一种旁路器的标准测试系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及一种旁路器的标准测试系统及方法，包括标准平台，所述标准平台分别与光源和功率计并口连接，所述标准平台通过以太网分别与误码仪表和被测试旁路器通讯连接，该方法通过标准平台，可以减少测试过程的重复操作，如记录光功率数据，计算损耗值，切换接入/旁路状态，查询旁路器流量统计及观察误码仪的流量数据，并且标准平台每次检测都会有详细的测试记录数据，操作简单，计算结果可靠并可提供相应报告供查询。应报告供查询。应报告供查询。

【技术实现步骤摘要】
一种旁路器的标准测试系统及方法


[0001]本专利技术涉及通讯
，具体为一种旁路器的标准测试系统及方法。

技术介绍

[0002]由于旁路设备是防止网络断开的设备，所以其自身的功能保持正常非常重要。如果旁路设备自身的功能不正常，那么它就不能在网络安全设备出现故障时保持网络连接。所以有必要对旁路设备进行测试，保证其正常功能或者提早发现其故障。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种旁路器的标准测试系统及方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种旁路器的标准测试系统，包括标准平台，所述标准平台分别与光源和功率计并口连接，所述标准平台通过以太网分别与误码仪表和被测试旁路器通讯连接。
[0005]可选地，所述被测试旁路器包括WAN口和LAN口，所述WAN口通过光开关与内置光模块相连接，所述LAN口直接与光模块相连接，所述WAN口和LAN口的光模块通过光换芯片相连接。
[0006]可选地，所述WAN口包括WAN1和WAN2，所述WAN1包括WAN1T1和WAN1R1,所述WAN2包括WAN2T2和WAN2R2；所述LAN口包括LAN口1和LAN口2，所述LAN口1包括LAN1T1和LAN1R1,所述LAN2包括LAN2T2和LAN2R。
[0007]一种旁路器的损耗测试方法，所述方法包括如下步骤：
[0008](1)光源与WAN口R1/R2连接，功率计与WAN口T1/T2连接；
[0009](2)测试第一组损耗值：标准平台通过以太网控制被测试旁路器切换到旁路状态，标准平台通过并口控制开启光源，读取光源读值P0/P1，同时标准平台通过并口控制功率计，读取功率计读值P2/P3；通过读值计算损耗值，即R1
‑‑
>T2，损耗＝P0
‑
P2，R2
‑‑
>T1，损耗＝P1
‑
P3；
[0010](3)测试第二组损耗值：定义WAN1光模块为SFP1_tx/rx,WAN2光模块为SFP2_tx/rx，标准平台通过以太网控制被测试旁路器切换到接入状态，标准平台通过并口控制开启光源，读取光源读值P0/P1，同时标准平台通过并口控制功率计，读取功率计读值P6/P8，标准平台通过以太网读取到WAN1的发光功率及收光功率为P4和P5，WAN2的发光功率及收光功率为P9和P7，通过读值计算损耗值，即R1
‑‑
>SFP1_rx，损耗＝P0
‑
P4；SFP1_tx
‑‑
>T1，损耗＝P5
‑
P6；R2
‑‑
>SFP2_rx，损耗＝P1
‑
P9；SFP2_tx
‑‑
>T2，损耗＝P7
‑
P8。
[0011]可选地，所述损耗测试中也会判断光路是否正常，步骤为：关闭一端光源输出，检测另一端是否有收光，若光源关闭状态下另一端仍有收光，说明光路异常，检测不通过。
[0012]一种旁路器的误码测试方法，所述方法包括如下步骤：
[0013](1)误码仪表通过光纤连接T1和R1端口或者T2和R2端口，被测试旁路器的LAN口安
装光模块，使用光纤相邻收发端口连接；
[0014](2)标准平台通过以太网控制被测试旁路器切换到接入状态，标准平台通过以太网控制误码仪表，误码仪表开启发包功率，通过与被测试旁路器转发最终流量回到误码仪；
[0015](3)标准平台通过读取发包和收包数量是否一致判定测试是否通过，要求5分钟内不丢包，同时标准平台会读取被测试旁路器的流量统计，同步确认流量经过被测试旁路器后有无错包或丢包，若出现错包或丢包，判定不合格。
[0016]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0017]该专利技术旁路器的标准测试系统及方法，通过标准平台，可以减少测试过程的重复操作，如记录光功率数据，计算损耗值，切换接入/旁路状态，查询旁路器流量统计及观察误码仪的流量数据，并且标准平台每次检测都会有详细的测试记录数据，操作简单，计算结果可靠并可提供相应报告供查询。
附图说明
