一种量测产品高度防止漏超声的治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种量测产品高度防止漏超声的治具，包括：底座，顶部开设有滑槽；限高组件，包括支架和移动块，所述移动块与所述支架在竖直方向上滑动连接，所述支架设于所述底座的顶部，所述移动块向外延设有阻挡结构，所述阻挡结构位于所述滑槽的正上方；数显卡尺，与所述移动块连接。本实用新型专利技术利用移动块能够相对于底座滑动调整出供产品穿过的间隙，同时配合同步移动的数显卡尺调高调整的精度，减少测量的误差，技术员可通过间隙批量检测出不良品，从而减少不良品流入市场。从而减少不良品流入市场。从而减少不良品流入市场。

【技术实现步骤摘要】
一种量测产品高度防止漏超声的治具


[0001]本技术涉及测量治具
，具体是涉及一种量测产品高度防止漏超声的治具。

技术介绍

[0002]电源适配器，用于电器设备接通电源或充电，包括上盖和下盖，上盖和下盖通过超声波熔接固定。
[0003]现有技术中，上盖的连接处成型有卡扣，下盖的连接处成型有扣位，在进行超声波熔接前，首先会利用卡扣和扣位进行初步的固定，然而完成初步固定后的产品，技术员难以辨别是否已经进行了超声波熔接，从而容易导致未经超声波熔接的产品流出市场。

