漏电断路器制造技术

本发明专利技术的目的在于实现一种具有测试电路的漏电断路器，其通过降低施加在测试电流限制电阻上的电压，缩短在该电阻上施加电压的时间，从而降低该电阻的消耗电能，并可以应用小型电阻。测试电路具有：电阻（５）及电容器（８），它们串联连接在交流电路的一端侧（Ｗ）上；降压电路（１０），其与相对于电阻及电容的交流电路的另一端侧连接，使施加在电阻上的电压降低；以及串联连接的测试开关（１１）及零相变流器（２）的测试绕组（２ｂ），它们与电容器的两端连接。驱动电磁装置（１２）的驱动开关（６）连接在与电阻及电容器相对的交流电路的一端侧和交流电路的另一端侧（Ｕ）之间，电磁装置与相对于电阻及电容器的交流电路的一端侧（Ｗ）连接。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种在交流电路发生漏电或者接地时对该电路进行断路的漏电断路器，特别涉及一种具有使模拟漏电电流在电路中流动的测试回路的漏电断路器。
技术介绍
在现有的漏电断路器中，具有下述结构，S卩，使用在其内部的形成有交流电路电压 的部位、例如漏电断路器的负载侧端子之间等的电压，使测试开关、测试电流限制电阻、测 试绕组的串联连接电路贯穿零相变流器，通过操作测试开关使模拟漏电电流流动而对零相 变流器进行励磁，将该情况由漏电检测部进行检测并判别电流值，从而确认断路动作。 专利文献1 :特开平8-180792号公报(0002段至0006段，图12)
技术实现思路
但是，现有的漏电断路器在测试开关闭合时，向测试电流限制电阻施加交流电路 的全部电压，该状态持续至漏电断路器完成了完全断路为止，即，在漏电检测电路的时限动 作时间、断路机构的动作时间、断路器的触点接触/分离时的灭弧时间的合计时间的整个 期间中，持续施加电压。因此，产生需要使用外加电力及电力容量较大的电阻器作为测试电 流限制电阻，测试电流限制电阻的安装需要较大区域的问题。 另外，在持续按下测试开关的情况下，存在测试电流限制电阻浪费电能的问题。 本专利技术的目的在于实现一种具有测试电路的漏电断路器，其通过降低施加在漏电 断路器的测试电路中的测试电流限制电阻上的电压，縮短在测试电流限制电阻上施加电压 的时间，从而降低测试电流限制电阻的消耗电能，可以应用小型的测试电流限制电阻。 本专利技术所涉及的漏电断路器的测试电路具有电阻及电容器，它们串联连接在交 流电路的一端侧；降压电路，其与相对于电阻及电容器的交流电路的另一端侧连接，使施加 在电阻上的电压降低；以及串联连接的测试开关及零相变流器的测试绕组，它们与电容器 的两端连接。驱动电磁装置的驱动开关连接在与电阻及电容器相对的交流电路的一端侧和 交流电路的另一端侧之间，电磁装置与相对于电阻及电容器的交流电路的一端侧连接。 专利技术的效果 本专利技术所涉及的漏电断路器，通过降低施加在测试电流限制电阻上的电压，縮短 在测试电流限制电阻上施加电压的时间，从而可以降低测试电流限制电阻的消耗电能，构 成应用小型测试电流限制电阻的测试电路。附图说明 图1是本专利技术的实施方式1中的漏电断路器的框图。 图2是图1所示的整流电路的电路图。 图3是表示实施方式1的包括测试电路的第1交流电路的图。 图4是表示图1的测试动作的时序图。 图5是表示实施方式1的包括测试电路的第2交流电路的图。 图6是表示实施方式1的包括测试电路的第3交流电路的图。 图7是表示图6的测试动作的时序图。 图8是本专利技术的实施方式2中的漏电断路器的框图。 图9是表示实施方式2的包括测试电路的第1交流电路的图。 图10是表示实施方式2的包括测试电路的第2交流电路的图。 图11是表示实施方式2的包括测试电路的第3交流电路的图。 图12是本专利技术的实施方式3中的漏电断路器的框图。 图13是表示实施方式3的包括测试电路的第1交流电路的图。 图14是表示实施方式3的包括测试电路的第2交流电路的图。 图15是表示实施方式3的包括测试电路的第3交流电路的图。 图16是本专利技术的实施方式4中的漏电断路器的框图。 图17是表示实施方式4的包括测试电路的第1交流电路的图。 图18是表示实施方式4的包括测试电路的第2交流电路的图。 图19是表示实施方式4的包括测试电路的第3交流电路的图。 图20是本专利技术的实施方式5中的漏电断路器的框图。 图21是表示实施方式5的包括测试电路的第1交流电路的图。 图22是表示实施方式5的包括测试电路的第2交流电路的图。 图23是表示实施方式5的包括测试电路的第3交流电路的图。具体实施方式 实施方式1 图1是表示本专利技术的实施方式1中的漏电断路器的结构的框图， 图2是图1的整流电路的电路图。