本发明专利技术提供一种基于双光谱图像的电力设备部件异常判断方法、装置、设备及计算机可读存储介质，该方法包括：获取待测电力设备可见光图像及待测电力设备热成像图像，两者具有固定的坐标对应关系；获得待测装置可见光图像；基于待测装置可见光图像，确定待测装置中一个或多个待测部件在待测电力设备可见光图像中的位置坐标；基于各待测部件在待测电力设备可见光图像中的位置坐标以及坐标对应关系，获得各待测部件在待测电力设备热成像图像中的位置坐标；基于各待测部件在待测电力设备热成像图像中的位置坐标，确定各部件的温度状态；基于温度状态，判断该待测装置是否异常。这种方法能够节省人力成本，且有效降低定位误差。且有效降低定位误差。且有效降低定位误差。
【技术实现步骤摘要】
电力设备中待测装置异常判断方法、装置、电子设备
[0001]本专利技术涉及图像识别
，特别涉及一种基于双光谱图像的电力设备中待测装置异常判断方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
[0002]电力设备通电后，内部会产生热量，并通过红外辐射扩散到外部。通过专业的红外热像仪，可以测量这些辐射强度，并以热成像图像的形式直观地保存数据。该测量方法也称红外测温法，通常会结合设备外观检测，可以远距离不接触地诊断电力设备健康状态，是电力行业中被广泛应用的诊断方法。
[0003]红外测温法分为一般测温法和精确测温法。一般测温法只测量设备的整体温度,寻找异常发热点。精确测温法需要结合设备类型，根据行业标准，调整测量参数，测量设备不同区域温度，通过比较各区域温差，判断设备异常情况。但是，精确温差测量法在使用时需要对设备进行细致测量，且要求测量人员能够识别出热成像图像中的设备，并对该设备处的状态进行准确的判断，这需要具备丰富的电力设备维护知识，对测量人员的要求较高，而且设备部件繁多，测量过程极其耗费人力。
[0004]目前还有一些通过深度学习模型进行识别的测量方法，其步骤主要为：采集多个包含有待识别设备的热成像图像；将热成像图像作为训练样本数据集训练深度学习网络，获得设备热成像图像模型；对热成像图像进行图像分割，获取边缘信息；构建目标检测算法程序，进行连通域分析，根据红外热像仪在部署时让待识别的设备处于镜头中央的特性，从标注的连通域中定位目标设备，并进行裁剪；构建设备识别程序，使用深度学习网络训练出的模型，对裁剪到的设备图像进行识别。但是在不同温度下，热成像图像将呈现不同的颜色状态，实际操作中该方法需要收集大量的电力设备的热成像图像，工作量巨大，成本高。另外，如果只针对热成像图像建立识别模型，由于热成像图像包含的信息量低于可见光图像，在实际操作中该方法对待测设备的定位误差较大。
技术实现思路
[0005]针对现有技术的上述问题，本专利技术提供一种基于双光谱图像的电力设备中待测装置异常判断方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，能够节省人力成本，且有效降低定位误差。
[0006]为了解决上述问题，本专利技术采用以下技术方案：
[0007]根据本专利技术第一方面实施例，提供一种基于双光谱图像的电力设备中待测装置异常判断方法，包括：
[0008]获取待测电力设备可见光图像及待测电力设备热成像图像，其中，所述待测电力设备可见光图像及待测电力设备热成像图像具有固定的坐标对应关系；
[0009]基于所述待测电力设备可见光图像进行识别，获得其中的待测装置可见光图像；
[0010]基于所述待测装置可见光图像，确定所述待测装置中一个或多个待测部件在所述
待测电力设备可见光图像中的位置坐标；
[0011]基于各所述待测部件在所述待测电力设备可见光图像中的位置坐标以及所述坐标对应关系，获得各所述待测部件在所述待测电力设备热成像图像中的位置坐标；
[0012]基于各所述待测部件在所述待测电力设备热成像图像中的位置坐标，确定各部件的温度状态；
[0013]基于所述温度状态，判断该待测装置是否异常。
[0014]进一步地，所述待测电力设备可见光图像及待测电力设备热成像图像通过双光谱相机获取。
[0015]进一步地，所述基于所述待测电力设备可见光图像进行识别，获得其中的待测装置可见光图像包括：
[0016]基于所述待测电力设备可见光图像，通过图像识别模型进行识别以识别出其中的待测装置；
[0017]在识别出的所述待测装置周围设置外接矩形框，基于所述外接矩形框获得所述待测装置可见光图像。
[0018]进一步地，所述基于所述待测装置可见光图像，确定所述待测装置中一个或多个待测部件在所述待测电力设备可见光图像的位置坐标包括：
[0019]基于所述待测装置可见光图像，提取待测装置边缘；
[0020]基于所述待测装置边缘进行抠图，得到待测装置分割图像；
[0021]基于所述待测装置分割图像，确定其中一个或多个所述待测部件的位置坐标。
[0022]进一步地，所述基于所述待测装置可见光图像，提取待测装置边缘包括：
[0023]基于分水岭算法，从所述待测装置可见光图像中提取所述待测装置边缘。
[0024]进一步地，所述基于所述待测装置分割图像，确定其中一个或多个所述待测部件的位置坐标包括：
[0025]将所述待测装置分割图像的背景填充为白背景，得到合成图；
[0026]基于像素优化算法，将所述合成图的像素扩大，得到优化图；