技术实现思路

[0004]为了克服现有技术中存在的缺点和不足，本技术的目的在于提供一种量测产品高度防止漏超声的治具。
[0005]为实现上述目的，本技术的技术方案如下：
[0006]一种量测产品高度防止漏超声的治具，包括：
[0007]底座，顶部开设有滑槽；
[0008]限高组件，包括支架和移动块，所述移动块与所述支架在竖直方向上滑动连接，所述支架设于所述底座的顶部，所述移动块向外延设有阻挡结构，所述阻挡结构位于所述滑槽的正上方；
[0009]数显卡尺，与所述移动块连接。
[0010]优选的，还包括：
[0011]避让槽，开设于所述滑槽的底部，用于避让产品。
[0012]优选的，还包括：
[0013]导轨，设于所述支架上，所述移动块通过所述导轨与所述支架滑动连接。
[0014]优选的，还包括：
[0015]调节丝杆，可转动的设于所述支架上，所述滑块与所述调节丝杆螺接。
[0016]优选的，还包括：
[0017]旋转手柄，设于所述调节丝杆的顶端。
[0018]优选的，所述阻挡结构包括：
[0019]三角架，设于所述移动块的前侧部；
[0020]挡块，设于所述三角架的底部。
[0021]优选的，还包括：
[0022]腰型孔，开设于所述三角架的底部；
[0023]螺丝牙孔，开设于所述挡块的顶部。
[0024]优选的，所述挡块的底部设有倒圆边。
[0025]优选的，所述数显卡尺包括：
[0026]卡尺本体，设于所述支架的侧部、与所述底座垂直；
[0027]显示器，设于所述卡尺本体上，侧部与所述移动块连接。
[0028]优选的，所述滑槽的端部设有导入斜面。
[0029]本技术的有益效果在于：
[0030]测量步骤，(1)高度归零，首先移动块在竖直方向上移动至支架的底端、直至阻挡结构的底部与滑槽的底壁相抵，然后将数显卡尺上的数据清零；(2)高度调整，首先以SOP要求测出产品的高度，即上盖和下盖经过压合、超声波熔接后的高度，并使阻挡结构与底座之间形成间隙，然后拧紧数显卡尺上的定位螺丝；(3)高度测试，将组装好的产品放置于底座上，并沿滑槽滑动至阻挡结构的正下方，若产品能够穿过间隙，则为合格品，反之为不良品。
[0031]本技术利用移动块能够相对于底座滑动调整出供产品穿过的间隙，同时配合同步移动的数显卡尺调高调整的精度，减少测量的误差，技术员可通过间隙批量检测出不良品，从而减少不良品流入市场。
附图说明
[0032]图1为本技术中实施例的治具的结构示意图；
[0033]图2为本技术中实施例的适配器的结构示意图。
[0034]图中所示：1
‑
底座，11
‑
滑槽，12
‑
避让槽；
[0035]2‑
限高组件；
[0036]21
‑
支架，211
‑
导轨，212
‑
调节丝杆，213
‑
旋转手柄；
[0037]22
‑
移动块；
[0038]23
‑
阻挡结构，231
‑
三角架，232
‑
挡块；
[0039]3‑
数显卡尺，31
‑
卡尺本体，32
‑
显示器；
[0040]4‑
适配器，41
‑
壳体，42
‑
安规头。
具体实施方式
[0041]下面结合附图，具体阐明本技术的实施方式，附图仅供参考和说明使用，不构成对本技术专利保护范围的限制。
[0042]请参阅图1～图2，本实施例中，一种量测产品高度防止漏超声的治具，包括：
[0043]底座1，顶部开设有滑槽11；
[0044]限高组件2，包括支架21和移动块22，所述移动块22与所述支架21在竖直方向上滑动连接，所述支架21设于所述底座1的顶部，所述移动块22向外延设有阻挡结构23，所述阻挡结构23位于所述滑槽11的正上方。
[0045]数显卡尺3，与所述移动块22连接。
[0046]本实施例中，待测量的产品为用于电子设备充电的适配器4，适配器4包括壳体41和具有插脚的安规头42，本申请的治具可供安规头42型号一致的适配器4使用、即使壳体41大小不一也可使用，底座1为电木底座1；测量步骤，(1)高度归零，首先技术员下压移动块22、移动块22在竖直方向上移动至支架21的底端、直至阻挡结构23的底部与滑槽11的底壁相抵，然后将数显卡尺3上的数据清零；(2)高度调整，首先以SOP要求测出适配器4的高度，
SOP要求是生产的标准要求，可按生产的适配器4型号进行调整，即上盖和下盖经过压合、超声波熔接后的高度，并使阻挡结构23与底座1之间形成间隙，然后拧紧数显卡尺3上的定位螺丝，防止移动块22发生偏移，提高测量的精度；(3)高度测试，将组装好的适配器4放置于底座1上，并沿滑槽11滑动至阻挡结构23的正下方，若适配器4能够穿过间隙，则为合格品，反之为不良品，不良品进行返工。
[0047]优选的，还包括：
[0048]避让槽12，开设于所述滑槽11的底部，用于避让产品。
[0049]本实施例中，避让槽12沿适配器4的滑动方向布置、且两端分别开设有开口，检测时，适配器4的插脚插入避让槽12中，用于在适配器4滑动过程中避让插脚。
[0050]优选的，还包括：
[0051]导轨211，设于所述支架21上，所述移动块22通过所述导轨211与所述支架21滑动连接。
[0052]本实施例中，导轨211共设有两个，两个导轨211分别与移动块22的后侧部连接，有利于提高移动块22滑动时的平稳性。
[0053]优选的，还包括：
[0054]调节丝杆212，可转动的设于所述支架21上，所述滑块与所述调节丝杆212螺接。
[0055]本实施例中，支架21的纵剖面呈“[”型，调节丝杆212的底端与支架21的底部转动配合，支架21的顶端开设有供调节丝杆212穿过的穿孔，调节丝杆212的顶端穿过穿孔后外露于支架21的顶部。
[005本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种量测产品高度防止漏超声的治具，其特征在于，包括：底座，顶部开设有滑槽；限高组件，包括支架和移动块，所述移动块与所述支架在竖直方向上滑动连接，所述支架设于所述底座的顶部，所述移动块向外延设有阻挡结构，所述阻挡结构位于所述滑槽的正上方；数显卡尺，与所述移动块连接。2.根据权利要求1所述的一种量测产品高度防止漏超声的治具，其特征在于，还包括：避让槽，开设于所述滑槽的底部，用于避让产品。3.根据权利要求1所述的一种量测产品高度防止漏超声的治具，其特征在于，还包括：导轨，设于所述支架上，所述移动块通过所述导轨与所述支架滑动连接。4.根据权利要求1所述的一种量测产品高度防止漏超声的治具，其特征在于，还包括：调节丝杆，可转动的设于所述支架上，所述移动块与所述调节丝杆螺接。5.根据权利要求4所述的一种量测产品高度防止漏超声的治具，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴小勇，
申请(专利权)人：迈思普电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：