漏电断路器1具有电源侧端子R、 T，以及与电 源侧端子R、T对应的负载侧端子U、W。在漏电断路器l内设置有断路部9，其由对连结电源 侧端子R和负载侧端子U的1次导体RU、以及连结电源侧端子T和负载侧端子W的1次导 体TW进行接通/断开的触点构成。 漏电断路器1具有零相变流器2，其用于检测流过1次导体RU、 TW的电流中含有 的零相电流，即由于负载侧漏电或接地而流过的电流。1次导体RU、TW贯穿环状铁芯2c形 成磁链，在铁芯2c上巻绕有用于取得零相电流的2次绕组2a及用于漏电断路功能测试的 测试绕组2b。 在负载侧端子U和负载侧端子W之间连接有驱动跳闸装置13的电磁装置12和使 模拟漏电电流流动的测试电路，其中，该跳闸装置13在检测出漏电时使断路部9动作，该断 路部9用于对电源侧端子R、T和负载侧端子U、W之间进行断开、切断。电磁装置12与交流 电路的一端侧即负载侧端子W侧连接。测试电路具有电容器8，其向串联连接的测试电流 限制电阻5及整流电路3供给交流电力；降压电路IO，其连接在与测试电流限制电阻5及 电容器8相对的交流电路的另一端侧上，使施加在测试电流限制电阻5上的电压降低；以及 串联连接的测试开关11及零相变流器2的测试绕组2b，它们与电容器8的两端连接。 测试电流限制电阻5控制测试电路的模拟漏电电流值。测试开关11对流过零相变流器2中的模拟漏电电流进行接通/断开。降压电路10由整流电路3和例如齐纳二极 管等恒压电路4构成。整流电路3的交流侧端子3a、3b被供给来自1次导体RU及1次导 体TW之间的交流电力，从直流侧端子3c、3d输出直流电力。 整流电路3如图2所示，桥接有四个二极管20a至20d。恒压电路4使整流电路3 的输出电压恒定。由整流电路3整流后的直流电力向漏电检测电路7供给。另外，直流侧 端子3c是正侧端子，直流侧端子3d是负侧端子。 漏电检测电路7检测作为交流电路的1次导体RU、TW的零相电流，判别其电流值。 在零相电流超过规定值的情况下输出输出信号csig。电磁装置12具有电磁绕组，其一端 与1次导体TW连接，另一端与测试电路连接。由漏电检测电路7的输出信号csig进行控 制并构成对电磁装置12进行驱动的驱动开关6的晶闸管21，与测试电路的1次导体TW侧、 和另一个1次导体RU侧即整流电路3的直流侧端子3d侧连接。另外，在图1中，在漏电检 测电路7的输出配线上标注csig，示出在该输出配线中输出信号csig。在其他附图中也相 同地标注 csig。 另外，实施方式1中的漏电断路器具有未图示的过电流检测部，其对1次导体RU 及1次导体TW各自的过电流进行检领"经由未图示的跳闸部断开断路部9的触点。断路部 9的触点接通是通过手动操作未图示的手柄而进行的。 使用图3及图4说明漏电断路器的测试动作。图3是表示包括漏电断路器的测试 电路在内的第1交流电路的图，图4是表示漏电断路器的测试动作的时序图。图4(a)是 流过测试电流限制电阻5的电流I的波形，图4(b)是漏电检测电路7的输出信号csig，图 4(c)是驱动开关6的导通状态，图4(d)是在负载侧端子U、W之间施加的电压V的波形。图 4 (d)的电压V为正时，示出以负载侧端子U为基准向负载侧端子W施加正电压的情况。 考虑漏电断路器1的电源侧端子R、 U与交流电源连接，断路部9的触点接通的状 态。由于1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种漏电断路器，其具有：零相变流器，其插入至交流电路中，具有２次绕组及测试绕组；漏电检测电路，其与该零相变流器的２次绕组连接，在流过所述交流电路的漏电电流超过规定值的情况下输出信号；电磁装置，其根据该漏电检测电路的信号而使插入至所述交流电路中的断路部断路；驱动开关，其由所述漏电检测电路的信号进行控制，驱动所述电磁装置；以及测试电路，其将所述交流电路作为电源，用于使所述零相变流器中流过模拟漏电电流，该漏电断路器的特征在于，所述测试电路具有：电阻及电容器，它们串联连接在所述交流电路的一端侧；降压电路，其与相对于所述电阻及电容器的所述交流电路的另一端侧连接，使施加在所述电阻上的电压降低；以及串联连接的测试开关及所述零相变流器的测试绕组，它们与所述电容器的两端连接，所述驱动开关连接在与所述电阻及电容器相对的所述交流电路的一端侧和所述交流电路的另一端侧之间，所述电磁装置与相对于所述电阻及电容器的所述交流电路的一端侧连接。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：佐藤荣一，
申请(专利权)人：三菱电机株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]