数据检测方法、存储介质和电子设备技术

本发明专利技术公开了一种数据检测方法、存储介质和电子设备，所述数据检测方法包括：通过外围传感器接口PSI5接收传感器发送的帧数据；确定所述帧数据中表示各比特位数值的边沿所在的目标时钟周期，并确定所述目标时钟周期前后各比特位的电平值对；基于所述目标时钟周期、所述电平值对、所述帧数据的接收时段以及所述帧数据的长度，检测所述帧数据是否被正常接收。应用本发明专利技术实施例提供的方案能够对传感器发送的数据进行检测。送的数据进行检测。送的数据进行检测。

【技术实现步骤摘要】
数据检测方法、存储介质和电子设备


[0001]本专利技术涉及数据处理
，尤其涉及一种数据检测方法、存储介质和电子设备。

技术介绍

[0002]外围传感器接口PSI5（Peripheral Sensor Interface 5）是用于汽车应用的总线接口，并且被认为是本地互连网络的替代品。数种汽车应用均可利用PSI5协议与传感器通信，包括动力传动应用、制动应用等。
[0003]在采用PSI5与传感器通信的过程中，传感器端的数据传输受到传输环境的影响可能不稳定，例如，数据在有线介质上传输存在延迟等。因此，需要对接收到的传感器发送的数据进行检测，确定是否正常接收。

