数控机床量测方法、数控机床及计算机可读存储介质技术

本发明专利技术公开一种数控机床量测方法、数控机床及计算机可读存储介质，数控机床量测方法包括以下步骤：将一夹头与数控机床连接，并通过夹头夹持一显微镜；将一待测量结构放置于数控机床上；待测量结构包括第一侧边和第二侧边；数控机床带动夹头及显微镜移动，直至显微镜的基准与第一侧边相切时记录显微镜的坐标为第一坐标；数控机床带动夹头及显微镜移动，直至显微镜的基准与第二侧边相切时记录显微镜的坐标为第二坐标；根据第一坐标和第二坐标计算得出第一侧边与第二侧边之间的实际距离。本发明专利技术的数控机床量测方法中，通过设置夹头夹持显微镜，数控机床带动显微镜移动进行测量，可以实现测量尺寸较小的台阶面的尺寸。实现测量尺寸较小的台阶面的尺寸。实现测量尺寸较小的台阶面的尺寸。

【技术实现步骤摘要】
数控机床量测方法、数控机床及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及数控机床领域，具体涉及一种数控机床量测方法、数控机床及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]目前，在数控机床加工过程中，需要对已加工结构的尺寸进行测量，以保证已加工结构的品质。现有技术中，数控机床大多通过探头进行测量尺寸，但是由于探头的直径较大，使得探头难以测量尺寸较小的台阶面的尺寸，需要将已加工结构从数控机床卸下，送入其他结构检测。若尺寸偏差过大，又需将已加工结构返回数控机床上返修加工，导致延长加工周期。

