Zeta电位测量方法以及测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术通过根据流动电位的经时变化进行平衡值预测，以提供一种具有可再现的高可靠性、高精度的Zeta电位的测量方法以及测量装置。在使用流动电位法测量试样表面的Zeta电位时，以阶梯式改变外部压力，设置压力变化曲线，该压力变化曲线具有上升阶段或下降阶段，其时间短于随外部压力变化而发生的流动电位变化响应所需的松弛时间τ；以及稳定阶段，其中压力保持在稳定状态的时间长于松弛时间τ。然后，利用从压力变化曲线生成的流动电位的瞬态响应回归估计的流动电位渐近值来计算Zeta电位。位。位。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】Zeta电位测量方法以及测量装置


[0001]本专利技术涉及一种用于测量与介质接触的固体表面的Zeta电位的方法和用于该测量该电位的装置。

技术介绍

[0002]当固体表面与以水或各种有机溶剂为介质、以及溶解有各种盐类作为离子性解离物质的液体接触时，离子物种吸附在固体表面，由此产生表面电位。可以用双电层模型来表示此时离子物种的分布状态。已知的双电层模型结构有被称为斯特恩模型结构，是由吸附离子与固体表面接触的固定层和位于其外侧的扩散层构成。在固液界面产生的表面电位作为在固定层和扩散层的界面处存在的斯特恩面的略外侧的滑移面上的Zeta电位来测量。由于Zeta电位的变化灵敏地反映了各种固体表面的物理和化学性质，因此它在分析固体表面的物理和化学性质方面发挥着非常有用的作用。特别是，它已被用作评价胶体分散
·
聚集性、相互作用和表面改质的指标。
[0003]电泳法等主要用于测量液体中以相对稳定的分散状态存在的胶体等分散粒子表面的Zeta电位。但在致密体系、粗颗粒、纤维物质或扁平样品中无法使用电泳法测定Zeta电位的情况下，则采用流本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种Zeta电位测量方法，其特征在于，采用流动电位法测量试样表面的Zeta电位，该方法包括：以阶梯式改变外部压力；设置压力变化曲线，其中，该压力变化曲线具有上升阶段或下降阶段，其时间短于响应伴随外部压力变化引起的流动电位的变化所需的松弛时间τ，以及稳定阶段，压力保持在稳定状态的时间长于所述松弛时间τ；利用从所述压力变化曲线生成的所述流动电位的瞬态响应回归估计的所述流动电位的渐近值来计算所述Zeta电位。2.根据权利要求1所述的Zeta电位测量方法，其特征在于，所述压力变化曲线具有至少两个步长，对于所述松弛时间τ满足0＜t1＜τ和τ＜t2＜10τ，其中，t1为所述上升阶段或下降阶段的时间，t2为保持所述稳定阶段的时间。3.根据权利要求1或2所述的Zeta电位测量方法，其特征在于，所述稳定阶段中的压力变化幅度抑制在相对于中心值
±
5％的范围内。4.根据权利要求1～3中任一项所述的Zeta电位测量方法，其特征在于，所述流动电位的瞬态响应通过使用指数函数的最小二乘法来近似，并且使用无限时间的流动电位的估计值来计算Zeta电位。5.一种Zeta电位测量装置，其特征在于，使用外部压力与流动电位的关系来测量试样表面的Zeta电位，该装置包括：压力调整部，其以阶梯式改变外部压力；和Zeta...

【专利技术属性】
技术研发人员：水畑穣，冈江功弥，
申请(专利权)人：株式会社村田制作所，
类型：发明
国别省市：