一种指向可调的支撑装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种指向可调的支撑装置，包括连接头、第一旋转台、支撑柱、第二旋转台，连接头与第一旋转台连接，第一旋转台被构造成能够带动连接头绕第一轴旋转的形式，连接头用于固定被测元件并与被测元件电连接，支撑柱呈沿着第二轴的方向延申，第二轴与第一轴成预设夹角，支撑柱的一端与第一旋转台转动连接、另一端与第二旋转台固定连接，第二旋转台被构造成能够带动支撑柱转动的形式，在第一旋转台、第二旋转台的作用下，使得连接头的连接有被测元件的一侧能够朝向任意方向，以满足不同的测试需求，无需频繁拆装被测元件，大大简化了被测元件的检测过程，进而降低了相应的检测成本。测成本。测成本。

【技术实现步骤摘要】
一种指向可调的支撑装置


[0001]本技术属于芯片测试
，涉及被测样品的支撑，具体涉及一种指向可调的支撑装置。

技术介绍

[0002]在部分芯片测试条件下，需要使芯片处于磁场环境下，此时，由于产生磁场环境的例如电磁铁等磁场发生装置的限制，被测元件通常将被限制在一个较小的测试区域内。为了被测元件能够伸出至被测位置，一般需要通过支撑装置，将样品支撑至预设位置。
[0003]在对被测元件进行测试时，在部分情形下，需要使被测元件位于不同方向的磁场中、使被测元件朝向便于观察的方向、使被测元件朝向便于与其他组件接触的方向。但是，现有的支撑装置大多仅能够将被测物固定于预设位置，在需要调整被测元件的朝向时，需要采用不同的支撑装置，也就需要多次对被测元件的拆装，十分繁琐。
[0004]在
技术介绍
部分中公开的上述信息仅仅用于增强对本技术背景的理解，因此可能包含不构成本领域普通技术人员公知的现有技术的信息。

