分析装置、分析系统及便携式信息终端制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种分析装置、分析系统及便携式信息终端。该分析装置具备：至少一个磁性元件，其具备第一铁磁性层、第二铁磁性层、以及被所述第一铁磁性层和所述第二铁磁性层夹持的间隔层；和光源，其射出光，对分析对象试样照射来自所述光源的所述光，利用所述至少一个磁性元件检测由所述分析对象试样反射的反射光或透过所述分析对象试样的透射光。透过所述分析对象试样的透射光。透过所述分析对象试样的透射光。

【技术实现步骤摘要】
分析装置、分析系统及便携式信息终端


[0001]本专利技术涉及一种分析装置、分析系统及便携式信息终端。

技术介绍

[0002]作为使用了光的分析装置，已知有拉曼分光装置、红外分光装置等。例如，在专利文献1中公开有一种拉曼分光装置。另外，例如，在专利文献2中公开有一种红外分光装置。在使用了光的分析装置中使用用于将光(电磁波)作为电信号检测的光检测器。例如，专利文献1所记载的拉曼分光装置用CCD(电荷耦合器件，Charge coupled device)检测光。例如，专利文献2所记载的红外分光装置用测辐射热计检测红外线。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：日本特开2006
‑
113021号公报
[0006]专利文献2：日本特开2000
‑
275105号公报

