用于数据分析的相关性分析方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及用于数据分析的相关性分析方法及装置，其中方法包括：获取多个测试波形数据；解释多个测试波形数据，把每一个测试波形数据分割为多个分段；对每一个测试波形数据，分段判断测试波形数据是否合格；基于参考波形数据，对每一个测试波形数据，分段计算测试波形数据和参考波形数据之间的相关性系数，判断所述测试波形数据和所述参考波形数据是否具有相关性。实现对采集到的电压波形进行自动化分析和处理，判定波形是否合格，进行相关性判断，达到判断测试波形与参考波形相似性的技术效果。效果。效果。

【技术实现步骤摘要】
用于数据分析的相关性分析方法及装置


[0001]本专利技术属于测试
，特别涉及用于数据分析的相关性分析方法及装置。

技术介绍

[0002]在测试领域常常需要对电路板的待测电压点进行电压采样和与参考的波形进行相识度分析，用以判断被采样电压点是否符合设计要求，在实际的采样中，存在毛刺和干扰等多种因素，导致采集到的电压波形不符合预期，而且常常需要逐个对波形进行分段比较，处理过程繁琐耗时，容易出现差错。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供用于数据分析的相关性分析方法及装置，旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。本专利技术提出的用于数据分析的相关性分析方法及装置，可以实现对采集到的电压波形进行自动化分析和处理，判定波形是否合格，对采集到的电压波形与参考波形进行相关性判断，达到判断测试波形与参考波形相似性的技术效果。
[0004]本专利技术的技术方案涉及用于数据分析的相关性分析方法及装置，所述方法包括以下步骤：
[0005]S100、获取多个测试波形数据；
[0006]S200、解释多个测试波形数据，把每一个测试波形数据分割为多个分段；
[0007]S300、对每一个测试波形数据，分段判断测试波形数据是否合格；
[0008]S400、基于参考波形数据，对每一个测试波形数据，分段计算测试波形数据和参考波形数据之间的相关性系数，判断所述测试波形数据和所述参考波形数据是否具有相关性。
[0009]进一步，所述步骤S200包括：
[0010]S210、对每一个测试波形数据分为稳定段和非稳定段；
[0011]S220、对测试波形数据，分别获取各个稳定段和非稳定段的分段参数；
[0012]S230、判断测试波形数据是否合格。
[0013]进一步，所述分段参数包括稳定段的参数和非稳定段的参数，
[0014]所述稳定段的参数包括稳定段开始时间、稳定段时长、稳定段电压开始值、稳定段电压结束值、稳定段电压平均值和稳定段电压值的范围；
[0015]所述非稳定段的参数包括非稳定段开始时间、非稳定段时长、非稳定段电压开始值、非稳定段电压结束值和非稳定段电压平均值和非稳定段电压值的范围。
[0016]进一步，所述稳定段参数还包括稳定段电压最大阈值和稳定段电压最小阈值，所述稳定段电压平均值处于所述稳定段电压最大阈值和所述稳定段电压最小阈值之间；
[0017]所述非稳定段参数还包括非稳定段电压开始值的最大阈值、非稳定段电压开始值的最小阈值、非稳定段电压结束值的最大阈值和非稳定段电压结束值的最小阈值。
[0018]进一步，若测试波形数据在某一段为稳定段，所述稳定段电压平均值处于稳定段
电压最大阈值和稳定段电压最小阈值的范围内，测试波形数据在这一段合格；
[0019]若测试波形数据在某一段为非稳定段，所述非稳定段电压开始值处于非稳定段电压开始值的最大阈值和非稳定段电压开始值的最小阈值之间，且非稳定段电压结束值处于非稳定段电压结束值的最大阈值和非稳定段电压结束值的最小阈值之间，测试波形数据在这一段合格。
[0020]进一步，所述步骤S400包括：
[0021]若测试波形数据和参考波形数据某一段的相关性系数大于等于预设值时，所述测试波形数据和所述参考波形数据在这一段相关；
[0022]若测试波形数据和参考波形数据某一段的相关性系数小于预设值时，所述测试波形数据和所述参考波形数据在这一段不相关；
[0023]若测试波形数据和参考波形数据每一段的相关性系数均大于等于预设值时，所述测试波形数据和所述参考波形数据相关。
[0024]进一步，所述预设值大于0.8且小于等于1。
[0025]进一步，所述测试波形数据为方波。
[0026]本专利技术还提出一种用于数据分析的相关性分析装置，用于实现用于数据分析的相关性分析方法，所述装置包括：
[0027]波形获取装置，用于测试波形数据；
[0028]波形处理装置，用于对测试波形数据进行分段、判断测试波形数据是否合格、分段计算测试波形数据和参考波形数据的相关系数，所述波形处理装置与波形获取装置连接；