技术实现思路

[0005]针对现有技术存在的难以在测试过程中调整被测元件的位姿的问题，本技术提供了一种指向可调的支撑装置，包括连接头、第一旋转台、支撑柱、第二旋转台，所述连接头与所述第一旋转台连接，所述第一旋转台被构造成能够带动所述连接头绕第一轴旋转的形式，所述连接头用于固定被测元件并与所述被测元件电连接，所述支撑柱呈沿着第二轴的方向延申，所述第二轴与所述第一轴成预设夹角，所述支撑柱的一端与所述第一旋转台转动连接、另一端与所述第二旋转台固定连接，所述第二旋转台被构造成能够带动所述支撑柱转动的形式。r/>[0006]可选地，所述支撑装置还包括位移台，所述位移台与所述第二旋转台连接，所述位移台被构造成能够带动所述第二旋转台沿着垂直于所述第二轴的平面移动的形式。
[0007]可选地，所述位移台为三轴位移台，所述位移台被构造成能够带动所述第二旋转台沿着所述第二轴移动的形式。
[0008]优选地，所述第二轴与所述第二旋转台的旋转轴重合。
[0009]优选地，所述第一轴与所述第二轴相互垂直。
[0010]可选地，所述支撑装置还包括第一驱动组件，所述第一驱动组件包括驱动电机、主动轮，所述驱动电机安装于所述支撑柱的靠近所述第二旋转台一侧，所述主动轮与所述驱动电机传动连接，所述第一旋转台与从动轮传动连接，所述从动轮与所述主动轮通过传动皮带传动连接。
[0011]进一步可选地，所述第一旋转台的旋转轴与所述从动轮连接，所述第一旋转台通过所述旋转轴与所述支撑柱转动连接。
[0012]优选地，所述支撑柱为空心柱体，所述第二旋转台设置有通孔，与所述连接头电连
接的连接线至少经所述支撑柱的内侧、所述第二旋转台的所述通孔延伸并与检测装置电连接。
[0013]可选地，所述连接头设置有插接孔，所述被测元件与所述插接孔电连接。
[0014]可选地，所述第一轴平行于水平面设置，所述第二轴垂直于水平面设置。
[0015]本技术至少具有以下有益效果：在第一旋转台、第二旋转台的作用下，使得连接头的连接有被测元件的一侧能够朝向任意方向，以满足不同的测试需求，无需频繁拆装被测元件，大大简化了被测元件的检测过程，进而降低了相应的检测成本。
附图说明
[0016]图1为本技术的一种实施方式的示意图。
[0017]图2为图1所示实施方式的另一方面的示意图。
[0018]图3为图1所示实施防暑的另一状态的示意图。
实施方式
[0019]为使本技术的目的、特征更明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步的说明。需要说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比率，仅用于方便、清晰地辅助说明本技术实施例的目的。
[0020]请参阅图1，示出了本技术的一种实施方式，本技术所提供的支撑装置包括连接头100、第一旋转台200、支撑柱300、第二旋转台500。连接头100用于固定被测元件，并与被测元件电连接，向被测元件传递相应的电信号并接收相应的反馈信号，从而对被测元件进行检测。需要注意的是，由于被测元件一般较小较轻，电连接结构的强度足以对被测元件进行固定，例如金属制成的插接头的电连接结构，在满足电连接的基础上，还能够将参与连接的两个组件进行一定程度的固定，因而连接头100与被测物之间的固定组件、电连接组件可以通过同一组件实现，例如，请参阅图3，连接头100的顶部设置有连接插接孔101，用于与被测元件的相匹配的插头插接，从而实现连接头100与被测元件之间的电连接。此外，也可以借助多个组件实现，例如在连接头100上设置引脚，使引脚与被测元件的触电接触以实现电连接，再在此基础上使用相应的连接装置实现连接头100与被测元件之间的位置固定。连接头100与第一旋转台200连接，第一旋转台200被构造成能够带动连接头100绕第一轴L1旋转的形式。支撑柱300呈沿着第二轴L2的方向延申，第二轴L2与第一轴L1成预设夹角，支撑柱300的一端301与第一旋转台200转动连接、另一端302与第二旋转台500固定连接。作为一种可行的实施方式，请参考图1至图3，第一旋转台200的两侧设置有转动轴201，转动轴201与支撑柱300的一端301转动连接，第一旋转台200的一个面上固定有连接头100，连接头100跟随第一旋转台200的旋转而旋转，更具体地，当第一旋转台200绕第一轴L1转动时，连接头100同样绕第一轴L1转动。第二旋转台500被构造成能够带动支撑柱300转动的形式，具体地，请参阅图1至图3，第二旋转台500设置有转盘501，支撑柱300安装于转盘501并能够在转盘501转动时一同转动。
[0021]请参阅图2、图3，示出了本技术的不同状态下的整体构造。在第二旋转台500的带动下，连接头100、第一旋转台200、支撑柱300将沿绕着第二轴L2转动。在第一旋转台200的带动下，第一旋转台200、连接头将绕着第一轴L1转动。由于第一轴L1、第二轴L2成预
设夹角，从而使得连接头100的连接有被测元件的一侧能够朝向任意方向，实现指向可调的需求，进而在无需拆装被测元件的情况下即可满足相应的测试需求，例如，调整被测元件与其所在环境磁场的相对方向，以使得在原有的面内磁场不变的条件下，可以通过第一旋转台200、第二旋转台500的转动，使连接头100的朝向发生变化，从而使得被测元件的角度出现变化，例如使被测元件与环境磁场垂直，进而在不改变磁场环境的条件下，实现被测元件在不同磁场环境下的检测，极大地方便了被测元件的磁性检测，减少了磁场环境下的检测对特定的磁场环境的依赖，进而降低了相应的检测成本。
[0022]请参阅图1至图3，本技术所提供的支撑装置还包括位移台600，位移台600与第二旋转台500连接。具体地，位移台600可以为平面位移台，能够带动第二旋转台500在一个平面内移动，在图1至图3所示的实施方式中，位移台600能够带动第二旋转台500在垂直于第二轴L2的平面内进行移动，进而带动支撑柱300、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种指向可调的支撑装置，其特征在于：包括连接头、第一旋转台、支撑柱、第二旋转台，所述连接头与所述第一旋转台连接，所述第一旋转台被构造成能够带动所述连接头绕第一轴旋转的形式，所述连接头用于固定被测元件并与所述被测元件电连接，所述支撑柱呈沿着第二轴的方向延申，所述第二轴与所述第一轴成预设夹角，所述支撑柱的一端与所述第一旋转台转动连接、另一端与所述第二旋转台固定连接，所述第二旋转台被构造成能够带动所述支撑柱转动的形式。2.如权利要求1所述的一种指向可调的支撑装置，其特征在于：所述支撑装置还包括位移台，所述位移台与所述第二旋转台连接，所述位移台被构造成能够带动所述第二旋转台沿着垂直于所述第二轴的平面移动的形式。3.如权利要求2所述的一种指向可调的支撑装置，其特征在于：所述位移台为三轴位移台，所述位移台被构造成能够带动所述第二旋转台沿着所述第二轴移动的形式。4.如权利要求1所述的一种指向可调的支撑装置，其特征在于：所述第二轴与所述第二旋转台的旋转轴重合。5.如权利要求1所述的一种指向可调的支撑装置，其特征在于：...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜洪磊，李学伟，史世伟，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：新型
国别省市：