[0027]基于所述优化图，通过图像识别模型进行识别，识别出其中的一个或多个所述待测部件；
[0028]基于所识别出的待测部件，确定各所述待测部件的外接矩形框的位置坐标。
[0029]进一步地，所述基于各所述待测部件在所述待测电力设备热成像图像中的位置坐标，确定该部件的温度状态包括：
[0030]基于所述待测部件在所述待测电力设备热成像图像中的位置坐标，获取待测部件的温度矩阵；
[0031]基于所述温度矩阵，确定该部件的最高温度。
[0032]进一步地，所述基于所述温度状态，判断该待测装置是否异常包括：
[0033]确定相邻两部件之间的最高温度之间的温差，当所述温差高于阈值时，判断该待测装置中温度高的部件存在异常。
[0034]进一步地，所述待测电力设备可见光图像及待测电力设备热成像图像中分别包括多个所述待测装置，所述基于所述温度状态，判断该待测装置是否异常包括：
[0035]确定一待测装置中的一部件的最高温度与另一待测装置中的对应部件的最高温
度之间的温差，当所述温差高于阈值时，判断温度高的部件存在异常。
[0036]根据本专利技术第二方面实施例，提供一种基于双光谱图像的电力设备中待测装置异常判断装置，包括：
[0037]获取模块，用于获取待测电力设备可见光图像及待测电力设备热成像图像，其中，所述待测电力设备可见光图像及待测电力设备热成像图像具有固定的坐标对应关系；
[0038]识别模块，用于基于所述待测电力设备可见光图像进行识别，获得待测装置可见光图像；
[0039]第一定位模块，用于基于所述待测装置可见光图像，确定所述待测装置中一个或多个待测部件在所述待测电力设备可见光图像中的位置坐标；
[0040]第二定位模块，用于基于所述待测部件在所述待测电力设备可见光图像中的位置坐标以及所述坐标对应关系，获得所述待测部件在所述待测电力设备热成像图像中的位置坐标；
[0041]温度检测模块，用于基于所述待测部件在所述待测电力设备热成像图像中的位置坐标，确定该部件的温度状态；
[0042]判断模块，用于基于所述温度状态，判断该待测装置是否异常。
[0043]根据本专利技术第三方面实施例，提供一种电子设备，所述电子设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于双光谱图像的电力设备中待测装置异常判断方法，其特征在于，包括：获取待测电力设备可见光图像及待测电力设备热成像图像，其中，所述待测电力设备可见光图像及待测电力设备热成像图像具有固定的坐标对应关系；基于所述待测电力设备可见光图像进行识别，获得其中的待测装置可见光图像；基于所述待测装置可见光图像，确定所述待测装置中一个或多个待测部件在所述待测电力设备可见光图像中的位置坐标；基于各所述待测部件在所述待测电力设备可见光图像中的位置坐标以及所述坐标对应关系，获得各所述待测部件在所述待测电力设备热成像图像中的位置坐标；基于各所述待测部件在所述待测电力设备热成像图像中的位置坐标，确定各部件的温度状态；基于所述温度状态，判断该待测装置是否异常。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测电力设备可见光图像及待测电力设备热成像图像通过双光谱相机获取。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述待测电力设备可见光图像进行识别，获得其中的待测装置可见光图像包括：基于所述待测电力设备可见光图像，通过图像识别模型进行识别以识别出其中的待测装置；在识别出的所述待测装置周围设置外接矩形框，基于所述外接矩形框获得所述待测装置可见光图像。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述待测装置可见光图像，确定所述待测装置中一个或多个待测部件在所述待测电力设备可见光图像的位置坐标包括：基于所述待测装置可见光图像，提取待测装置边缘；基于所述待测装置边缘进行抠图，得到待测装置分割图像；基于所述待测装置分割图像，确定其中一个或多个所述待测部件的位置坐标。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述待测装置可见光图像，提取待测装置边缘包括：基于分水岭算法，从所述待测装置可见光图像中提取所述待测装置边缘。6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述待测装置分割图像，确定其中一个或多个所述待测部件的位置坐标包括：将所述待测装置分割图像的背景填充为白背景，得到合成图；基于像素优化算法，将所述合成图的像素扩大，得到优化图；基于所述优化图，通过图像识别模型进行识别，识别出其中的一个或多个所述待测部件；基于所识别出的待测部件，确定各所述待测部件的外接矩形框的位置坐标。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于各所述待测部件在所述待测电力设...
【专利技术属性】
技术研发人员：裴雅超，
申请(专利权)人：株式会社日立制作所，
类型：发明
国别省市：
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