一种PCB板抗腐蚀性检测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种PCB板抗腐蚀性检测系统，涉及PCB板检测技术领域，解决了检测数值并不精准以及检测全面性不够的技术问题，对应的PCB板在进行正常检测过程中，其原始的检测电流一般不会进行波动，但当PCB板在进行正常检验过程中，其检测电流会发生剧烈波动，那么其对应的方差参数便会变大，以刚开始平稳阶段的电流方差值作为后一阶段的标准值，便可对所出现的异常点位进行及时确定，提升PCB板抗腐蚀检测过程中的准确度，并且能快速及时的发现异常，通过采用信号传输的方式，来确定此信号在传输过程中，是否会自行产生噪声，通过再次分析传输波形的方式，从而提升本检测系统的全面性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
一种PCB板抗腐蚀性检测系统


[0001]本专利技术属于PCB板检测
，具体是一种PCB板抗腐蚀性检测系统。

技术介绍

[0002]PCB板又名电路板，其名称有：陶瓷电路板，氧化铝陶瓷电路板，氮化铝陶瓷电路板，线路板，PCB板，铝基板，高频板，厚铜板，阻抗板，PCB，超薄线路板，超薄电路板，印刷（铜刻蚀技术）电路板等；专利公开号为CN116026753B的申请提供了一种PCB板抗腐蚀性检测工艺及检测设备。该检测设备包括压力箱、密封水槽和盐雾箱，压力箱固定在密封水槽的一端，盐雾箱固定在密封水槽的顶部，盐雾箱内设有总管，盐雾箱内的长度方向上设有若干处滚筒，盐雾箱内设有滚动于滚筒上方的移载盘，移载盘的中部开设有直线槽，通过直线槽将移载盘分割成前后两处培育单元，两培育单元对称设置于直线槽的两侧，两培育单元内各设有一处培育组件，通过左右移动的方式，可使测试面的每一个区域都能有机会与喷头直接照面，以此使PCB板的测试面能够在极短的时间内均匀地弥漫上一层腐蚀液，因此将移载盘设置成左右移动的方式，可提高腐蚀液在PCB板测试面上培育腐蚀层的工作效率。
[0003]PCB板在进行抗腐蚀性检测过程中，一般采用对应的腐蚀液进行涂抹，在一段时间后，进行画面监测，并确定对应的画面是否异常，但此种方式，其处理效果虽然明显，但不能及时分析出临界点，其数值并不精准，同时，在分析过程中，PCB板表面未发生变化，内部构件已经被腐蚀，但此种情况并不能及时得知以及了解，从而导致检测过程中的全面性并不够。