[0018]图1为本专利技术系统的连接关系图；
[0019]图2为本专利技术旁路器的接口示意图；
[0020]图3为本专利技术测试第一组损耗值的测试连接图；
[0021]图4为本专利技术测试第二组损耗值的测试连接图；
[0022]图5为本专利技术误码测试的测试连接图。
具体实施方式
[0023]为更进一步阐述本专利技术为实现预定专利技术目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本专利技术的具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
[0024]如图1
‑
5所示，一种旁路器的标准测试系统，包括标准平台，所述标准平台分别与光源和功率计并口连接，所述标准平台通过以太网分别与误码仪表和被测试旁路器通讯连接，所述被测试旁路器包括WAN口和LAN口，所述WAN口通过光开关与内置光模块相连接，所述LAN口直接与光模块相连接，所述WAN口和LAN口的光模块通过光换芯片相连接，所述WAN口包括WAN1和WAN2，所述WAN1包括WAN1T1和WAN1R1,所述WAN2包括WAN2T2和WAN2R2；所述LAN口包括LAN口1和LAN口2，所述LAN口1包括LAN1T1和LAN1R1,所述LAN2包括LAN2T2和LAN2R2。
[0025]一种旁路器的损耗测试方法，所述方法包括如下步骤：
[0026](1)光源与WAN口R1/R2连接，功率计与WAN口T1/T2连接；
[0027](2)测试第一组损耗值：标准平台通过以太网控制被测试旁路器切换到旁路状态，标准平台通过并口控制开启光源，读取光源读值P0/P1，同时标准平台通过并口控制功率计，读取功率计读值P2/P3；通过读值计算损耗值，即R1
‑‑
>T2，损耗＝P0
‑
P2，R2
‑‑
>T1，损耗＝P1
‑
P3；
[0028](3)测试第二组损耗值：定义WAN1光模块为SFP1_tx/rx,WAN2光模块为SFP2_tx/rx，标准平台通过以太网控制被测试旁路器切换到接入状态，标准平台通过并口控制开启光源，读取光源读值P0/P1，同时标准平台通过并口控制功率计，读取功率计读值P6/P8，标准平台通过以太网读取到WAN1的发光功率及收光功率为P4和P5，WAN2的发光功率及收光功
率为P9和P7，通过读值计算损耗值，即R1
‑‑
>SFP1_rx，损耗＝P0
‑
P4；SFP1_tx
‑‑
>T1，损耗＝P5
‑
P6本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种旁路器的标准测试系统，其特征在于，包括标准平台，所述标准平台分别与光源和功率计并口连接，所述标准平台通过以太网分别与误码仪表和被测试旁路器通讯连接。2.根据权利要求1所述的一种旁路器的标准测试系统，其特征在于，所述被测试旁路器包括WAN口和LAN口，所述WAN口通过光开关与内置光模块相连接，所述LAN口直接与光模块相连接，所述WAN口和LAN口的光模块通过光换芯片相连接。3.根据权利要求2所述的一种旁路器的标准测试系统，其特征在于，所述WAN口包括WAN1和WAN2，所述WAN1包括WAN1T1和WAN1R1,所述WAN2包括WAN2T2和WAN2R2；所述LAN口包括LAN口1和LAN口2，所述LAN口1包括LAN1T1和LAN1R1,所述LAN2包括LAN2T2和LAN2R2。4.一种旁路器的损耗测试方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：(1)光源与WAN口R1/R2连接，功率计与WAN口T1/T2连接；(2)测试第一组损耗值：标准平台通过以太网控制被测试旁路器切换到旁路状态，标准平台通过并口控制开启光源，读取光源读值P0/P1，同时标准平台通过并口控制功率计，读取功率计读值P2/P3；通过读值计算损耗值，即R1
‑‑
>T2，损耗＝P0
‑
P2，R2
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>T1，损耗＝P1
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P3；(3)测试第二组损耗值：定义WAN1光模块为SFP1_tx/rx,WAN2光模块为SFP2_tx/rx，标准平台通过以太网控制被测试旁路器切换到接入状态，标准平台通过并口控制开启光...

【专利技术属性】
技术研发人员：揭德锋，吴志远，谢虎，李琳，
申请(专利权)人：上海欣诺通信技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：