一种倒角确定方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本申请提供了一种倒角确定方法、装置、设备及介质，在本申请实施例中，电子设备基于关键点检测算法，对实际生产中带有毛刺或圆弧特征的倒角进行检测时，能够有效定位倒角顶点，并且基于最小外接矩形确定倒角轮廓点，减小了识别面积，避免了液晶面板内部区域的干扰，同时倒角顶点能够更好的定位倒角轮廓点，提高了倒角确定的准确度。倒角确定的准确度。倒角确定的准确度。

【技术实现步骤摘要】
一种倒角确定方法、装置、设备及介质


[0001]本申请涉及图像处理
，尤其涉及一种倒角确定方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]液晶面板外观质量检查是保证液晶面板正常使用的前提。主要针对未贴附偏光板的液晶面板外观进行检查，未贴附偏光板前的液晶面板对最终的液晶产品质量有重要影响。液晶面板生产工艺中需要用到切割工艺，切割后，有些液晶产品会形成倒角。此时需要确定液晶面板中的倒角，并对倒角的质量进行检测。
[0003]目前广泛应用的倒角确定方法为轮廓提取或模板匹配算法。但是，在实际生产中，倒角切割工艺并不总能切割出理想的倒角轮廓，且倒角的表现形式多样，如带有毛刺或倒角为圆弧倒角等，传统的轮廓提取或模板匹配算法对于倒角顶点的定位容易失败，导致最终确定的倒角准确度低。

技术实现思路

[0004]本申请提供了一种倒角确定方法、装置、设备及介质，用以解决现有技术中采用传统的轮廓提取或模板匹配算法对于倒角顶点的定位容易失败，导致最终确定的倒角准确度低的问题。
[0005]本申请实施例提供了一种倒角确定方法，所述方法本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种倒角确定方法，其特征在于，所述方法包括：根据关键点检测算法，确定待检测的目标区域中的候选倒角顶点；若所述候选倒角顶点的数量为至少两个，则确定包含每个候选倒角顶点的最小外接矩形，并确定与所述最小外接矩形的第一预设边缘距离最近的第一候选倒角顶点，以及与所述最小外接矩形的第二预设边缘距离最近的第二候选倒角顶点；将所述第一候选倒角顶点和所述第二候选倒角顶点确定为目标倒角顶点；根据轮廓提取算法和该两个目标倒角顶点，识别所述最小外接矩形中的倒角轮廓点；根据所述倒角轮廓点和该两个目标倒角顶点，确定倒角轮廓。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据所述倒角轮廓，确定所述倒角轮廓对应的倒角的倒角类型；根据该两个目标倒角顶点的位置，确定所述倒角轮廓对应的倒角与标准倒角的倒角顶点距离误差参数；根据所述倒角类型以及每个候选倒角轮廓点的位置，确定所述倒角轮廓对应的倒角与标准倒角的倒角轮廓点距离误差参数；根据所述倒角类型以及所述倒角轮廓，确定所述倒角轮廓对应的倒角与标准倒角的每个差异区域，并确定面积超过面积阈值的差异区域的数量，以及所述面积超过面积阈值的差异区域的总面积；将所述倒角类型、所述倒角顶点距离误差参数、倒角轮廓点距离误差参数、所述数量以及所述总面积中的至少一个作为检验内容；若所述检验内容中的每个子内容均小于对应的阈值要求，确定倒角轮廓对应的倒角为合格倒角。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述倒角轮廓，确定所述倒角轮廓对应的倒角的倒角类型包括：将所述倒角轮廓输入到训练完成的分类模型中，获取所述分类模型输出的倒角类型；其中，所述倒角类型包括：标准直倒角、标准圆弧倒角、带毛刺的直倒角和带毛刺的圆弧倒角。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述倒角类型以及每个倒角轮廓点的位置，确定所述倒角轮廓对应的倒角与标准倒角的倒角轮廓点距离误差参数包括：若所述倒角类型为标准直倒角或带毛刺的直倒角，则确定每个倒角轮廓点到两个目标倒角顶点的连线的每个第一距离；确定所述每个第一距离的第一平均值、第一最大值和第一标准差，并将所述第一平均值、第一最大值和第一标准差确定为所述倒角轮廓点距离误差参数；若所述倒角类型为标准圆弧倒角或带毛刺的圆弧倒角，则确定与该两个目标倒角顶点分别相切的圆；针对每个倒角轮廓点，确定该倒角轮廓点与所述圆的圆心的连线，并确定所述连线与所述圆的交点；确定所述交点与该倒角轮廓点的第二距离；确定所述每个第二距离的第二平均值、第二最大值和第二标准差，并将所述第二平均值、第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈竞博，黄虎，周璐，张博，
申请(专利权)人：浙江华睿科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：