导联脱落检测的校正电路、检测电路及检测方法技术

本申请公开了一种导联脱落检测的校正电路、导联脱落检测电路及检测方法、心电监测电路。该导联脱落检测的校正电路至少包括：检测信号发生电路，用于产生阻抗检测信号；一导联，分别与目标检测体及检测信号发生电路连接，用于将阻抗检测信号传送至目标检测体，以对目标检测体进行阻抗检测；另一导联，与目标检测体连接，用于获取目标检测体的反馈信号；控制电路，分别与检测信号发生电路及另一导联连接，用于控制检测信号发生电路产生阻抗检测信号，及基于反馈信号获取第一校正参数，并利用第一校正参数调节脱落检测电路的输入阻抗，能够提高导联脱落检测的精准度。高导联脱落检测的精准度。高导联脱落检测的精准度。

【技术实现步骤摘要】
导联脱落检测的校正电路、检测电路及检测方法


[0001]本申请涉及医疗设备
，特别是涉及一种导联脱落检测的校正电路、导联脱落检测电路及检测方法、心电监测电路。

技术介绍

[0002]在心电信号采集标准中，直流导联脱落检测是一种常见的导联脱落检测方法，其采用导联脱落检测电路实现导联脱落检测，导联脱落检测电路一般在比较器前增加上拉电阻或者输入激励电流，上拉电阻的阻值或者输入激励电流的电流大小为固定值。
[0003]然而，现有的直流导联脱落检测技术普遍存在一个临床痛点：若导联脱落检测电路中的上拉电阻较小，或者激励电流的电流较大时，皮肤阻抗较大的目标检测体可能引发导联脱落的误报，从而导致采集不到心电信号，严重影响医生对病情的诊断；若导联脱落检测电路中的上拉电阻较大，或者激励电流的电流较小时，可能导致导联脱落检测的灵敏度下降。

