一种纳米晶材料检测系统技术方案

本发明专利技术提供了一种纳米晶材料检测系统，属于纳米晶材料技术领域，包括工作台、安装于工作台上的第一运输器、驱动器、外形检测器、性能检测器及推动器、第二运输器、机械爪，第一运输器具有环形轨道和支撑块体，支撑块体上设有安装槽、连接孔，推动器安装于支撑块体上，推动器的自由端上设有电连接件，驱动器具有环形移动模块，多个支撑块体与环形移动模块固定连接；外形检测器位于环形轨道的上方，性能检测器具有检测模块和连接探针，第二运输器位于第一运输器的下方，机械爪安装于第一运输器和第二运输器的一侧。本发明专利技术提供的纳米晶材料检测系统，实现了纳米晶材料的自动化检测，提高了纳米晶材料的检测效率和检测准确度。米晶材料的检测效率和检测准确度。米晶材料的检测效率和检测准确度。

【技术实现步骤摘要】
一种纳米晶材料检测系统


[0001]本专利技术属于纳米晶材料
，更具体地说，是涉及一种纳米晶材料检测系统。

技术介绍

[0002]纳米晶材料具有高饱和磁感应强度、高导磁率、低矫顽力、低损耗及良好的稳定性、高强韧性及耐磨耐蚀等优异特性,作为在金属软磁材料中具有优良的性能价格比的纳米晶合金材料,可以替代硅钢、坡莫合金和铁氧体成为中高频变压器、互感器、电感元器件的理想材料。纳米晶材料的产品在制备后需要对其外形尺寸、电性能等特性进行检测，以使纳米晶材料可以高效、可靠地工作。
[0003]目前，在对纳米晶材料进行需要人工手动将产品放置于操作台上进行检测，且需要人工逐一地将纳米晶材料进行电连接，这种方式效率较低，也存在人工操作而降低检测准确度的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种纳米晶材料检测系统，以解决现有技术中存在的纳米晶材料特性检测效率较低，且检测准确度不足的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术采用的技术方案是：提供一种纳米晶材料检测系统，包括工作台、安装于工作台上的第一运输器、驱动器、外形检测器、性能检测器及推动器、第二运输器、机械爪，第一运输器具有环形轨道和多个滑动连接于环形轨道上的支撑块体；支撑块体上设有安装槽、位于安装槽一侧且与安装槽相连通的连接孔；推动器安装于支撑块体上；推动器的自由端上设有滑动连接于连接孔内的电连接件；驱动器具有环形移动模块，多个支撑块体与环形移动模块固定连接；外形检测器位于环形轨道的上方，用于检测待测试件的外形尺寸；性能检测器位于环形轨道的上方，性能检测器具有检测模块和连接探针，连接探针与电连接件相连接；第二运输器位于第一运输器的下方，且与第一运输器交错布置；机械爪安装于第一运输器和第二运输器的一侧，用于抓取待测试件。
[0006]在一种可能的实现方式中，所述支撑块体的下端设有两组导向滑轮，两组所述导向滑轮分别滑动连接于所述环形轨道的外壁和内壁上；
[0007]所述环形移动模块包括：
[0008]环形带，所述环形带的内侧面上设有齿面，外侧面为安装平面，多个所述支撑块体均与所述安装平面相连接；
[0009]所述驱动器还包括：
[0010]主动轮，转动连接于所述工作台上，且与所述齿面啮合连接；
[0011]从动轮，转动连接于所述工作台上，且与所述齿面啮合连接；所述主动轮和所述从动轮间隔设置；所述环形带套装于所述主动轮和所述从动轮上；
[0012]驱动电机，固设于所述工作台上；所述驱动电机与所述主动轮传动连接。
[0013]在一种可能的实现方式中，所述连接孔为L型孔，上孔口开设于所述支撑块体的上
端面上，下孔口开设于所述安装槽的槽侧壁上；所述连接孔的上孔口为长条状；所述电连接件为L型结构，且滑动连接于所述连接孔中；所述推动器的自由端设有绝缘块体，所述电连接件与所述绝缘块体相连接。
[0014]在一种可能的实现方式中，所述支撑块体上还设有两个用于与所述机械爪相适配避让槽，所述避让槽与所述安装槽相连通，且两个所述避让槽分别安装于所述安装槽相对的两侧；所述安装槽的一内壁上设有多个弹性定位件。
[0015]在一种可能的实现方式中，所述安装槽内还设有升降器和左右翻转器，所述升降器安装于所述安装槽的槽底面上，所述左右翻转器安装于所述升降器的顶部；待测试件安装于所述左右翻转器上，所述升降器驱动所述左右翻转器和待测试件上移，所述左右翻转器产生两个反向的翻转动作并驱动待测试件自所述安装槽内脱离，且移动至所述安装槽的两侧。
[0016]在一种可能的实现方式中，所述左右翻转器包括：
[0017]底座，固设于所述升降器的自由端；
[0018]安装座，数量为两个，分别固设于所述底座的两侧；两个所述安装座相对的一侧均开设有弧形凹槽；
[0019]支撑板，两端分别支撑于两个所述安装座上；所述支撑板的下端面两侧均设有安装块和安装于所述安装块上的转动轴，两个所述转动轴分别转动连接于两个所述弧形凹槽内；
[0020]限位组件，数量为两个，分别活动连接于两个所述安装座上；两个所述限位组件用于限定对应的所述支撑板的一端的位置；
[0021]驱动组件，安装于所述底座上，且与所述支撑板传动连接；所述驱动组件用于控制所述支撑板围绕其中一个所述转动轴发生转动，使所述支撑板朝向左侧翻转或者朝向右侧翻转。
[0022]在一种可能的实现方式中，所述安装座上均设有位于所述弧形凹槽上方的滑动孔；所述限位组件包括：
