材的方法，涉及电磁参数测量技术领域。包括双参数涡流检测传感器、ＰＣ、ＰＬＣ和通过机构、剔出机构，以电信号的方式连接。还包括：ａ．把被测工件的半径ａ、真空磁导率μ０：４π×１０－７Ｈ／ｍ值输入Ｌａｂｖｉｅｗ程序初始界面；ｂ．把被测工件放入双参数涡流检测传感器的工作线圈中；……ｆ．通过ＰＬＣ控制后进入通过机构和剔除机构等步骤。本发明专利技术改变了现有单纯使用人工手动计算输入的方法带来的低效率的现状，有效地提高了绝对式圆柱体导体材料双参数测量的速度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电磁参数测量
，具体指一种利用涡流检测技术装置与检测软件结合，对管材、线材、棒材的成品和半成品进行在线测量和选材的方法。
技术介绍
现有技术一种圆柱体导体材料温度测量装置及其方法(专利申请号200910047910.4)中，通过输出电压E。和&、相角值^由公式(1，2)推导相对磁导率i^和电导率c双参数的综合参数M、X的求取的方法是E， AyI22孤 表1 :M、 V与X的关系对照表(1)(2)M切xM想 ..O卿3,攀S遞⑩"鄉，，悉3^2《4.3,4每3，€0,122744，3，瑟7，腦0，,5,4，1,5，,j《;S攀腳30，4，， 432.5:0,949 2,4亿？ 51.507，2 Cl，糊，？1:7.'32，化跳惑.0 根据表1测量值相角^与M、X的关系，经过人工用拟合逼近的方法计算得出的，因此它推导速度缓慢，在实现测量系统在线的快速测量目标带来了很大的障碍。
技术实现思路
本专利技术的目的为克服上述现有技术存在的缺失，而提出一种以涡流测量装置与检测软件结合的方法，通过本专利技术可直接对管材、线材、棒材的成品和半成品进行在线测量和选材。4 我们引用了 visualbasic对采集的数据进行进一步比较和实时显示。先按附图1 所示的绝对式双参数涡流传感器测得的相位值P输入进一个预先编好的VB程序中，程序代 码如下Private Sub Commandl—Click0Dim X(l To 32)As Double, M(l To 32)As Double,小(1 To 32)As Double, t As DoubleDim i%123456789) =10)11)12)13)14)15)16)17)18)19)20)21)22)23)24)25)26)27)28)29)30)31)0# :M(l)=0. 2 :M(2)= 0. 4 :M(3)= 0. 6 :M(4)=0. 8 :M(5)=1# :M(6)=1. 2 :M(7)= 1. 4 :M(8)= 1. 6 :M(9)==1. 8 :M(IO) =2# :M(ll)=2. 2 :M(12) =2. 4 :M(13) =2. 6 :M(14) =2. 8 :M(15) =3# :M(16) =3. 2 :M(17) =3. 4 :M(18) =3. 6 :M(19) =3. 8 :M(20) =4# :M(21) =4. 2 :M(22) =4. 4 :M(23) =4. 6 :M(24) =4. 8 :M(25) =5# :M(26) =5. 2 :M(27) =5. 4 :M(28) =5. 6 :M(29) =5. 8 :M(30) =6# :M(31)1# : (Hi) =0=0. 99979 :小(2)= =0. 999667 :小(3) =0. 998318 :小(4) =0. 994717 :小(5) 0. 987275 : (H6)= =0. 974239 :小(7) =0. 954059 :小(8) =0. 925849 :小(9)=0. 8897750. 847162 : =0. 800221 =0. 751507 =0.703368 =0.6575920.615292 : =0.576979 =0.542715 =0.512274 =0.48528 :0.461295 : =0.439888 =0.420662 =0.403273 =0.3874320.372904 : =0.359497 =0.34706 : =0.335473 =0.3246380.314476 ::小(10) 小(11) :小(12):小(13) :小(14) :小(15)小(16):小(17) :小(18) :小(19) 小(20)小(21):小(22) :小(23) :小(24) :小(25)小(26):小(27)小(28):小(29) :小(30)小(31)0. 286 :1. 146 :2. 574 :4. 559 7. 07 :10.045 :13. 382 :16.939 :20. 546 24. 