【技术实现步骤摘要】
一种Y型吸料摆臂装置
[0001]本技术涉及芯片辅助生产装置
,尤其涉及一种Y型吸料摆臂装置。
技术介绍
[0002]SMA芯片在的生产和研制过程中,需要对芯片的各项参数进行过程测试和终端测试,完成测试所需模块是测试站。测试站能方便、准确、快速地对样品上所需要测试点进行检测,比如三极管的基区、发射区等,将测试站上的探针和测试点可靠接触,完成检测。
[0003]在测试时,需要对芯片材料进行上料,这样测试站才能完成检测;现有的芯片上料装置通过为单个摆臂进行吸料,然后上料至测试站,这样效率比较低。
技术实现思路
[0004]本技术的目的是提供一种Y型吸料摆臂装置,解决了现有技术中芯片吸附装置只能满足单方向的上料测试,工作效率低的技术问题。
[0005]本申请实施例公开了一种Y型吸料摆臂装置,包括:
[0006]底座;
[0007]进料轨道,安装于所述底座上;
[0008]两个测试站,间隔安装于所述底座上,且两个所述测试站分别位于所述进料轨道两侧;
[0009]旋转电 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种Y型吸料摆臂装置,其特征在于,包括:底座;进料轨道,安装于所述底座上;两个测试站,间隔安装于所述底座上,且两个所述测试站分别位于所述进料轨道两侧;旋转电机,安装于所述底座内部,且所述旋转电机的输出端竖向朝上;摆动臂,安装于所述旋转电机的输出端,所述摆动臂的端部在所述旋转电机的驱动下自一个所述测试站的上方运动至另一个所述测试站的上方,所述摆动臂为“Y”型;两个吸嘴,间隔活动安装于所述摆动臂上。2.根据权利要求1所述的Y型吸料摆臂装置,其特征在于,所述底座上设置有挤压单元,所述挤压单元的挤压端分别与两个所述测试站、测试槽相对应;所述摆动臂上设置有伸缩单元,所述伸缩单元的底端与所述吸嘴配合。3.根据权利要求2所述的Y型吸料摆臂装置,其特征在于,所述挤压单元包括:挤压支架,所述挤压支架为L型,且所述挤压支架的水平段位于所述底座上方;三根挤压立杆,竖向间隔安装于所述挤压支架上,一根所述挤压立杆的底端与所述进料轨道相对应,剩余两根所述挤压立杆的底端分别与所述测试站相对应。4.根据权利要求3所述的Y型吸料摆臂装...
【专利技术属性】
技术研发人员:李欢,
申请(专利权)人:扬州虹扬科技发展有限公司,
类型:新型
国别省市:
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