技术实现思路

[0004]本申请主要解决的技术问题是提供一种导联脱落检测的校正电路、导联脱落检测电路及检测方法、心电监测电路，以提高导联脱落检测的精准度。
[0005]为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种导联脱落检测的校正电路。该导联脱落检测的校正电路至少包括：检测信号发生电路，用于产生阻抗检测信号；一导联，分别与目标检测体及检测信号发生电路连接，用于将阻抗检测信号传送至目标检测体，以对目标检测体进行阻抗检测；另一导联，与目标检测体连接，用于获取目标检测体的反馈信号；控制电路，分别与检测信号发生电路及第二导联连接，用于控制检测信号发生电路产生阻抗检测信号，及基于反馈信号获取第一校正参数，并利用第一校正参数调节脱落检测电路的输入阻抗；其中，脱落检测电路与一导联和/或另一导联连接。
[0006]为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种导联脱落检测的校正电路。该导联脱落检测的校正电路至少包括：检测信号发生电路，用于产生阻抗检测信号；切换电路，与检测信号发生电路；导联网络，包括多个导联，导联分别与切换电路及目标检测体连接；控制电路，分别与检测信号发生电路及切换电路连接，用于控制检测信号发生电路产生阻抗检测信号，且用于控制切换电路选择性将检测信号发生电路与多个导联中的一导联连接，及通过多个导联中的另一导联获取目标检测体的反馈信号；控制电路进一步基于反馈信号获取第一校正参数，并利用第一校正参数调节脱落检测电路的输入阻抗；其中，脱落检测电路与导联连接。
[0007]为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种导联脱落检测电路。该导联脱落检测电路包括：上述校正电路，脱落检测电路，与一导联和/或另一导联连接，用于获取一导联和/或另一导联的输出信号，且与控制电路连接，控制电路基于输出信号确定一导联和/或另一导联是否从目标检测体脱落。
[0008]为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种心电监测电路。该心电监测电路包括：上述导联脱落检测电路；第二滤波电路，分别与测量电路及控制电路连接，用于对反馈信号进行滤波处理，以从反馈信号中获取目标检测体的心电信号，并传输至控制电路。
[0009]为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种导联脱落检测方法。该导联脱落检测方法包括：通过一导联向目标检测体发射阻抗检测信号；通过另一导联从目标检测体接收反馈信号；基于反馈信号获取目标检测体的阻抗值；基于阻抗值获取第一校正参数，并利用第一校正参数调整脱落检测电路的输入阻抗。
[0010]本申请实施例的有益效果是：本申请导联脱落检测的校正电路通过控制电路控制检测信号发生电路产生阻抗检测信号，并通过一导联将阻抗检测信号传送至目标检测体，以对目标检测体进行阻抗检测；接着利用另一导联获取目标检测体的反馈信号，并将反馈信号传递给控制电路，控制电路基于该反馈信号获取第一校正参数，并利用第一校正参数调节脱落检测电路的输入阻抗，以提高目标检测体的阻抗与脱落检测电路的输入阻抗之间的匹配度，能够改善现有技术中，脱落检测电路的上拉电阻较小，或者激励电流的电流较大时，而皮肤阻抗较大引发导联脱落的误报问题，及能够改善脱落检测电路中的上拉电阻较大，或者激励电流的电流较小导致的导联脱落检测的灵敏度下降的问题，因此，本申请能够提高导联脱落检测的精准度。
附图说明
[0011]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0012]图1是本申请导联脱落检测电路一实施例的电路结构示意图；
[0013]图2是本申请导联脱落检测电路一实施例的电路结构示意图；
[0014]图3是本申请导联脱落检测的校正电路一实施例的电路结构示意图；
[0015]图4是本申请导联脱落检测电路一实施例的电路示意图；
[0016]图5是本申请心电监测电路一实施例的电路结构示意图；
[0017]图6是本申请导联脱落检测方法一实施例的流程示意图；
[0018]图7是本申请导联脱落检测方法一实施例的流程示意图；
[0019]图8是本申请导联脱落检测电路一实施例的电路结构示意图。
具体实施方式
[0020]下面结合附图和实施例，对本申请作进一步的详细描述。特别指出的是，以下实施例仅用于说明本申请，但不对本申请的范围进行限定。同样的，以下实施例仅为本申请的部分实施例而非全部实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
[0021]本申请首先提出一种导联脱落检测电路，如图1所示，图1是本申请导联脱落检测电路一实施例的电路结构示意图。本实施例采用上拉电阻R1或者下拉电阻R2实现导联脱落
的监测，输入端INP及输入端INN均与导联连接，当某一个导联从目标检测体脱落时，与这个导联连接的输入端INP，由于上拉电阻R1的作用，会被拉高到AVDD的高电平，经比较器PGA得到高电平，将脱落的导联的状态值置位。这个检测过程，可以由单独的模拟数字转换器(Analog
‑
to
‑
digital converter，ADC)芯片完成，或者由模拟电路配合微控制单元(Micro Controller Unit，MCU)(即后续实施例中的控制电路)与MCU自带的ADC等完成。
[0022]在另一实施例中，如图2所示，图2是本申请导联脱落检测电路一实施例的电路结构示意图。本实施例采用激励电流实现导联脱落的监测，输入端INP及输入端INN均与导联连接，当某一个导联从目标检测体脱落时，与这个导联连接的输入端INP，由于激励电流的作用，会被拉高到AVDD的高电平，经比较器PGA得到高电平，将脱落的导联的状态值置位。这个检测过程，可以由单独的ADC芯片完成，或者由模拟电路配合MCU与MCU自带的ADC等完成。
[0023]如图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种导联脱落检测的校正电路，其特征在于，至少包括：检测信号发生电路，用于产生阻抗检测信号；一导联，分别与目标检测体及所述检测信号发生电路连接，用于将所述阻抗检测信号传送至所述目标检测体，以对所述目标检测体进行阻抗检测；另一导联，与所述目标检测体连接，用于获取所述目标检测体的反馈信号；控制电路，分别与所述检测信号发生电路及所述另一导联连接，用于控制所述检测信号发生电路产生所述阻抗检测信号，及基于所述反馈信号获取第一校正参数，并利用所述第一校正参数调节脱落检测电路的输入阻抗；其中，所述脱落检测电路与所述一导联和/或所述另一导联连接。2.根据权利要求1所述的校正电路，其特征在于，所述检测信号发生电路包括：正弦波发生电路，分别与所述控制电路及所述一导联连接，用于在所述控制电路的控制产生阻抗检测信号，并将所述阻抗检测信号传送给所述一导联。3.根据权利要求2所述的校正电路，其特征在于，所述反馈信号包括所述目标检测体对所述阻抗检测信号的阻抗反馈信号及所述目标检测体的心电反馈信号，所述校正电路进一步包括：第一滤波电路，分别与所述另一导联及所述控制电路连接，用于对所述反馈信号进行滤波处理，以获得所述阻抗反馈信号，所述控制电路基于所述阻抗反馈信号获取所述第一校正参数。4.根据权利要求3所述的校正电路，其特征在于，进一步包括第一增益电路，分别与所述控制电路及所述第一滤波电路连接，用于对所述阻抗反馈信号进行放大，并将放大后的阻抗反馈信号传送给所述控制电路。5.一种导联脱落检测的校正电路，其特征在于，至少包括：检测信号发生电路，用于产生阻抗检测信号；切换电路，与所述检测信号发生电路；导联网络，包括多个导联，所述导联分别与所述切换电路及所述目标检测体连接；控制电路，分别与所述检测信号发生电路及所述切换电路连接，用于控制所述检测信号发生电路产生所述阻抗检测信号，且用于控制所述切换电路选择性将所述检测信号发生电路与所述多个导联中的一导联连接，及通过所述多个导联中的另一导联获取所述目标检...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘定，严彬彬，肖玉华，陈基德，
申请(专利权)人：深圳市理邦精密仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：