[0029]存储装置，用于存储测试波形数据和参考波形数据、波形处理装置的处理结果，所述存储装置与波形处理装置连接。
[0030]本专利技术还提出一种计算机可读存储介质，其上储存有程序指令，所述程序指令被处理器执行时实施用于数据分析的相关性分析方法。
[0031]根据本专利技术的一些实施例，本专利技术的有益效果如下：
[0032]本专利技术提出的用于数据分析的相关性分析方法及装置，可以实现对采集到的电压波形进行自动化分析和处理，判定波形是否合格，对采集到的电压波形与参考波形进行相关性判断，达到判断测试波形与参考波形相似性的技术效果。
[0033]此外，本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
附图说明
[0034]图1是根据本专利技术的用于数据分析的相关性分析方法的流程图。
[0035]图2是根据本专利技术的用于数据分析的相关性分析方法的分段检查的流程图。
[0036]图3是根据本专利技术的用于数据分析的相关性分析装置的示意图。
[0037]图4是根据本专利技术的用于数据分析的相关性分析方法的判断测试波形数据的示意图。
[0038]图5是根据本专利技术的用于数据分析的相关性分析方法的测试波形数据增加最小阈值和最大阈值后的示意图。
[0039]图6是根据本专利技术的用于数据分析的相关性分析方法的上升沿映射的示意图。
[0040]图7是根据本专利技术的用于数据分析的相关性分析方法的下降沿映射的示意图。
[0041]图8是根据本专利技术的用于数据分析的相关性分析方法的台阶检测的示意图。
具体实施方式
[0042]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0043]以下将结合实施例和附图对本专利技术的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整的描述，以充分地理解本专利技术的目的、方案和效果。
[0044]需要说明的是，如无特殊说明，当某一特征被称为“固定”、“连接”在另一个特征，它可以直接固定、连接在另一个特征上，也可以间接地固定、连接在另一个特征上。本文所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。此外，除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与本
的技术人员通常理解的含义相同。本文说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例，而不是为了限制本专利技术。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数据处理方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：S100、获取多个测试波形数据；S200、解释多个测试波形数据，把每一个测试波形数据分割为多个分段；S300、对每一个测试波形数据，分段判断测试波形数据是否合格；S400、基于参考波形数据，对每一个测试波形数据，分段计算测试波形数据和参考波形数据之间的相关性系数，判断所述测试波形数据和所述参考波形数据是否具有相关性。2.根据权利要求1所述的数据处理方法，其特征在于，所述步骤S200包括：S210、对每一个测试波形数据分为稳定段和非稳定段；S220、对测试波形数据，分别获取各个稳定段和非稳定段的分段参数；S230、判断测试波形数据是否合格。3.根据权利要求2所述的数据处理方法，其特征在于，所述分段参数包括稳定段的参数和非稳定段的参数，所述稳定段的参数包括稳定段开始时间、稳定段时长、稳定段电压开始值、稳定段电压结束值、稳定段电压平均值和稳定段电压值的范围；所述非稳定段的参数包括非稳定段开始时间、非稳定段时长、非稳定段电压开始值、非稳定段电压结束值和非稳定段电压平均值和非稳定段电压值的范围。4.根据权利要求3所述的数据处理方法，其特征在于，所述稳定段参数还包括稳定段电压最大阈值和稳定段电压最小阈值，所述稳定段电压平均值处于所述稳定段电压最大阈值和所述稳定段电压最小阈值之间；所述非稳定段参数还包括非稳定段电压开始值的最大阈值、非稳定段电压开始值的最小阈值、非稳定段电压结束值的最大阈值和非稳定段电压结束值的最小阈值。5.根据权利要求4所述的数据处理方法，其特征在于，若测试波形数据在某一段为稳定段，所述稳定段电压平均值处于稳定段电压最...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘聪，黄金辉，李彦慧，王磊，孙博，
申请(专利权)人：珠海精实测控技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：