一种校验码生成方法、处理器及电子设备技术

本申请提供一种校验码生成方法、处理器及电子设备，该方法包括：获取校验码计算指令；校验码计算指令包括校验码算法指示信息；校验码计算指令属于处理器CPU指令集中的指令；根据校验码算法指示信息，确定校验码多项式；通过计算电路中的各计算分支，得到每个计算分支输出的校验码；其中，通过对第i

【技术实现步骤摘要】
一种校验码生成方法、处理器及电子设备


[0001]本申请涉及计算机领域，尤其涉及一种校验码生成方法、处理器及电子设备。

技术介绍

[0002]为了保证通信数据的正确性，通常在数据通信中会加入校验算法，其中CRC（循环冗余校验）是最常见的校验算法。CRC一般采用硬件方式或者软件方式实现，硬件方式实现方法简单、执行效率高，但是硬件方式集成后只能实现一种CRC算法，也只能接收一种数据长度的校验数据，功能比较单一；软件方式能够实现不同的CRC算法，但是执行步骤较多，执行效率较低。

技术实现思路

[0003]本申请提供一种校验码生成方法、处理器及电子设备，能够从硬件的角度实现对不同数据长度的校验数据的处理以及能够实现不同的校验算法类型。
[0004]第一方面，本申请实施例提供一种校验码生成方法，应用于通过硬编码方式实现的计算电路，该计算电路集成于处理器中，该方法可以由处理器或处理器的模块执行，本申请对该方法的执行主体不做限定。该方法包括：获取校验码计算指令；校验码计算指令包括校验码算法指示信息；校验码计算指令属于处理器CPU指令集本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种校验码生成方法，其特征在于，应用于通过硬编码方式实现的计算电路；所述方法包括：获取校验码计算指令；所述校验码计算指令包括校验码算法指示信息；所述校验码计算指令属于处理器CPU指令集中的指令；根据所述校验码算法指示信息，确定校验码多项式；通过所述计算电路中的各计算分支，得到每个计算分支输出的校验码；其中，通过对第i
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1计算分支输出的校验码和所述校验码多项式进行计算得到第i计算分支输出的校验码；i为正整数；第0计算分支输出的校验码是根据输入校验码和待校验数据生成的；根据所述校验码算法指示信息，从所述各计算分支输出的校验码中确定所述待校验数据对应的校验码。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述计算电路中的各计算分支，得到每个计算分支输出的校验码之前，还包括：根据所述校验码算法指示信息中的数据长度，将原始数据划分为多组校验数据，并确定所述多组校验数据中的每组校验数据对应的待校验数据；所述根据所述校验码算法指示信息，从所述各计算分支输出的校验码中确定所述待校验数据对应的校验码，包括：将与所述数据长度对应的计算分支输出的校验码中确定所述待校验数据对应的校验码。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述输入校验码为初始校验码或上一组待校验数据对应的校验码；所述原始数据的校验码为所述多组校验数据中的最后一组校验数据对应的校验码。4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述多组校验数据中的每组校验数据对应的待校验数据，包括：针对任一组校验数据，若所述校验数据的数据长度小于计算分支的数量，则将所述校验数据的高位补0，得到所述校验数据对应的待校验数据，其中，待校验数据的数据长度等于所述计算分支的数量。5.如权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述通过对第i
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1计算分支输出的校验码和所述校验码多项式进行计算得到第i计算分支输出的校验码，包括：将所述第i
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1计算分支输出的校验码右移一位，并将最高位补齐，确定更新校验码；若所述第i
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1计算分支输出的校验码的第0位的数值为1，则将所述更新校验码与所述校验码多项式异或后，确定...

【专利技术属性】
技术研发人员：王思为，葛蕾，
申请(专利权)人：上海芯联芯智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：