显示设备及其控制方法技术

本发明专利技术涉及显示设备及其控制方法。显示设备基于视频数据确定第一像素的灰度级，基于第一像素的驱动历史确定第一像素处于第一劣化模式还是第一劣化模式之后的第二劣化模式，在确定第一像素处于第一劣化模式的情况下，参考用于第一劣化模式的第一调整信息并基于第一像素的灰度级和驱动历史来确定要供应给第一像素的数据信号，并且在确定第一像素处于第二劣化模式的情况下，参考用于第二劣化模式的第二调整信息并基于第一像素的灰度级和驱动历史来确定要供应给第一像素的数据信号。史来确定要供应给第一像素的数据信号。史来确定要供应给第一像素的数据信号。

【技术实现步骤摘要】
显示设备及其控制方法


[0001]本公开涉及显示设备和控制该显示设备的方法。

技术介绍

[0002]有机发光二极管(OLED)元件是电流驱动的发光元件，因此不需要背光。除此之外，OLED元件具有实现低功耗、宽视角和高对比度的优势；预计其将对平板显示设备的发展做出贡献。
[0003]OLED元件随着其发光时间(驱动时间)而劣化。劣化的OLED元件不能利用与之前相同的驱动电流以相同的辉度(brightness)发光。此外，除非施加更高的驱动电压，否则无法获得与之前相同的驱动电流。OLED元件需要增大驱动电压并随着驱动时间降低其光的辉度。
[0004]存在一些外部补偿技术来补偿OLED元件的辉度的劣化。外部补偿技术利用评估所监测的OLED元件的劣化的结果和关于各个OLED元件的发光的累积数据。