024 :27. 221 :30.027 :32. 389 :34. 303 35. 805 :36.952 :37. 811 :38. 449 38.925 39.286 :39.572 :39.808 :40. 015 :40.204 40.382 :40. 553 40.717 :40.876 :41. 028 41. 173Text7. Text5界面；For i = lTo 32If (小(i) > t)ThenExit ForEnd IfNext iTextl. Text=X(i-l)Text2. Text=X(i)Text3. Text=M(i-l)Text4. Text=M(i)Text5. Text=小(i-1)Text6. Text="i)End Sub并包括如下步骤a.把被测工件的半径a、真空磁导率iiO :4ji X 10_7H/m值输入Labview程序初始b. 把被测工件放入双参数涡流检测传感器的工作线圈中；c. 通过双参数涡流检测传感器把测得的相位值P和两处电压值E0、E2经检测电路Labview输入电脑中的使用VB中的数组功能的Labview程序中； d.根据Labview程序，把测得的相位值^与^ l进行比较，如果P大于^ l，则不输出任何数据，并继续与^2比较，以此类推； 直到当Pi大于^l时，则输出^i与^(i-l)，同时把与之相对应的Xi、 X(i-l)、Mi、M(i-l)输出，并把^ ， ^i与^ (i-l)和比较得到的Xi、 X(i-l) 、 Mi、 M(i-l)这7个对应数据显示在VB的窗口界面上； e.相位值^、X和M的上、下边界值的数据传回给Labview的程序中进行计算，把X和M的计算值，进一步通过公式 =—— ~ (1)和0" = ;;~^-j (2)，yE0. 7.M 2加//0//y/算出磁导率P Y和电导率o ;把X1X2M1M2四个值传输到Labview中进行计算得出P Y和o ，判断合格与否；f.通过PLC控制后进入通过机构和剔除机构。其中，所述的数组，按照表1定义三个一维双精度浮点数型的数组分别为X，M，伊; 其中，M^ I、i , 、！'beilxZ,/0X)2。Z)2 (3)公式(3)， (4)中含有参数X的零阶和一阶开尔文函数ber0x， bei0x， berlx，,，其中W-检测系统测得的相位角6 I = 0^2兀//。/^— (5) 其中f-磁场频率； 为了计算的准确、方便，建立起M、^与X的关系制成表1 ;每个数组有32个数据，并——对应。 数组在计算机中占据一块内存区域，数组名为区域的名称，区域的每个单元有自己的地址，地址用下标表示；最小下标为l，即从1开始，最大下标为31。 使用Visual Basic控制结构中的选择控制结构，利用数组对^ 、X和M的值进行筛选。其中，单行条件语句，其格式如下 If条件Thenthen部分 该语句的功能是如果"条件"为True,则执行"then部分"，否则执行"else部分本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种绝对式双参数涡流检测方法的改进，其特征是，包括检测步骤：ａ．把被测工件的半径ａ、真空磁导率μ０：４π×１０－７Ｈ／ｍ值输入Ｌａｂｖｉｅｗ程序初始界面；ｂ．把被测工件放入双参数涡流检测传感器的工作线圈中；ｃ．通过双参数涡流检测传感器把测得的相位值φ和两处电压值Ｅ０、Ｅ２经检测电路Ｌａｂｖｉｅｗ输入电脑中的使用ＶＢ中的数组功能的Ｌａｂｖｉｅｗ程序中；ｄ．根据Ｌａｂｖｉｅｗ程序，把测得的相位值φ与φ１进行比较，如果φ大于φ１，则不输出任何数据，并继续与φ２比较，以此类推；直到当φｉ大于φ１时，则输出φｉ与φ（ｉ－１），同时把与之相对应的Ｘｉ、Ｘ（ｉ－１）、Ｍｉ、Ｍ（ｉ－１）输出，并把φ，φｉ与φ（ｉ－１）和比较得到的Ｘｉ、Ｘ（ｉ－１）、Ｍｉ、Ｍ（ｉ－１）这７个对应数据显示在ＶＢ的窗口界面上；ｅ．相位值φ、Ｘ和Ｍ的上、下边界值的数据传回给Ｌａｂｖｉｅｗ的程序中进行计算，把Ｘ和Ｍ的计算值，进一步通过公式：μ↓［γ］＝Ｅ↓［２］／Ｅ↓［９］.η.Ｍ（１）和σ＝Ｘ↑［２］／２πα↑［２］μ↓［０］μ↓［γ］ｆ（２），算出磁导率μ↓［γ］和电导率σ；把Ｘ１Ｘ２Ｍ１Ｍ２四个值传输到Ｌａｂｖｉｅｗ中进行计算得出μ↓［ｒ］和σ，判断合格与否；ｆ．通过ＰＬＣ控制后进入通过机构和剔除机构。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王敏杰，董淳辰，毛毅龙，
申请(专利权)人：上海工程技术大学，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]