滤波器散射参数仿真方法技术

本发明专利技术涉及射频测试技术领域，具体涉及一种滤波器散射参数仿真方法，包括：根据滤波器的目标散射参数调节每个调谐装置至标准高度，并记每个调谐装置的标准高度为h

【技术实现步骤摘要】
滤波器散射参数仿真方法


[0001]本专利技术涉及射频测试
，具体涉及一种滤波器散射参数仿真方法。

技术介绍

[0002]滤波器主要由腔体和调谐装置两部分组成，调谐装置有调谐螺钉、调谐片和VARActor等。其中，调谐装置伸入腔体的程度决定了腔体内电磁场的分布模式。不同的电磁场分布模式对应着不同的共振频率，因而对应着不同的中心频率。
[0003]调谐装置影响着滤波器的散射参数，即S参数。
[0004]滤波器作为一种频率选择装置被广泛应用于通信领域，主要用于选择通信信号，滤除通信信号频率外的杂波或干扰信号。由于加工工艺复杂，需要对滤波器进行反复测试。为提高测试效率，会仿真滤波器在调谐装置伸入腔体不同高度时的散射参数，预测结果，从而缩短开发时间，快速投入生产。
[0005]就目前的技术，主要方案是根据A.E.ATIA和A.E.WILLIAMS提出的耦合模型，结合滤波器详细内部结构，计算耦合模型内的参数，找到滤波器上每颗螺钉和该工件输出的散射参数之间的映射关系。
[0006]但是现有技术过于依赖理想模型，很难克服实践生产出来的产品和理论结果的误差，并且没有和螺钉的高度有实质性的映射关系。

