数据校正方法技术

本申请涉及一种数据校正方法。所述方法包括：控制X射线发射装置在多个发射条件下进行X射线发射；获取目标探测器在各所述发射条件下均进行多次响应得到的多个第一计数数据；基于所述多个发射条件和所述多个第一计数数据进行数据拟合处理，得到目标校正关系；所述目标校正关系用于表征校正后计数数据与校正前计数数据之间的映射关系；利用所述目标校正关系对待校正的第二计数数据进行校正处理，得到校正后的目标计数数据。采用本方法能够提高探测器的响应均匀性。器的响应均匀性。器的响应均匀性。

【技术实现步骤摘要】
数据校正方法
[0001]本专利技术专利申请是申请日为2021年12月06日、申请号为2021114762871、名称为“数据校正方法、装置、计算机设备和存储介质”的中国专利技术专利申请的分案申请。


[0002]本申请涉及数据校正
，特别是涉及一种数据校正方法。

技术介绍

[0003]获得高质量CT(Computed Tomography，计算机断层扫描)图像一直是研究者和放射科医生共同关注的热门方向和研究难题。近年来，光子计数探测器(Photon Counting Detectors，PCD)逐渐在临床前和临床应用中广泛使用。但是，由于晶体材料和专用集成电路存在缺陷，光子计数探测器的响应均匀性并不理想，容易导致CT图像出现伪影和噪声。
[0004]目前，主要采用平场校正(Flat Field Correction)的方式来提高光子计数探测器的响应均匀性，从而消除CT图像中的伪影和噪声。然而，平场校正对光子计数探测器的响应均匀性提高并不突出，仍不能满足某些应用场景下的需求。