技术实现思路

[0004]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一；为此，本专利技术提出了一种PCB板抗腐蚀性检测系统，用于解决检测数值并不精准以及检测全面性不够的技术问题。
[0005]为实现上述目的，根据本专利技术的第一方面的实施例提出一种PCB板抗腐蚀性检测系统，包括：初步识别端，对PCB板的表面图像进行确认，并将表面图像与初始的标准图像进行比对，根据比对结果，判定对应的PCB板是否存在异常情况，若存在，则通过信号生成端生成对应的异常信号，反之，则将正常的PCB板传输至检测中心内进行检测；检测中心，对正常的PCB板采用电化学反应的方式，对其进行抗腐蚀检测，将正常的PCB板作为工作电极，与参比电极和计数电极连接，浸泡在含有电解液的电池中，在所构建的整个测试电路内，输入测试电流，进行初步检测；初步评定端，根据初步检测过程中所产生的检测电流，实时构建时间电流曲线，后续，通过分析此时间电流曲线的具体走向，确定出此正常PCB板处于异常的点位，并停止检测，并生成异常检测信号，具体方式为：S1、按照时间走向以及不同时间点所对应的检测电流，以时间数值为横向坐标轴，
以检测电流参数为竖向坐标轴，构建一组二维坐标系，并按照不同时间点所对应的不同检测电流，在二维坐标系内确定对应的点位；S2、当二维坐标系内部的点位存在三组以上时，则直接对相邻点位的斜率进行确认，并标记为X
k
，其中k代表不同的斜率，且k=1、2、
……
、n，其中斜率=相邻点位竖向坐标参数差
‑
相邻点位横向坐标参数差，其中，坐标参数差为后一点位的坐标参数减去前一点位的坐标参数；S3、再确定若干组斜率的均值，并将其标记为JZ，采用确定若干个点位的方差FC；S4、随后每再多出一个点位，确定对应的方差值，当所确认的方差值小于等于上一次所确认的方差值时，则继续确定后续的点位，若所确认的方差值超出上一次所确认的方差值，那么则暂停检测，并生成异常检测信号，并将异常检测信号传输至构件检测端内；构件检测端，根据异常检测信号，再次获取对应PCB板的表面图像，将所获取的表面图像与初始的标准图像进行比对，并确定对应的重合度参数，再将所确定的重合度参数与预设参数进行比对，确定对应PCB板表面是否异常；针对于PCB板表面检测无误时，对PCB板采用信号传输测试的方式，判定PCB板内部的工作器件是否处于正常工作状态；具体方式为：随机生成一组测试信号，并通过指定的测试电路以及对应的PCB板进行信号传输，并在传输过程中，确定传输波形；对传输波形内所出现的波动点进行确认，将传输波形的初始点位标记为第一波动点，随后再对后续的波动点进行一一确认，其中，每组波动点前后线段的趋势参呈相反状，将所确定的波动点进行一一标记，分别标记为B
t
，其中t代表不同的波动点，且t=1、2、
……
、m；优先确定相邻点位之间的信号波动值，再将两组信号波动值进行差值处理，得到一组限定差值，随后，对相邻两个点位之间的斜率进行确定，从传输波形内，选定限定差值的最大值Cmax以及最小值Cmin，选定斜率的最大值Lmax以及最小值Lmin；采用得到对应传输波形的标准区间[Bmin，Bmax]，其中A1以及A2均为预设的固定系数因子，其具体取值由操作人员根据经验拟定；将标准区间[Bmin，Bmax]与预设区间进行比对，当标准区间∈预设区间时，则重新执行检测中心，对PCB板再次进行电流检测，并以此标准区间作为后续的预设区间，若标准区间
∉
预设区间，则通过信号生成端生成构建工作异常信号，并展示于外部显示端内，供外部人员进行查看。
[0006]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：对应的PCB板在进行正常检测过程中，其原始的检测电流一般不会进行波动，但当PCB板在进行正常检验过程中，出现异常时，其检测电流会发生剧烈波动，那么其对应的方差参数便会变大，以刚开始平稳阶段的电流方差值作为后一阶段的标准值，再一一进行确认，便可对所出现的异常点位进行及时确定，提升
PCB板抗腐蚀检测过程中的准确度，并且能快速及时的发现异常，并进行展示；通过采用信号传输的方式，来确定此信号在传输过程中，是否会自行产生噪声，从而导致本传输信号在传输时，自身的质量变差，从而影响后续的使用，故，通过再次分析传输波形的方式，便可对此种情况进行充分确定，从而提升本检测系统的全面性，不仅能对PCB板的抗腐蚀进行充分检测，还能对后续PCB板可能出现的构件问题进行确认，提升检测过程中的全面性。
附图说明
[0007]图1为本专利技术原理框图。
具体实施方式
[0008]下面将结合实施例对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0009]请参阅图1，本申请提供了一种PCB板抗腐蚀性检测系统，包括初步识别端、检测中心、初步评定端、信号生成端以及构件检测端，其中初步识别端分别与检测中心和信号生成端输入节点电性连接，所述检测中心与初步评定端输入节点电性连接，所述初步评定端分别与信号生成端以及构件检测端输入节点电性连接，所述构件检测端与信号生成端输入节点电性连接；所述初步识别端，对PCB板的表面图像进行确认，并将表面图像与初始的标准图像进行比对，根据比对结果，判定对应的PCB板是否存在异常情况，若存在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种PCB板抗腐蚀性检测系统，其特征在于，包括：初步识别端，对PCB板的表面图像进行确认，并将表面图像与初始的标准图像进行比对，根据比对结果，判定对应的PCB板是否存在异常情况，若存在，则通过信号生成端生成对应的异常信号，反之，则将正常的PCB板传输至检测中心内进行检测；检测中心，对正常的PCB板采用电化学反应的方式，对其进行抗腐蚀检测，将正常的PCB板作为工作电极，与参比电极和计数电极连接，浸泡在含有电解液的电池中，在所构建的整个测试电路内，输入测试电流，进行初步检测；初步评定端，根据初步检测过程中所产生的检测电流，实时构建时间电流曲线，后续，通过分析此时间电流曲线的具体走向，确定出此正常PCB板处于异常的点位，并停止检测，并生成异常检测信号；构件检测端，根据异常检测信号，再次获取对应PCB板的表面图像，将所获取的表面图像与初始的标准图像进行比对，并确定对应的重合度参数，再将所确定的重合度参数与预设参数进行比对，确定对应PCB板表面是否异常。2.根据权利要求1所述的一种PCB板抗腐蚀性检测系统，其特征在于，所述初步识别端，将表面图像与初始的标准图像进行比对的具体方式为：将表面图像与初始的标准图像进行比对，并确定对应的比对相似度BD
i
，其中i代表不同的PCB板；再将比对相似度BD
i
与预设参数Y1进行比对，其中Y1为预设值；当比对相似度BD
i
满足：BD
i
≥Y1，若满足，将此PCB板标记为正常PCB板，若不满足，则通过信号生成端生成对应的异常信号，并进行展示。3.根据权利要求1所述的一种PCB板抗腐蚀性检测系统，其特征在于，所述初步评定端，确定出异常点位的具体方式为：S1、按照时间走向以及不同时间点所对应的检测电流，以时间数值为横向坐标轴，以检测电流参数为竖向坐标轴，构建一组二维坐标系，并按照不同时间点所对应的不同检测电流，在二维坐标系内确定对应的点位；S2、当二维坐标系内部的点位存在三组以上时，则直接对相邻点位的斜率进行确认，并标记为X
k
，其中k代表不同的斜率，且k=1、2、
……
、n，其中斜率=相邻点位竖向坐标参数差
‑
相邻点位横向坐标参数差，其中，坐标参数差为后一点位的坐标参数减去...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡安华，谭耀华，
申请(专利权)人：江苏乔科科技有限公司，
类型：发明
国别省市：