技术实现思路

[0003]本专利技术的主要目的是提供一种数控机床量测方法、数控机床及计算机可读存储介质，以解决传统探头量测难以测量尺寸较小的台阶面的尺寸导致延长加工周期的问题。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提出的数控机床量测方法包括以下步骤：
[0005]将一夹头与数控机床连接，并通过所述夹头夹持一显微镜；
[0006]将一待测量结构放置于所述数控机床上；所述待测量结构包括第一侧边和第二侧边；
[0007]所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜移动，直至所述显微镜的基准与所述第一侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第一坐标；
[0008]所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜移动，直至所述显微镜的基准与所述第二侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第二坐标；
[0009]根据所述第一坐标和所述第二坐标计算得出所述第一侧边与所述第二侧边之间的实际距离。
[0010]优选地，所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜移动，直至所述显微镜的基准与所述第一侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第一坐标的步骤包括：
[0011]所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜沿竖直方向移动，直至所述显微镜与所述待测量结构之间的距离在预设安全距离内；
[0012]所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜沿水平方向移动，直至所述显微镜的基准与所述第一侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第一坐标。
[0013]优选地，所述将一待测量结构放置于所述数控机床上；所述待测量结构包括第一侧边和第二侧边的步骤包括：
[0014]在所述第一侧边标记多个第一待测点位，并在所述第二侧边标记多个第二待测点位，其中，多个所述第二待测点位与多个所述第一待测点位数量一致且一一对应设置；
[0015]所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜移动，直至所述显微镜的基准与所述第一侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第一坐标的步骤包括：
[0016]所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜多次移动，使所述显微镜的基准分别与所述第一侧边的多个所述第一待测点位相切，并记录与各所述第一待测点位相切时所述显微镜的坐标为所述第一坐标；
[0017]所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜移动，直至所述显微镜的基准与所述第二侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第二坐标的步骤包括：
[0018]所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜多次移动，使所述显微镜的基准分别与所述第二侧边的多个所述第二待测点位相切，并记录与各所述第二待测点位相切时所述显微镜的坐标为所述第二坐标；
[0019]所述根据所述第一坐标和所述第二坐标计算得出所述第一侧边与所述第二侧边之间的实际距离的步骤包括：
[0020]分别根据各所述第一坐标和对应的所述第二坐标计算得出所述第一待测点位与对应的所述第二待测点位之间的测量距离，以获得多个所述测量距离；
[0021]计算多个所述测量距离的平均值；
[0022]将多个所述测量距离的平均值作为所述第一侧边与所述第二侧边之间的所述实际距离。
[0023]优选地，所述第一侧边与所述第二侧边之间具有预设距离；
[0024]所述根据所述第一坐标和所述第二坐标计算得出所述第一侧边与所述第二侧边之间的实际距离的步骤之后，还包括：
[0025]将所述第一侧边与所述第二侧边之间的所述实际距离与所述预设距离进行比对；
[0026]根据比对结果判定所述数控机床是否需要对所述待测量结构进行修正。
[0027]优选地，所述根据比对结果判定所述数控机床是否需要对所述待测量结构进行修正的步骤，包括：
[0028]若所述实际距离与所述预设距离之间的差值位于公差范围外，则判定所述数控机床需要对所述待测量结构进行修正；
[0029]控制所述数控机床对所述待测量结构进行修正加工。
[0030]优选地，所述控制所述数控机床对所述待测量结构进行修正加工的步骤之后，还包括：
[0031]获取修正加工后所述第一侧边与所述第二侧边之间的所述实际距离；
[0032]将修正加工后所述第一侧边与所述第二侧边之间的所述实际距离与所述预设距离进行比对；
[0033]若修正加工后的所述实际距离与所述预设距离之间的差值位于公差范围外，返回执行所述控制数控机床对待测量结构进行修正加工的步骤，直至所述实际距离与所述预设距离之间的差值位于公差范围内。
[0034]优选地，所述数控机床包括刀柄以及可拆卸安装于刀柄上的刀头；
[0035]所述将一夹头与数控机床连接，并通过所述夹头夹持一显微镜的步骤之前，还包括：
[0036]将所述刀头从所述刀柄上拆下；
[0037]并将所述夹头的一端与所述刀柄连接；
[0038]校准所述夹头，以使所述夹头远离所述刀柄一端的端面保持水平。
[0039]优选地，所述夹头的两端分别为固定端和夹持端，所述夹持端用于夹持所述显微镜；所述固定端与所述刀柄之间设置有转接块，所述转接块的两端分别为第一端和第二端，所述第一端与所述刀柄连接，所述第二端与所述夹头的形状相匹配且与所述夹头连接。
[0040]另外，本专利技术还提供一种数控机床，所述数控机床包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的数控机床量测的控制程序，所述数控机床量测的控制程序被所述处理器执行时实现如上所述的数控机床量测方法的步骤。
[0041]并且，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有数控机床量测的控制程序，所述数控机床量测的控制程序被处理器执行时实现如上所述的数控机床量测方法的步骤。
[0042]本专利技术技术方案中，将夹头与数控机床连接，并通过夹头夹持显微镜，以实现显微镜的安装和固定，显微镜方便观察并记录待测量结构。数控机床与夹头连接，数控机床带动夹头移动；夹头与显微镜连接，夹头带动显微镜移动，直至显微镜的基准与第一侧边相切时，记录显微镜的坐标为第一坐标。记录显微镜的第一坐标后，数控机床再次带动夹头移动，夹头带动显微镜移动，直至显微镜的基准与第二侧边相切时，记录显微镜的坐标为第二坐标。根据第一坐标和第二坐标的坐标值进行计算，可以得出第一侧边与第二侧边之间的距离。本专利技术的数控机床量测方法中，通过设置夹头夹持显微镜，数控机床带动显微镜移动进行测量，可以实现测量尺寸较小的台阶面的尺寸。并且，待测量结构经数控机床加工本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数控机床量测方法，其特征在于，所述数控机床量测方法包括以下步骤：将一夹头与数控机床连接，并通过所述夹头夹持一显微镜；将一待测量结构放置于所述数控机床上；所述待测量结构包括第一侧边和第二侧边；所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜移动，直至所述显微镜的基准与所述第一侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第一坐标；所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜移动，直至所述显微镜的基准与所述第二侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第二坐标；根据所述第一坐标和所述第二坐标计算得出所述第一侧边与所述第二侧边之间的实际距离。2.如权利要求1所述的数控机床量测方法，其特征在于，所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜移动，直至所述显微镜的基准与所述第一侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第一坐标的步骤包括：所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜沿竖直方向移动，直至所述显微镜与所述待测量结构之间的距离在预设安全距离内；所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜沿水平方向移动，直至所述显微镜的基准与所述第一侧边相切时记录所述显微镜的坐标为所述第一坐标。3.如权利要求1所述的数控机床量测方法，其特征在于，所述将一待测量结构放置于所述数控机床上；所述待测量结构包括第一侧边和第二侧边的步骤包括：在所述第一侧边标记多个第一待测点位，并在所述第二侧边标记多个第二待测点位，其中，多个所述第二待测点位与多个所述第一待测点位数量一致且一一对应设置；所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜移动，直至所述显微镜的基准与所述第一侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第一坐标的步骤包括：所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜多次移动，使所述显微镜的基准分别与所述第一侧边的多个所述第一待测点位相切，并记录与各所述第一待测点位相切时所述显微镜的坐标为所述第一坐标；所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜移动，直至所述显微镜的基准与所述第二侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第二坐标的步骤包括：所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜多次移动，使所述显微镜的基准分别与所述第二侧边的多个所述第二待测点位相切，并记录与各所述第二待测点位相切时所述显微镜的坐标为所述第二坐标；所述根据所述第一坐标和所述第二坐标计算得出所述第一侧边与所述第二侧边之间的实际距离的步骤包括：分别根据各所述第一坐标和对应的所述第二坐标计算得出所述第一待测点位与对应的所述第二待测点位之间的测量距离，以获得多个所述测量距离；计算多个所述测量距离的平均值；将多个所述测量距离的平均值作为所述第一侧边与所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡凡，吴易平，潘庆振，韩国强，张燕明，商腾飞，宋维昌，
申请(专利权)人：歌尔股份有限公司，
类型：发明
国别省市：