基于结构光的单频率锯齿波三维测量方法技术

本发明专利技术属于三维测量技术领域，具体公开一种基于结构光的单频率锯齿波三维测量方法，本发明专利技术投影仪只需播放一张图片，相机只需拍摄一张图片的情况下就能完成平面起伏的检测，大大加快了检测速度，简化了检测逻辑，提升了检测前基底数据的获取效率。本发明专利技术可以在极短时间(<1s)内获得一个平面精确的起伏情况分析，其Z方向分辨率可高达3μm。对于平面度要求较高的工业场景有极大作用，如增材制造铺粉、大面积涂覆、平面均匀度检测等。对于平面度要求较高的工业场景有极大作用，如增材制造铺粉、大面积涂覆、平面均匀度检测等。尤其对于高像素大幅面检测，可以大大降低图片采集与计算的时间。间。间。

【技术实现步骤摘要】
基于结构光的单频率锯齿波三维测量方法


[0001]本专利技术属于三维测量
，具体涉及一种基于结构光的单频率锯齿波三维测量方法，相比现有的多频外差方式，具有计算量小、求解速度快的特点，适合于高像素大幅面的快速检测，可以大大降低图片采集与计算的时间。

技术介绍

[0002]条纹投影轮廓术因其高速、高精度、非接触、全场测量、快速信息获取等优点，在三维测量中有重要意义，已广泛应用于工业制造、文物保护、医疗等诸多领域。参见专利号CN201810470370.X公开的双频外差与相移编码相结合的三维测量方法所详述的，图5所示，现有三维测量系统包括DLP投影仪1、相机2、工作站(或计算机)3、测量支架4、参考平面5和待测物体6；DLP投影仪1和CCD相机2放在测量支架4上；DLP投影仪1、CCD相机2分别通过数据线连接工作站3；待测物体6放在参考平面5上。DLP投影仪1将带有特征信息的条纹聚焦投射到被测物体6表面，由相机2采集条纹信息，经过工作站3处理后提取出特征信息，并按照特定算法进行三维重建。DLP投影仪1光轴和相机2光轴相交于O点。DLP投影仪1和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于结构光的单频率锯齿波三维测量方法，其特征在于，包括如下步骤：1)生成两张锯齿波条纹图案y1，y2：y1＝k*mod(x，λ)+b
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(1)其中，k决定两个锯齿波的对比度，λ是锯齿波的波长，b决定锯齿波的亮度，x为空间位置，mod()为取余数运算；2)播放锯齿波条纹图案：通过投影仪向参考平面和被测物体上播放波长为λ的两张锯齿波条纹图案y1，y2，并通过相机采集调制后的条纹图案和其中为参考平面上未放被测物体时采集的相位，负责...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵景洲，佐凯，鲍光，王佳，
申请(专利权)人：湖南华曙高科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：