技术实现思路

[0007]专利技术目的：提供一种准确度高的滤波器散射参数仿真方法。
[0008]技术方案：
[0009]在一方面，本申请提供一种滤波器散射参数仿真方法，滤波器包括腔体和n个调谐装置，所述仿真方法包括：
[0010]根据所述滤波器的目标散射参数调节每个调谐装置至标准高度，并记每个所述调谐装置的标准高度为h
′
n
，并记每个所述调节螺钉的高度所对应的目标散射参数为S
n|std
；
[0011]调节每个所述调谐装置的高度并测试所述滤波器对应的散射参数，调节m次，生成散射参数采集矩阵S
collect
，并记所述调谐装置对应的采集高度为h
n
；
[0012]根据所述调节次数、所述调谐装置的数量和所述目标散射参数S
n|std
设所述滤波器的散射参数标准矩阵为S
std
；
[0013]将所述散射参数标准矩阵S
std
、所述调谐装置的标准高度h
′
n
、所述散射参数采集矩阵S
collect
、所述调谐装置的采集高度h
n
根据预设规则得出所述调谐装置的高度和所述滤波器的散射参数的关系函数矩阵S＝S
n|std
‑
G1(h1‑
h
′1)
‑
G2(h2‑
h
′2)
‑
G3(h3‑
h
′3)......
‑
G4(h
n
‑
h
′
n
)。
[0014]在一些实施方式中，所述调节每个所述调谐装置的高度并测试所述滤波器对应的散射参数，调节m次，生成散射参数采集矩阵S
collect
包括：
[0015]调节所述调谐装置每增加一个单元高度，检测对应的散射参数，共调节u次；
[0016]调节所述调谐装置每减少一个单元高度，检测对应的散射参数，共调节v次；
[0017]所述散射参数采集矩阵为
[0018]在一些实施方式中，所述根据所述调节次数和所述调谐装置的数量设所述滤波器的散射参数标准矩阵为S
std
，所述
[0019]在一些实施方式中，所述预设规则包括：
[0020]将所述散射参数采集矩阵S
collect
和所述散射参数标准矩阵S
std
作差得到散射参数变化量矩阵
[0021]一次项线性拟合后得出所述调谐装置高度变化量和所述滤波器的散射参数变化量的关系函数矩阵ΔS＝[G1(h1‑
h
′1)，G2(h2‑
h
′2)，G3(h3‑
h
′3)，......，G
n
(h
n
‑
h
′
n
)]。
[0022]在一些实施方式中，所述调节所述调谐装置每增加一个单元高度包括顺时针转动所述调谐装置，所述调节所述调谐装置每减少一个单元高度包括逆时针转动所述调谐装置。
[0023]在一些实施方式中，所述调谐装置为调谐螺钉。
[0024]在一些实施方式中，所述测试所述滤波器对应的散射参数的仪器为矢量网络分析仪。
[0025]在一些实施方式中，所述散射参数为S
11
、S
12
、S
21
和S
22
中任一种。
[0026]在另一方面，本申请还提供一种滤波器调试设备，包括存储器和处理器；
[0027]所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的程序或指令，所述处理器执行所述程序或所述指令时实现如上述任一实施方式所描述的滤波器散射参数仿真方法的步骤。
[0028]在又一方面，本申请还提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质内存储有计算机程序，所述计算机程序运行时，执行时实现上述任一实施方式所描述的滤波器散射参数仿真方法步骤。
[0029]有益效果：
[0030]本申请提供的滤波器散射参数仿真方法，以实际生产的滤波器为样本采集数据，建立起的函数关系为调谐装置高度和散射参数的实质性映射关系，仿真效果更加准确，为后续调试滤波器性能提供了更准确的数据基础。且以目标(设计/理想)散射参数为基准高度，构建高度变化量与散射参数的关系函数，仿真数据更准确。
附图说明
[0031]图1为滤波器的剖视图；
[0032]图2为本申请一实施例提供的滤波器散射参数仿真模型的原理示意图；
[0033]图3为本申请一实施例提供的滤波器散射参数仿真方法的步骤流程图；
[0034]图4为本申请一实施例提供的滤波器散射参数仿真方法的步骤流程图；
[0035]其中：
[0036]10、腔体；20、调谐装置。
具体实施方式
[0037]下面通过附图对本专利技术技术方案进行详细说明，但是本专利技术的保护范围不局限于所述实施例。
[0038]图1为滤波器的剖视图。
[0039]如图1所示，滤波器包括腔体10和n个调谐装置20，调谐装置20伸入腔体10的程度决定了腔体10内电磁场的分布模式。不同的电磁场分布模式对应着不同的共振频率，因而对应着不同的中心频率，即测试出的散射参数会不同，进而调谐装置20会影响滤波器的散射参数。
[0040]为保障滤波器的性能质量，需要对滤波器进行调试，一般通过矢量网络分析仪检测的散射参数(Scatter，即S参数)曲线进行调试并判断调试结果。
[0041]滤波器模型结构和加工工艺复本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种滤波器散射参数仿真方法，滤波器包括腔体和n个调谐装置，其特征在于，所述仿真方法包括：根据所述滤波器的目标散射参数调节每个调谐装置至标准高度，并记每个所述调谐装置的标准高度为h
′
n
，并记每个所述调节螺钉的高度所对应的目标散射参数为S
n|std
；调节每个所述调谐装置的高度并测试所述滤波器对应的散射参数，调节m次，生成散射参数采集矩阵S
collect
，并记所述调谐装置对应的采集高度为h
n
；根据所述调节次数、所述调谐装置的数量和所述目标散射参数S
n|std
设所述滤波器的散射参数标准矩阵为S
std
；将所述散射参数标准矩阵S
std
、所述调谐装置的标准高度h
′
n
、所述散射参数采集矩阵S
collect
、所述调谐装置的采集高度h
n
根据预设规则得出所述调谐装置的高度和所述滤波器的散射参数的关系函数矩阵S＝S
n|std
‑
G1(h1‑
h
′1)
‑
G2(h2‑
h
′2)
‑
G3(h3‑
h
′3)
……‑
G4(h
n
‑
h
′
n
)。2.根据权利要求1所述的一种滤波器散射参数仿真方法，其特征在于，所述调节每个所述调谐装置的高度并测试所述滤波器对应的散射参数，调节m次，生成散射参数采集矩阵S
collect
包括：调节所述调谐装置每增加一个单元高度，检测对应的散射参数，共调节u次；调节所述调谐装置每减少一个单元高度，检测对应的散射参数，共调节v次；所述散射参数采集矩阵为3.根据权利要求2所述的一种滤波器散射参数...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱文斌，
申请(专利权)人：苏州畅恒通信科技有限公司，
类型：发明
国别省市：