技术实现思路

[0007]专利技术所要解决的技术问题
[0008]在分光装置的光检测中使用了几个种类的光检测器，但存在小型化困难等课题。因此，为了使用光的分析装置的进一步发展，寻求新的突破。
[0009]本专利技术是鉴于上述问题而成的，其目的在于提供一种新型且能够小型化的分析装置、分析系统及便携式信息终端。
[0010]用于解决技术问题的技术方案
[0011]为了解决上述课题，提供以下的方案。
[0012](1)第一方式所涉及的分析装置具备：至少一个磁性元件，其具备第一铁磁性层、第二铁磁性层、以及被所述第一铁磁性层和所述第二铁磁性层夹持的间隔层；以及光源，其射出光，对分析对象试样照射来自所述光源的所述光，利用所述至少一个磁性元件检测由所述分析对象试样反射的反射光或透过所述分析对象试样的透射光。
[0013](2)上述实施方式所涉及的分析装置也可以还具备分光器，所述反射光或所述透射光也可以经由所述分光器向所述至少一个磁性元件照射。
[0014](3)在上述实施方式所涉及的分析装置中，也可以是，所述至少一个磁性元件是多个磁性元件，所述反射光或所述透射光经由所述分光器向所述多个磁性元件照射。
[0015](4)上述实施方式所涉及的分析装置也可以是，还具备多个波长滤波器，所述至少一个磁性元件是多个磁性元件，与所述多个波长滤波器分别对应地配置所述多个磁性元件中的至少一个，所述反射光或所述透射光经由所述多个波长滤波器的各个向与波长滤波器分别对应地配置的至少一个所述磁性元件照射，所述多个波长滤波器中的至少一个的透射波段与其它波长滤波器不同。
[0016](5)在上述实施方式所涉及的分析装置中，所述光源也可以是射出激光的激光元
件。
[0017](6)在上述实施方式所涉及的分析装置中，也可以是，所述光源具有射出激光的多个激光元件，所述多个激光元件中的至少一个射出的激光的波长与其它激光元件不同。
[0018](7)在上述实施方式所涉及的分析装置中，所述激光元件也可以射出300nm以上2000nm以下的波长的光。
[0019](8)第二实施方式所涉及的分析系统具备上述实施方式的分析装置、和信息存储装置，对所述分析装置利用所述磁性元件检测到的所述反射光或所述透射光的数据、和保存于所述信息存储装置中的数据进行对照，识别所述分析对象试样的信息。
[0020](9)第三实施方式所涉及的便携式信息终端具备：上述实施方式的分析系统、和显示所述分析对象试样的信息的显示监视器。
[0021]专利技术的效果
[0022]上述实施方式所涉及的分析装置、分析系统及便携式信息终端能够小型化。
附图说明
[0023]图1是第一实施方式的分析系统的框图。
[0024]图2是第一实施方式的分析系统的另一例的框图。
[0025]图3是第一实施方式的光检测装置的截面图。
[0026]图4是第一实施方式的磁性元件的截面图。
[0027]图5A是用于对第一实施方式的磁性元件的动作例的第一机理进行说明的图。
[0028]图5B是用于对第一实施方式的磁性元件的动作例的第一机理进行说明的图。
[0029]图5C是用于对第一实施方式的磁性元件的动作例的第一机理进行说明的图。
[0030]图5D是用于对第一实施方式的磁性元件的动作例的第一机理进行说明的图。
[0031]图6A是用于对第一实施方式的磁性元件的动作例的第二机理进行说明的图。
[0032]图6B是用于对第一实施方式的磁性元件的动作例的第二机理进行说明的图。
[0033]图6C是用于对第一实施方式的磁性元件的动作例的第二机理进行说明的图。
[0034]图6D是用于对第一实施方式的磁性元件的动作例的第二机理进行说明的图。
[0035]图7A是用于对第一实施方式的磁性元件的动作的另一例进行说明的图。
[0036]图7B是用于对第一实施方式的磁性元件的动作的另一例进行说明的图。
[0037]图7C是用于对第一实施方式的磁性元件的动作的另一例进行说明的图。
[0038]图7D是用于对第一实施方式的磁性元件的动作的另一例进行说明的图。
[0039]图8A是用于对第一实施方式的磁性元件的动作的另一例进行说明的图。
[0040]图8B是用于对第一实施方式的磁性元件的动作的另一例进行说明的图。
[0041]图8C是用于对第一实施方式的磁性元件的动作的另一例进行说明的图。
[0042]图8D是用于对第一实施方式的磁性元件的动作的另一例进行说明的图。
[0043]图9是第一实施方式的光检测装置的俯视图。
[0044]图10是第二实施方式的光检测装置的截面图。
[0045]图11是第三实施方式的光检测装置的截面图。
[0046]图12是第三实施方式的光检测装置的俯视图。
[0047]图13是第四实施方式的分析系统的框图。
[0048]图14是第五实施方式的分析系统的框图。
[0049]图15是第六实施方式的分析系统的框图。
[0050]图16是使用了第六实施方式的分析系统的便携式信息终端的示意图。
[0051]符号的说明：
[0052]1、1A
…
光源，2、2A、2B
…
光检测装置，3
…
试样设置部，4
…
信号处理部，10
…
磁性元件，11
…
第一铁磁性层，12
…
第二铁磁性层，13
…
间隔层，14
…
缓冲层，15
…
籽晶层，16
…
铁磁性层，17
…
磁耦合层，18
…
垂直磁化感应层，19
…
覆盖层，30
…
绝缘层，50、51
…
分光器，60、61、62、63
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种分析装置，其中，具备：至少一个磁性元件，其具备第一铁磁性层、第二铁磁性层、以及被所述第一铁磁性层和所述第二铁磁性层夹持的间隔层；以及光源，其射出光，对分析对象试样照射来自所述光源的所述光，利用所述至少一个磁性元件检测由所述分析对象试样反射的反射光或透过所述分析对象试样的透射光。2.根据权利要求1所述的分析装置，其中，还具备分光器，所述反射光或所述透射光经由所述分光器向所述至少一个磁性元件照射。3.根据权利要求2所述的分析装置，其中，所述至少一个磁性元件是多个磁性元件，所述反射光或所述透射光经由所述分光器向所述多个磁性元件照射。4.根据权利要求1所述的分析装置，其中，还具备多个波长滤波器，所述至少一个磁性元件是多个磁性元件，与所述多个波长滤波器分别对应地配置所述多个磁性元件中的至少一个，所述反射光或所述透射光经由所述多个波长滤波器的各个向与波...

【专利技术属性】
技术研发人员：福泽英明，水野友人，柴田哲也，
申请(专利权)人：TDK株式会社，
类型：发明
国别省市：