约束求解器输入信号的预处理方法、电子设备及存储介质技术

本发明专利技术涉及芯片验证领域，特别是涉及一种约束求解器输入信号的预处理方法、电子设备及存储介质。其通过本发明专利技术提供的方法对约束求解器的输入数据进行预处理，

【技术实现步骤摘要】
约束求解器输入信号的预处理方法、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片验证领域，特别是涉及一种约束求解器输入信号的预处理方法、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]芯片验证领域中，激励发生器是验证环境的重要部件，也称为驱动器（driver）、总线功能模型（Bus Function Model,BFM）、行为模型（behavioral）或发生器（generator）。激励发生器的主要职责是模拟与DUT相邻设计的接口协议。与真正的设计相比，激励发生器只关注如何模拟接口信号，使其能够以真实的接口协议来发送激励给DUT。
[0003]随着芯片设计越来越大，要产生一个完整的激励集来测试设计的功能也变得越来越苦难了，可以编写一个定向测试集来检查某些功能项，但当一个项目的功能项成倍增加时，编写足够多的定向测试集就不可能了，并且这些功能项之间的关系是大多数错误的来源，而且这种错误很难按照清单检查功能项的方法来排查。解决的办法是采用受约束的随机测试法（CRT）自动产生测试集。定向测试集能找到提前预测的错误，CRT通过随机激励能找到一些无本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种约束求解器输入信号的预处理方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：S100，获取约束求解器输入信号中每个约束满足问题的N个顶层表达式，每个顶层表达式包括约束变量和约束表达式，所述约束变量具有当前域；S200，根据预处理步骤对每个顶层表达式进行预处理，得到优化的目标表达式；所述目标表达式用于输入约束求解器得到随机激励；其中，第i个顶层表达式的预处理步骤，i的取值范围为1到N，包括：S210，获取第i个顶层表达式中约束变量x
i
的当前域和约束表达式D
i
的值域；S220，根据约束变量x
i
的当前域和约束表达式D
i
的值域之间的交集，得到约束变量x
i
的近似值域；若约束变量x
i
的近似值域与约束变量x
i
的当前域相同，则将约束变量x
i
的当前域作为第i个顶层表达式的目标值域，将第i个顶层表达式作为目标表达式，执行结束；否则执行S230和S240；S230，获取与约束变量x
i
相关的M个关联表达式；S240，分别优化M个关联表达式，其中第j个关联表达式的优化步骤，j的取值范围为1到M，包括：S241，获取第j个关联表达式中与约束变量x
i
相关的子表达式，判断子表达式所属的表达式类别，得到目标映射关系组；在目标映射关系组中查找匹配约束变量x
i
的近似值域，得到第j个关联表达式的目标结果，所述目标结果包括确定的目标结果和不确定的目标结果；S242，根据确定的目标结果优化第j个关联表达式，得到优化的第j个关联表达式；将优化的第j个关联表达式作为目标表达式。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，S210中约束表达式D
i
的值域的获取步骤包括：当约束表达式D
i
中包括R个约束变量和T个常量时，识别约束表达式D
i
的运算类型，根据运算类型查...

【专利技术属性】
技术研发人员：倪恩志，陈颖，石光辉，
申请(专利权)人：上海合见工业软件集团有限公司成都融见软件科技有限公司，
类型：发明
国别省市：