[0023]水平挡板，数量为两个，分别滑动连接于对应的所述滑动孔中，且用于安装于所述弧形凹槽的上方；
[0024]竖向板，数量为两个，且与两个所述水平挡板一一对应；两个所述竖向板的上端分别与对应的所述水平挡板远离所述弧形凹槽的一端固定连接；
[0025]直线驱动机构，安装于所述底座上，且与两个所述竖向板固定连接，用于驱动两个所述水平挡板在对应的所述滑动孔中移动；
[0026]所述驱动组件包括电动机、第一连杆和第二连杆，所述第一连杆的下端与所述底座铰接，所述第二连杆的下端与所述第一连杆的上端铰接，所述第二连杆的上端与所述支撑板的下端铰接，所述电动机固设于所述底座上，且与所述第一连杆传动连接。
[0027]在一种可能的实现方式中，所述外形检测器包括第一支撑架、第一推杆、压实块、激光传感器及摄像器，所述第一支撑架位于所述环形轨道的上方，所述第一推杆固设于所述第一支撑架上，且自由端向下延伸；所述压实块和所述激光传感器均固设于所述第一推杆的自由端上，且所述压实块的下端面低于所述激光传感器。
[0028]在一种可能的实现方式中，所述性能检测器包括第二支撑架、第二推杆，所述第二
支撑架位于所述环形轨道的上方，所述第二推杆固设于所述第二支撑架上，且自由端向下延伸；所述检测模块固设于所述第二支撑架上，所述连接探针安装于所述第二支撑架上，所述连接探针通过连接线与所述检测模块相连接。
[0029]在一种可能的实现方式中，第二运输器为环形结构，且长度方向与所述第一运输器的长度方向相垂直；所述环形结构的两个运输路线分别位于所述第一运输器的内侧和外侧。
[0030]本专利技术提供的纳米晶材料检测系统的有益效果在于：与现有技术相比，本专利技术纳米晶材料检测系统，使用时，将纳米晶材料放置于支撑块体的安装槽中，经由第一运输器、驱动器及环形移动模块的作用使其沿环形轨道运动，当运动至外形检测器的下方时，关停驱动器，并由外形检测器检测纳米晶材料的外形尺寸、厚度等信息；启动驱动器控制支撑块体继续运动至性能检测器的下方，在此过程中启动推动器控制电连接件在连接孔中滑动并与纳米晶材料相连接，再通过连接探针与电连接件连接，并借助检测模块对纳米晶材料进行检测；检测完成后，再由驱动器、第一运输器带动支撑块体和纳米晶材料运动至靠近机械爪位置，由机械爪将纳米晶材料支撑块体上取下放置于第二运输器上，对质量合格的纳米晶材料由第二运输器运输走，对于不合格的纳米晶材料则有第本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种纳米晶材料检测系统，其特征在于，包括工作台、安装于工作台上的第一运输器、驱动器、外形检测器、性能检测器及推动器、第二运输器、机械爪，第一运输器具有环形轨道和多个滑动连接于环形轨道上的支撑块体；支撑块体上设有安装槽、位于安装槽一侧且与安装槽相连通的连接孔；推动器安装于支撑块体上；推动器的自由端上设有滑动连接于连接孔内的电连接件；驱动器具有环形移动模块，多个支撑块体与环形移动模块固定连接；外形检测器位于环形轨道的上方，用于检测待测试件的外形尺寸；性能检测器位于环形轨道的上方，性能检测器具有检测模块和连接探针，连接探针与电连接件相连接；第二运输器位于第一运输器的下方，且与第一运输器交错布置；机械爪安装于第一运输器和第二运输器的一侧，用于抓取待测试件。2.如权利要求1所述的纳米晶材料检测系统，其特征在于，所述支撑块体的下端设有两组导向滑轮，两组所述导向滑轮分别滑动连接于所述环形轨道的外壁和内壁上；所述环形移动模块包括：环形带，所述环形带的内侧面上设有齿面，外侧面为安装平面，多个所述支撑块体均与所述安装平面相连接；所述驱动器还包括：主动轮，转动连接于所述工作台上，且与所述齿面啮合连接；从动轮，转动连接于所述工作台上，且与所述齿面啮合连接；所述主动轮和所述从动轮间隔设置；所述环形带套装于所述主动轮和所述从动轮上；驱动电机，固设于所述工作台上；所述驱动电机与所述主动轮传动连接。3.如权利要求1所述的纳米晶材料检测系统，其特征在于，所述连接孔为L型孔，上孔口开设于所述支撑块体的上端面上，下孔口开设于所述安装槽的槽侧壁上；所述连接孔的上孔口为长条状；所述电连接件为L型结构，且滑动连接于所述连接孔中；所述推动器的自由端设有绝缘块体，所述电连接件与所述绝缘块体相连接。4.如权利要求1所述的纳米晶材料检测系统，其特征在于，所述支撑块体上还设有两个用于与所述机械爪相适配避让槽，所述避让槽与所述安装槽相连通，且两个所述避让槽分别安装于所述安装槽相对的两侧；所述安装槽的一内壁上设有多个弹性定位件。5.如权利要求1所述的纳米晶材料检测系统，其特征在于，所述安装槽内还设有升降器和左右翻转器，所述升降器安装于所述安装槽的槽底面上，所述左右翻转器安装于所述升降器的顶部；待测试件安装于所述左右翻转器上，所述升降器驱动所述左右翻转器和待测试件上移，所述左右翻转器产生两个反向的翻转动作并驱动待测试件自所述安装槽内脱离，且移动至所述安装槽的两侧。6.如权利要求5所述的纳米...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋文乐，康勇，马阳阳，王磊，
申请(专利权)人：国家电网有限公司，
类型：发明
国别省市：