【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】磁共振成像磁场的映射与非均匀性的校正
相关申请的交叉引用
[0001]本申请要求2020年11月20日提交的美国临时专利申请63/116,551的优先权,其通过引用整体并入本文。
[0002]本专利技术涉及核磁共振(NMR)和磁共振成像(MRI),更具体地涉及绘制所产生的磁场(B0);以及校正所产生的磁场(B0)中的不均匀性。
技术介绍
[0003]核磁共振(NMR)和磁共振成像(MRI)利用强磁体在从小样本管状物到人体的物体上产生均匀磁场(B0)(图1)。尽管状物所使用的磁体非常均匀,但磁体中的小缺陷导致磁场强度的空间变化大约为百万分之几。另外,当样本(例如管状物或人)插入其中时,场变得更加不均匀。例如,人的头部,空腔(例如鼻窦),骨(头骨)和软组织(脑)之间的界面使得磁场局部变形,从而导致穿过上述对象的B0场强度发生变化(即不均匀性)。由于从特定位置测量的频率随该位置处的B0强度线性变化,因此将在整个对象上检测到一定范围的频率。这导致样本信号出现的不期望的加宽,从而降低信噪比。另外,在MRI中,这种不均匀性还导致被成像物体的形状的几何变形(拉伸/压缩)。
[0004]为了克服这些影响,可以将无源铁匀场或有源B0校正线圈(也称为B0匀场或简称为“匀场”)结合到在磁体的孔内使用的硬件中。有源匀场被设计成使得每个线圈在B0场中产生唯一的空间变化,其总强度和符号由施加到各个线圈的电流量来确定。当应用于物体时,这些线圈提供小范围B0校正场;或者增加或减小局部B0场强度,以便使穿过对象的B0场在空间上 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于使用磁共振成像(MRI)系统来映射和校正对象内的磁场的不均匀性的方法,其特征在于,存在单个主共振,所述方法包括:获取至少三个MRI图像,每个图像处于不同的回波时间(TE);基于所述至少三个MRI图像,生成至少两个ΔTE图像(ΔTE
i=1
…
N
),其中下标i=1
…
N指向ΔTE时间递增的图像,其中允许ΔTE1图像中的混叠,并且其中设置ΔTE1和ΔTE2的ΔTE时间,使得在ΔTE1中发生缠绕的混叠点不与ΔTE
2;
的混叠点重叠;展开每个所述ΔTE图像;和将最终的B0映射图设置为展开的ΔTE
N
图像。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:基于所述最终的B0映射图确定匀场电流和/或无源匀场,以减小B0不均匀性。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,还包括向所述样本施加所述匀场电流和/或无源匀场,以减少所述样本中的B0的不均匀性。4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述匀场电流和/或无源匀场产生符号与所述磁场的不均匀性相反的B0场。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述至少两个ΔTE图像的回波时间(TE)不同,使得任意两个ΔTE图像的合成相位(Δφ)的差根据下式:Δφ=ΔTE
·
Δv变化,其中,Δv是所述图像中的三维像素处的频率与中心频率的差,并且ΔTE是任意一对图像之间的回波时间的差。6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,展开每个ΔTE图像以形成最终B0映射图包括:在所述ΔTE1图像中展开混叠是基于次长的ΔTE图像(ΔTE2图像)中的信息,以形成展开的ΔTE1图像,以及使用所述展开的ΔTE1图像来展开次长的ΔTE图像(ΔTE2图像)。7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在所述ΔTE1和所述ΔTE2中展开混叠包括计算逻辑时间展开参数LTUP,其中LTUP将两个图像之间测量的分数差成像为描述混叠程度的一组值。8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,展开每个所述ΔTE图像以形成最终B0映射图还包括:对于i=3至N,使用先前展开的ΔTE
i
‑1图像来展开所述ΔTE
i
图像。9.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,使用所述展开的ΔTE
i
图像来展开所述次长的ΔTE图像(所述ΔTE2图像)包括使用所述ΔTE1图像中的所述展开的值与ΔTE
2.
图像中表示不同混叠程度的值之间的差值的数值估计。10.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,使用梯度回波、非对称自旋回波和/或受激回波采集来采集每个所述MRI图像。11.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,展开每个所述ΔTE图像包括单个模式匹配算法以同时展开每个所述ΔTE图像。12.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取所述至少三个MRI图像包括使用同时的多切片方法,在所述相位编码方向上的K空间欠采样,和/或使用二维和三维读出轨迹,以减少采集时间。
13.一种用于使用磁共振成像(MRI)来映射和校正对象内的磁场的不均匀性的系统,其特征在于,存在单个主共振,所述系统包括:一种用于采集至少三个MRI图像的MRI...
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