技术实现思路

[0004]本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的一个目的在于提出一种数据检测方法、存储介质和电子设备，以对传感器发送的数据进行检测。
[0005]根据本专利技术实施例的第一方面，提供了一种数据检测方法，所述方法包括：通过外围传感器接口PSI5接收传感器发送的帧数据；确定所述帧数据中表示各比特位数值的边沿所在的目标时钟周期，并确定所述目标时钟周期前后各比特位的电平值对；基于所述目标时钟周期、所述电平值对、所述帧数据的接收时段以及所述帧数据的长度，检测所述帧数据是否被正常接收。
[0006]根据本专利技术实施例的第二方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现上述数据检测方法。
[0007]根据本专利技术实施例的第三方面，提供了一种电子设备，包括：存储器、处理器；所述存储器上存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，实现上述数据检测方法。
[0008]根据本专利技术实施例提供的方案，通过PSI5可以接收到传感器发送的帧数据；并且，通过记录时钟周期的记录，得到帧数据中各比特位数值的边沿的出现时间和出现边沿前后的电平值对反映的电平变化，从而能够确定每一比特位的接收是否出现问题，实现了对传感器发送的数据进行检测的过程。
[0009]并且，在检测过程中，不仅考虑了基于目标时钟周期、电平值对考虑了比特位这一维度的接收情况，还通过帧数据的接收时段、长度检测了帧数据整体维度的接收情况，多个维度下采用了更为丰富的参考数据，从而能够更为全面地对接收帧数据过程中可能存在的问题进行检测，提高了检测的准确性。
[0010]本专利技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变
得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
附图说明
[0011]图1是本专利技术实施例提供的一种数据检测方法的流程示意图。
[0012]图2是本专利技术实施例提供的一种帧数据接收的波形图。
[0013]图3是本专利技术实施例提供的第一种帧数据发送的时序图。
[0014]图4是本专利技术实施例提供的第二种帧数据发送的时序图。
[0015]图5是本专利技术实施例提供的第三种帧数据发送的时序图。
[0016]图6是本专利技术实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0017]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0018]下面参考附图描述本专利技术实施例的数据检测方法、存储介质和电子设备。
[0019]本专利技术的一个实施例中，参见图1，提供了一种数据检测方法，该方法包括以下步骤S101
‑
S103。
[0020]S101：通过外围传感器接口PSI5接收传感器发送的帧数据；外围传感器接口PSI5可以用于将多个传感器连接到ECU（Electronic Control Unit，电子控制单元）等电子器件，使得上述电子器件能够接收到传感器发送的帧数据。PSI5为双线接口，即ECU到传感器之间可以采用两根电线相连，其一用于供电及发送数据，其二用于接收数据。这样传感器的帧数据可以经由电线发送。
[0021]帧数据指传感器发送的符合预设的帧格式的数据。外围传感器接口对应的PSI5协议预先规定了符合协议标准的帧格式。具体的帧格式参见后续实施例，此处暂不详述。
[0022]S102：确定帧数据中表示各比特位数值的边沿所在的目标时钟周期，并确定目标时钟周期前后各比特位的电平值对；比特位（bit）为帧数据中的数据单位。1比特位数据可以表示1个二进制数据，所表示的二进制数据的数值为0或者1。
[0023]PSI5协议规定下的帧数据采用曼切斯特编码，此种情况下对于帧数据中每一比特位数据均采用边沿表示其数值。边沿包括上升沿和下降沿。
[0024]通过持续地对时钟周期进行计数，可以确定数据中每一比特位数值所在的时钟周期，即为目标时钟周期。如下图2所示。
[0025]图2中的采样计数表示对时钟周期进行计数的计数值，计数值增加1表示经过1时钟周期。RX表示接收到的帧数据的电平值，图2中上方的电平值为高电平值，下方的电平值为低电平值。起始位=00为帧数据中最早被接收的部分比特位数据。
[0026]由曼切斯特编码的特点可知，图中每个计数值为0的时钟周期对应表示各比特位数值的边沿，也就是目标时钟周期。
[0027]在目标时钟周期检测到边沿，表示接收到1比特位的数据。且边沿产生的前后各比特位的电平值形成的电平值对所表示的电平值变化可以表示所接收比特位的数值。例如，
图2中对于采样计数从41到16之间的比特位数据，经过边沿后电平值从低到高，可以表示0；反之，经过边沿后电平值从高到低，可以表示1。
[0028]通过对时钟周期进行计数，可以确定接收帧数据中每一比特位数据的所用时间，从而可以检测是否在预期时段内接收到各比特位数据。
[0029]S103：基于目标时钟周期、电平值对、帧数据的接收时段以及帧数据的长度，检测帧数据是否被正常接收。
[0030]由上，根据目标时钟周期和电平值对，确定帧数据中的每一比特位数据是否存在异常；根据帧数据的接收时段以及帧数据的长度，可以检测帧数据整体是否存在异常。
[0031]若基于上述目标时钟周期、电平值对、帧数据的接收时段以及帧数据的长度各参考信息进行检测，且均未确定异常，则确定帧数据被正常接收；反之，则确定帧数据未被正常接收。
[0032]在帧数据未被正常接收的情况下，根据检测出异常的参考信息不同，可以生成不同的错误信息。
[0033]例如，帧数据的长度小于预设的目标长度，则可以认为帧数据未被正常接收。
[0034]根据本专利技术实施例提供的方案，通过PSI5可以接收到传感器发送的帧数据；并且，通过记录时钟周期，得到帧数据中各比特位数值的边沿的出现时间和出现边沿前后的电平值对反映的电平变化，从而能够确定每一比特位的接收是否出现问题，实现了对传感器发送的数据进行检测的过程。
[0035]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数据检测方法，其特征在于，所述方法包括：通过外围传感器接口PSI5接收传感器发送的帧数据；确定所述帧数据中表示各比特位数值的边沿所在的目标时钟周期，并确定所述目标时钟周期前后各比特位的电平值对；基于所述目标时钟周期、所述电平值对、所述帧数据的接收时段以及所述帧数据的长度，检测所述帧数据是否被正常接收。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标时钟周期按照以下方式获得：在计数值位于预设的第一阈值和第二阈值之间、或所述计数值为第二阈值的情况下，检测到所述帧数据中表示各比特位数值的边沿所在时钟周期，并将该时钟周期作为所述目标时钟周期；其中，所述计数值为：对接收所述帧数据所用的时钟周期进行计数得到的值，并在检测到所述目标时钟周期后置零；所述第一阈值小于所述第二阈值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标时钟周期、所述电平值对、所述帧数据的接收时段以及所述帧数据的长度，检测所述帧数据是否被正常接收，包括：检测所述帧数据的接收时段是否位于所述帧数据在所述传感器发送的帧数据序列中的顺位对应的目标接收时段，得到第一检测结果；基于所述目标时钟周期、所述电平值对、所述第一检测结果以及所述帧数据的长度，检测所述帧数据是否被正常接收。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一检测结果包括所述帧数据的目标序号；所述检测所述帧数据的接收时段是否位于所述帧数据在所述传感器发送的帧数据序列中的顺位对应的目标接收时段，得到第一检测结果，包括：若所述帧数据的接收时段中存在位于所述目标接收时段之后的子时段，则确定所述目标序号为所述目标接收时段对应的序号；若所述帧数据的接收时段中存在位于所述目标接收时段之前的子时段，则确定所述目标序号为所述目标接收时段的前一接收时段对应的序号；得到包含所述目标序号的第一检测结果。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述目标时钟周期前后各比特位的电平值对，包括：确定与所述目标时钟周期位于同一采样周期中的第一时钟周期和第二时钟周期；其中，所述第一时钟周期先于所述目标时钟周期，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏伟东，朱杰，石刚，
申请(专利权)人：上海萨沙迈半导体有限公司天津智芯半导体科技有限公司合肥智芯半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：