一种用于电学器件研究的光电子能谱仪原位电场样品托及其使用方法技术

技术编号:39241946 阅读:23 留言:0更新日期:2023-10-30 11:54
本发明专利技术公开了一种用于电学器件研究的光电子能谱仪原位电场样品托及其使用方法,其中样品托包括:基座、电极组件和电极导入插孔,所述基座安装于光电子能谱仪上,所述电极组件设于基座内,所述电极组件包括一对电极极板和一对电极,每个所述电极安装于对应的所述电极极板上,所述电极之间形成电学器件安装位;所述电极导入插孔设于基座的侧边,通过电极导入插孔电连接电极,电学器件设于电极之间,使得光电子能谱仪的分析腔室内样品架的电极触点的一端与电极导入插孔连接,分析腔室内样品架的电极触点的另一端连接外置设备,通过外置设备导通电学器件,从而实现了对电学器件的原位实时光电子能谱测试。时光电子能谱测试。时光电子能谱测试。

【技术实现步骤摘要】
一种用于电学器件研究的光电子能谱仪原位电场样品托及其使用方法


[0001]本专利技术属于光电子能谱检测
,尤其涉及一种用于电学器件研究的光电子能谱仪原位电场样品托及其使用方法。

技术介绍

[0002]为了达成“双碳”目标,新能源器件的研究成了热点,新能源器件包括固态锂离子电池、太阳能电池、二极管、电容器等电学器件,这些电学器件在能量转化和储能领域具有广阔的应用前景。
[0003]光电子能谱可提供材料表面(深度小于10nm)的化学组成、化学状态和电子结构信息,是研究材料化学状态和电子结构变化的有力技术,光电子能谱仪由超高真空系统、激发光源、电子能量分析器、检测器和数据采集与处理系统以及其它附件等组成。其工作流程为:(1)将待测样品放在样品托上,将样品托放置于光电子能谱仪中;(2)由激发光源发出的具有一定能量的X射线或紫外光作用于样品表面,将样品表面原子中不同能级的电子激发出来,产生光电子和俄歇电子等特征信号;(3)电子能量分析器和检测器对步骤2产生的光电子进行检测和收集;(4)数据处理系统记录不同能量的光电子数目,计算得到光电子信号本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电学器件研究的光电子能谱仪原位电场样品托,其特征在于,包括:基座(11),所述基座(11)安装于光电子能谱仪上;电极组件(12),所述电极组件(12)设于基座(11)内,所述电极组件(12)包括一对电极极板(121)和一对电极(122),每个所述电极(122)安装于对应的所述电极极板(121)上,所述电极(122)相对设置,所述电极(122)之间形成电学器件安装位(c);电极导入插孔(13),所述电极导入插孔(13)设于基座(11)的侧边,且所述电极导入插孔(13)电连接所述电极(122)。2.根据权利要求1所述的用于电学器件研究的光电子能谱仪原位电场样品托,其特征在于,所述一对电极极板(121)包括电极A极板(1211)和电极B极板(1212),所述一对电极(122)包括电极A(1221)和电极B(1222),所述电极导入插孔(13)包括电极A导入插孔(131)和电极B导入插孔(132),所述电极A(1221)对应设置于电极A极板(1211)上,所述电极B(1222)对应设置于电极B极板(1212)上,所述电极A导入插孔(131)和所述电极B导入插孔(132)并排设于基座(11)的同一侧,所述电极A导入插孔(131)电连接电极A(1221),所述电极B导入插孔(132)电连接电极B(1222)。3.根据权利要求2所述的用于电学器件研究的光电子能谱仪原位电场样品托,其特征在于,所述电极B极板(1212)上设置有金属片(14)、绝缘薄片(15)、接线螺钉(16)和导线(17),所述金属片(14)、所述绝缘薄片(15)和电极B极板(1212)上均设有通孔(123),所述接线螺钉(16)穿入所述金属片(14)、所述绝缘薄片(15)和电极B极板(1212)的通孔(123)内,所述绝缘薄片(15)位于所述金属片(14)和电极B极板(...

【专利技术属性】
技术研发人员:谢方艳洪才浩杨洋寿林杨慕紫陈建龚力
申请(专利权)人:北京玉研精密仪器有限公司北京瑞迪艾特科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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