阵列基板、显示面板、显示面板的测试方法及电子设备技术

本申请实施例提供的一种阵列基板、显示面板、显示面板的测试方法及电子设备，所述阵列基板包括面板内栅极驱动单元及测试开关，所述测试开关包括输入端、输出端和控制端，所述输入端与所述面板内栅极驱动单元连接，所述输出端与测试信号线连接，所述控制端与开关控制信号线连接；所述测试信号线用于在测试状态下向所述面板内栅极驱动单元提供测试信号；所述开关控制信号线用于在测试状态下向所述测试开关提供导通信号，在正常工作状态下向所述测试开关提供断开信号。当阵列基板正常工作时，控制测试信号线与面板内栅极驱动单元断开，从而可以降低测试信号线对显示电路的影响，进而可以改善显示面板显示不均的问题。以改善显示面板显示不均的问题。以改善显示面板显示不均的问题。

【技术实现步骤摘要】
阵列基板、显示面板、显示面板的测试方法及电子设备


[0001]本申请涉及显示设备
，具体而言，涉及一种阵列基板、显示面板、显示面板的测试方法及电子设备。

技术介绍

[0002]显示面板在设计的过程中，通常会连接一些测试信号线，以方便后续的产品测试验证或不良解析。
[0003]但是，如果设计的测试信号线位置比较特殊，或者拉线过长，以及与其他信号线交叠较多，则该测试信号线上的电容负载会比较大。由于测试信号线与显示面板连接在一起，因此，可能因为测试信号线的负载过重而导致显示面板显示不均。

技术实现思路

[0004]为了克服上述技术背景中所提及的技术问题，本申请实施例提供了一种阵列基板，所述阵列基板包括面板内栅极驱动单元及测试开关，所述测试开关包括输入端、输出端和控制端，所述输入端与所述面板内栅极驱动单元连接，所述输出端与测试信号线连接，所述控制端与开关控制信号线连接；
[0005]所述开关控制信号线用于在测试状态下向所述测试开关提供导通信号，以使所述面板内栅极驱动单元输出的信号通过所述测试信号线传递至测试触点，并且在正常工作状态下向所述测试开关提供断开信号，以断开所述面板内栅极驱动单元与所述测试信号线之间的连接。
[0006]在一种可能的实现方式中，所述驱动基板包括显示区和位于所述显示区至少一侧的非显示区，所述面板内栅极驱动单元和与所述面板内栅极驱动单元对应的所述测试开关均位于同一侧的所述非显示区。
[0007]在一种可能的实现方式中，所述开关控制信号线与所述面板内栅极驱动单元的复位信号线连接。
[0008]在一种可能的实现方式中，所述阵列基板还包括邦定区，所述测试触点位于所述邦定区，所述邦定区用于与柔性电路板或驱动芯片邦定。
[0009]在一种可能的实现方式中，所述测试信号线连接至所述邦定区。
[0010]在一种可能的实现方式中，所述测试开关包括场效应薄膜晶体管；
[0011]优选地，所述场效应薄膜晶体管包括PMOS管或NMOS管。
[0012]在一种可能的实现方式中，所述测试信号线的数量为至少一条，至少一条所述测试信号线与所述面板内栅极驱动单元连接；
[0013]优选地，所述驱动基板还包括沿第一方向延伸的扫描线，多个所述面板内栅极驱动单元沿第二方向排布；在所述第二方向上，所述阵列基板的中部和/或靠近所述邦定区一侧的所述面板内栅极驱动单元分别与所述测试信号线连接，所述第一方向与所述第二方向相交。
[0014]在一种可能的实现方式中，本申请还提供了一种显示面板，包括本申请中所述的阵列基板；
[0015]优选地，所述显示面板为折叠面板，至少一条所述测试信号线与所述折叠面板的折叠部和/或底部的所述面板内栅极驱动单元连接。
[0016]在一种可能的实现方式中，本申请还提供了一种显示面板的测试方法，所述方法应用于对本申请中所述的显示面板进行测试，所述测试方法包括：
[0017]在测试状态下，通过开关控制信号线向测试开关提供导通信号，以使面板内栅极驱动单元的输入端与测试信号线接通；
[0018]使所述面板内栅极驱动单元输出的信号通过所述测试信号线传递至测试触点，以对所述显示面板进行测试。
[0019]在一种可能的实现方式中，本申请还提供了一种电子设备，包括本申请中所述的显示面板。
[0020]相对于现有技术而言，本申请具有以下有益效果：
[0021]本申请提供的一种阵列基板、显示面板、显示面板的测试方法及电子设备，通过在测试信号线上设置测试开关，可以控制测试信号线与面板内栅极驱动单元的通断；当阵列基板正常工作时，控制测试信号线与面板内栅极驱动单元断开，从而可以降低测试信号线对显示电路的影响，进而可以改善显示面板显示不均的问题。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0023]图1为本实施例提供的现有技术中阵列基板的示意图；
[0024]图2为本实施例提供的在测试信号线设置测试开关的示意图；
[0025]图3为本实施例提供的测试开关、面板内栅极驱动单元和测试信号线间的信号的时序图；
[0026]图4为本实施例提供的驱动基板的俯视示意图；
[0027]图5为本实施例提供的在测试信号线设置测试开关且开关控制信号线包括复位信号线的示意图；
[0028]图6为本实施例提供的柔性电路板邦定在阵列基板上的示意图；
[0029]图7为本实施例提供的柔性电路板未邦定在阵列基板上的示意图；
[0030]图8为本实施例提供的柔性电路板邦定在阵列基板上且与示波器电性连接的示意图；
[0031]图9为本实施例提供的柔性电路板未邦定在阵列基板上且与示波器电性连接的示意图；
[0032]图10为本实施例提供的至少一条测试信号线与阵列基板的中部和/或底部的面板内栅极驱动单元连接的示意图；
[0033]图11为本实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程示意图。
[0034]附图标记：01、显示区；02、非显示区；1、测试信号线；2、面板内栅极驱动单元；3、开关控制信号线；4、测试开关；41、输出端；42、控制端；43、输入端；5、复位信号线；6、驱动芯片；7、柔性电路板；8、邦定区；81、邦定触点；9、示波器。
具体实施方式
[0035]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0036]因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0037]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0038]在本申请的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该申请产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0039]需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例中的不同特本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括面板内栅极驱动单元及测试开关，所述测试开关包括输入端、输出端和控制端，所述输入端与所述面板内栅极驱动单元连接，所述输出端与测试信号线连接，所述控制端与开关控制信号线连接；所述开关控制信号线用于在测试状态下向所述测试开关提供导通信号，以使所述面板内栅极驱动单元输出的信号通过所述测试信号线传递至测试触点，并且在正常工作状态下向所述测试开关提供断开信号，以断开所述面板内栅极驱动单元与所述测试信号线之间的连接。2.根据权利要求1所述的阵列基板，所述驱动基板包括显示区和位于所述显示区至少一侧的非显示区，所述面板内栅极驱动单元和与所述面板内栅极驱动单元对应的所述测试开关均位于同一侧的所述非显示区。3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述开关控制信号线与所述面板内栅极驱动单元的复位信号线连接。4.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括邦定区，所述测试触点位于所述邦定区，所述邦定区用于与柔性电路板或驱动芯片邦定。5.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，所述测试信号线连接至所述邦定区。6.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述测试开关包括场效应...

【专利技术属性】
技术研发人员：张红森，
申请(专利权)人：合肥维信诺科技有限公司，
类型：发明
国别省市：