技术实现思路

[0005]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高探测器的响应均匀性的数据校正方法。
[0006]第一方面，本申请提供了一种数据校正方法。该方法包括：
[0007]控制X射线发射装置在多个发射条件下进行X射线发射；
[0008]获取目标探测器在各发射条件下均进行多次响应得到的多个第一计数数据；
[0009]基于多个发射条件和多个第一计数数据进行数据拟合处理，得到目标校正关系；目标校正关系用于表征校正后计数数据与校正前计数数据之间的映射关系；
[0010]利用目标校正关系对待校正的第二计数数据进行校正处理，得到校正后的目标计数数据。
[0011]在其中一个实施例中，目标探测器包括多个探测器像素，第一计数数据包括各探测器像素得到的像素计数数据；上述基于多个发射条件和多个第一计数数据进行数据拟合处理，得到目标校正关系，包括：
[0012]根据单个探测器像素多次响应的像素计数数据与对应的发射条件进行数据拟合处理，得到像素计数数据随发射条件变化的第一线性关系；
[0013]根据多个探测器像素多次响应的像素计数数据与对应的发射条件进行数据拟合处理，得到像素计数数据随发射条件变化的第二线性关系；
[0014]根据第一线性关系和第二线性关系确定目标校正关系。
[0015]在其中一个实施例中，上述根据单个探测器像素多次响应的像素计数数据与对应的发射条件进行数据拟合处理，得到像素计数数据随发射条件变化的第一线性关系，包括：
[0016]计算各探测器像素在各发射条件下进行多次响应得到的多个像素计数数据的计
数平均值；
[0017]根据各发射条件对应的计数平均值进行数据拟合处理，得到第一线性关系。
[0018]在其中一个实施例中，上述根据多个探测器像素多次响应的像素计数数据与对应的发射条件进行数据拟合，得到像素计数数据随发射条件变化的第二线性关系，包括：
[0019]确定多个探测器像素的计数平均值的计数中值；
[0020]根据各发射条件对应的计数中值进行数据拟合处理，得到第二线性关系。
[0021]在其中一个实施例中，发射条件包括工作电流，第一线性关系包括探测器像素的计数平均值为第一乘积与第一偏差系数的和，第一乘积为第一增益系数与工作电流的乘积；
[0022]第二线性关系包括探测器像素的计数中值为第二乘积与第二偏差系数的和，第二乘积为第二增益系数与工作电流的乘积。
[0023]在其中一个实施例中，目标校正关系包括目标增益系数和目标偏差系数两个目标校正系数，上述利用目标校正关系对第二计数数据进行校正处理，得到校正后的目标计数数据，包括：
[0024]根据多个探测器像素对应的目标校正系数，将多个探测器像素划分为系数正常的第一探测器像素和系数异常的第二探测器像素；
[0025]根据各第一探测器像素对应的目标校正系数对各第一探测器像素的第二计数数据进行校正处理，得到各第一探测器像素的目标计数数据；
[0026]采用预设校正算法对各第二探测器像素的第二计数数据进行校正处理，得到各第二探测器像素的目标计数数据。
[0027]第二方面，本申请还提供了一种数据校正装置。该装置包括：
[0028]发射控制模块，用于控制X射线发射装置在多个发射条件下进行X射线发射；
[0029]数据获取模块，用于获取目标探测器在各发射条件下均进行多次响应得到的多个第一计数数据；
[0030]关系确定模块，用于基于多个发射条件和多个第一计数数据进行数据拟合处理，得到目标校正关系；目标校正关系用于表征校正后计数数据与校正前计数数据之间的映射关系；
[0031]校正处理模块，用于利用目标校正关系对待校正的第二计数数据进行校正处理，得到校正后的目标计数数据。
[0032]在其中一个实施例中，目标探测器包括多个探测器像素，第一计数数据包括各探测器像素得到的像素计数数据；上述关系确定模块包括：
[0033]第一关系确定子模块，用于根据单个探测器像素多次响应的像素计数数据与对应的发射条件进行数据拟合处理，得到像素计数数据随发射条件变化的第一线性关系；
[0034]第二关系确定子模块，用于根据多个探测器像素多次响应的像素计数数据与对应的发射条件进行数据拟合处理，得到像素计数数据随发射条件变化的第二线性关系；
[0035]第三关系确定子模块，用于根据第一线性关系和第二线性关系确定目标校正关系。
[0036]在其中一个实施例中，上述第一关系确定子模块，具体用于计算各探测器像素在各发射条件下进行多次响应得到的多个像素计数数据的计数平均值；根据各发射条件对应
的计数平均值进行数据拟合处理，得到第一线性关系。
[0037]在其中一个实施例中，上述第二关系确定子模块，具体用于确定多个探测器像素的计数平均值的计数中值；根据各发射条件对应的计数中值进行数据拟合处理，得到第二线性关系。
[0038]在其中一个实施例中，发射条件包括工作电流，第一线性关系包括探测器像素的计数平均值为第一乘积与第一偏差系数的和，第一乘积为第一增益系数与工作电流的乘积；
[0039]第二线性关系包括探测器像素的计数中值为第二乘积与第二偏差系数的和，第二乘积为第二增益系数与工作电流的乘积。
[0040]在其中一个实施例中，目标校正关系包括目标增益系数和目标偏差系数两个目标校正系数，上述校正处理模块，具体用于根据多个探测器像素对应的目标校正系数，将多个探测器像素划分为系数正常的第一探测器像素和系数异常的第二探测器像素；根据各第一探测器像素对应的目标校正系数对各第一探测器像素的第二计数数据进行校正处理，得到各第一探测器像素的目标计数数据；采用预设校正算法对各第二探测器像素的第二计数数据进行校正处理，得到各第二探测器像素的目标计数数据。
[0041]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数据校正方法，其特征在于，所述方法包括：控制X射线发射装置在多个发射条件下进行X射线发射；获取目标探测器在各所述发射条件下均进行多次响应得到的多个第一计数数据；基于所述多个发射条件和所述多个第一计数数据进行数据拟合处理，得到目标校正关系；所述目标校正关系用于表征校正后计数数据与校正前计数数据之间的映射关系；利用所述目标校正关系对待校正的第二计数数据进行校正处理，得到校正后的目标计数数据。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标探测器包括多个探测器像素，所述第一计数数据包括各所述探测器像素得到的像素计数数据；所述基于所述多个发射条件和所述多个第一计数数据进行数据拟合处理，得到目标校正关系，包括：根据单个探测器像素多次响应的像素计数数据与对应的发射条件进行数据拟合处理，得到像素计数数据随发射条件变化的第一线性关系；根据多个探测器像素多次响应的像素计数数据与对应的发射条件进行数据拟合处理，得到像素计数数据随发射条件变化的第二线性关系；根据所述第一线性关系和所述第二线性关系确定所述目标校正关系；其中，所述根据所述第一线性关系和所述第二线性关系确定所述目标校正关系，包括：将所述第一线性关系代入到所述第二线性关系中进行计算，得到所述目标校正关系。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据单个探测器像素多次响应的像素计数数据与对应的发射条件进行数据拟合处理，得到像素计数数据随发射条件变化的第一线性关系，包括：计算各所述探测器像素在各所述发射条件下进行多次响应得到的多个像素计数数据的计数平均值；根据各所述发射条件对应的计数平均值进行数据拟合处理，得到所述第一线性关系。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述目标校正关系包括目标增益系数和目标偏差系数两个目标校正系数，所述利用所述目标校正关系对第二计数数据进行校正处理，得到校正后的目标计数数据，包括：根据多个所述探测器像素对应的目标校正系数，将所述多个探测器像素划分为系数正常的第一探测器像素和系数异常的第二探测器像素；根据各所述第一探测器像素对应的目标校正系数对各所述第一探测器像素的第二计数数...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐探，许文挺，
申请(专利权)人：武汉联影生命科学仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：