技术实现思路

[0005]OLED元件的特性变化是不均匀的；不容易精确地监测和补偿该变化。具体而言，OLED元件的劣化(特性变化)通常分为两种模式：在驱动开始之后的初始时段中出现的初始劣化模式和在初始时段之后的时段中出现的稳定劣化模式。初始劣化模式表现出比稳定劣化模式更复杂的特性变化。
[0006]初始劣化模式更可能取决于制造偏差；初始劣化模式中的特性变化在显示面板之间是不同的。因此，对于不同的显示面板，无法相同地确定初始劣化模式中的特性变化以及从初始劣化模式到稳定劣化模式的转变点。
[0007]因此，识别OLED元件处于初始驱动时段中的初始劣化模式还是后续时段中的稳定劣化模式对于提高外部补偿的精度很重要。这同样适用于采用不同于OLED元件的发光元件的显示设备。
[0008]本公开的一个方面是一种显示设备，包括：显示区域，该显示区域包括多个像素，该显示区域被配置为根据来自外部的视频数据显示图像；以及控制电路，该控制电路被配置为控制多个像素。多个像素中的每个像素包括发光元件和像素电路。控制电路被配置为：基于视频数据，确定第一像素的灰度级；基于第一像素的驱动历史，确定第一像素处于第一劣化模式还是第一劣化模式之后的第二劣化模式；在确定第一像素处于第一劣化模式的情况下，参考用于第一劣化模式的第一调整信息并基于第一像素的灰度级和驱动历史，确定要供应给第一像素的数据信号；以及在确定第一像素处于第二劣化模式的情况下，参考与第一调整信息不同的、用于第二劣化模式的第二调整信息并基于第一像素的灰度级和驱动历史，确定要供应给第一像素的数据信号。
[0009]本公开的一个方面提高了显示设备的显示质量。
[0010]应当理解，上面的总体描述和下面的详细描述都是示例性和解释性的，并且不限
制本公开。
附图说明
[0011]图1示意性地示出了OLED显示设备的配置示例；
[0012]图2A示意性地示出了TFT基板上的控制线的布局；
[0013]图2B示意性地示出了绝缘基板上的阳极电源线图案和阴极电极的布局；
[0014]图3A示出了正常显示区域中的像素电路的配置示例；
[0015]图3B示出了第一劣化评估区域和第二劣化评估区域中的像素电路的配置示例；
[0016]图4A示出了用于红色子像素的OLED元件的高温老化时间与相对亮度之间的关系的示例；
[0017]图4B示出了用于绿色子像素的OLED元件的高温老化时间与相对亮度之间的关系的示例；
[0018]图4C示出了用于蓝色子像素的OLED元件的高温老化时间与相对亮度之间的关系的示例；
[0019]图5A示出了用于红色子像素的OLED元件的高温老化时间与相对驱动电压之间的关系的示例；
[0020]图5B示出了用于绿色子像素的OLED元件的高温老化时间与相对驱动电压之间的关系的示例；
[0021]图5C示出了用于蓝色子像素的OLED元件的高温老化时间与相对驱动电压之间的关系的示例；
[0022]图6A示出了用于红色子像素的OLED元件的相对驱动电压与相对亮度之间的关系的示例；
[0023]图6B示出了用于绿色子像素的OLED元件的相对驱动电压与相对亮度之间的关系的示例；
[0024]图6C示出了用于蓝色子像素的OLED元件的相对驱动电压与相对亮度之间的关系的示例；
[0025]图7是老化测试的示例的流程图；
[0026]图8是示出经受老化测试的母板的配置示例的平面图；
[0027]图9是用于说明在老化测试中响应于与正常操作中的数据信号相同的数据信号通过供应比正常操作中更高的电源电压来供应更高的驱动电压的技术的示意图；
[0028]图10示意性地示出了TFT基板上的阳极电源线图案和阴极电极的布局的示例；
[0029]图11示意性地示出了OLED显示设备的逻辑配置；
[0030]图12是出厂后的正常显示操作的示例的流程图；
[0031]图13提供了从第二劣化评估区域测得的恒定电流驱动下的驱动电压的示例；
[0032]图14示出了遮光结构的示例；
[0033]图15示出了遮光结构的另一示例；
[0034]图16示意性地示出了TFT基板的基板、驱动TFT和OLED元件以及封装结构单元的截面结构；
[0035]图17是示出在触摸屏上形成的遮光膜图案和触摸电极图案的示例的平面图；和
[0036]图18示出了将第一劣化评估区域保持在非发光状态的OLED显示设备的配置示例。
具体实施方式
[0037]以下将参考附图描述本公开的实施方式。应该注意，实施方式仅仅是实现本公开的示例，而不限制本公开的技术范围。
[0038]在下面的描述中，像素是显示区域中的最小单元并且是用于发射单色光的元件。它也被称为子像素。一组不同颜色(例如，红色、绿色和蓝色)的像素构成用于显示一个混合色点的元件。该元件可以被称为主像素。
[0039]在下面的描述中，像素可以包括发光元件和用于控制该发光元件的像素电路。为了描述清楚，当需要区分用于发射单色光的元件和用于发射混合色光的元件时，前者被称为子像素，后者被称为主像素。本说明书的特征适用于其显示区域由单色像素组成的单色显示设备。
[0040]OLED元件的特性变化是不均匀的；不容易精确地监测和补偿该变化。具体而言，OLED元件的劣化(特性变化)通常分为两种模式：在开始驱动的初始时段中出现的初始劣化模式和在初始时段之后的时段中出现的稳定劣化模式。初始劣化模式表现出比稳定劣化模式更复杂的变化。
[0041]初始劣化模式更可能取决于生产变化；初始劣化模式中的特性变化在显示面板之间是不同的。对于不同的显示面板，难以相同地确定初始劣化模式中的特性变化以及从初始劣化模式到稳定劣化模式的转变点。
[0042]因此，识别OLED元件处于初始时段中的初始劣化模式还是初始时段之后的时段中的稳定劣化模式对于提高补偿精度很重要。这同样适用于采用不同于OLED元件的发光元件的显示设备。
[0043]本说明书的实施方式中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示设备，包括：显示区域，所述显示区域包括多个像素，所述显示区域被配置为根据来自外部的视频数据显示图像；和控制电路，所述控制电路被配置为控制所述多个像素，其中，所述多个像素中的每个像素包括发光元件和像素电路，并且其中，所述控制电路被配置为：基于所述视频数据，确定第一像素的灰度级；基于所述第一像素的驱动历史，确定所述第一像素处于第一劣化模式还是所述第一劣化模式之后的第二劣化模式；在确定所述第一像素处于所述第一劣化模式的情况下，参考用于所述第一劣化模式的第一调整信息并基于所述第一像素的灰度级和驱动历史，确定要供应给所述第一像素的数据信号；以及在确定所述第一像素处于所述第二劣化模式的情况下，参考与所述第一调整信息不同的、用于所述第二劣化模式的第二调整信息并基于所述第一像素的灰度级和驱动历史，确定要供应给所述第一像素的数据信号。2.根据权利要求1所述的显示设备，还包括：劣化评估区域，所述劣化评估区域包括设置在所述显示区域外部的多个虚设像素，其中，所述多个虚设像素中的每个虚设像素包括发光元件和像素电路，并且其中，所述控制电路被配置为基于所述第一像素的驱动历史和来自与所述第一像素相同颜色的虚设像素的关于电流
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电压特性的测量结果，确定所述第一像素处于所述第一劣化模式还是所述第一劣化模式之后的所述第二劣化模式。3.根据权利要求1所述的显示设备，其中，所述控制电路被配置为：在确定所述第一像素处于所述第二劣化模式的情况下，确定所述第一像素进入所述第二劣化模式之后的状态是所述第一像素在所述第二劣化模式中的初始状态；以及使用所述初始状态作为参考并基于自所述初始状态以来的所述第一像素的灰度级和驱动历史，确定要供应给所述第一像素的数据信号。4.根据权利要求1所述的显示设备，还包括：劣化评估区域，所述劣化评估区域包括设置在所述显示区域外部的多个虚设像素，其中，所述多个虚设像素中的每个虚设像素包括发光元件和像素电路，并且其中，所述控制电路被配置为在确定所述第一像素处于所述第二劣化模式的情况下，基于所述第一像素的灰度级、驱动历史以及来自与所述第一像素相同颜色的虚设像素的关于电流
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电压特性的测量结果，确定要供应给所述第一像素的数据信号。5.根据权利要求4所述的显示设备，还包括：测试区域，所述测试区域包括设置在所述显示区域外部的多个测试像素，其中，所述劣化评估区域位于所述测试区域和所述显示区域之间，其中，所述多个测试像素中的每个测试像素包括发光元件和像素电路，...

【专利技术属性】
技术研发人员：松枝洋二郎，下田雅通，
申请(专利权)人：武汉天马微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：