【技术实现步骤摘要】
一种源文件修改定位系统及可读存储介质
[0001]本专利技术涉及芯片验证
,特别是涉及一种源文件修改定位系统及可读存储介质。
技术介绍
[0002]芯片验证贯穿于整个芯片的生命周期,独立于芯片设计,又和芯片设计高度紧密配合,共同保证最终芯片产品符合需求。从芯片的生命周期上看,不同的阶段,验证的重点也会不同。在逻辑验证阶段(也称为前仿真)会重点验证芯片的功能是否正确,性能指标是否满足。在后仿真阶段,会关注芯片的时序约束是否满足,电源和低功耗是否正常等。
[0003]其中,验证芯片的功能一般是通过列出测试用例,通过测试用例对相应的源文件进行实例化,进而统计相应的覆盖率。
[0004]源文件通常由多个用户共同维护,当其中一个用户修改了某一行代码之后,可能会导致在进行验证时相关的测试用例测试失败。由于源文件是共同维护的,无法确定是哪一次修改导致那些测试用例的测试失败,无法定位。
技术实现思路
[0005]针对上述技术问题,本专利技术采用的技术方案为:
[0006]第一方面,本专利技术实施例提供了一种源文件修改定位系统,所述系统包括:数据库、处理器和存储有计算机程序的存储器,其中,所述数据库包括第一子数据库和第二子数据库。
[0007]第一子数据库包括N个修改列表的身份标识ID,ID中的第i个修改列表的身份标识id
i
绑定的修改映射关系包括修改用户U
i
和M个修改列表mf
i
之间的一级映射关系,mf
i
...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种源文件修改定位系统,其特征在于,所述系统包括:数据库、处理器和存储有计算机程序的存储器,其中,所述数据库包括第一子数据库和第二子数据库:第一子数据库包括N个修改列表的身份标识ID,ID中的第i个修改列表的身份标识id
i
绑定的修改映射关系包括修改用户U
i
和M个修改列表mf
i
之间的一级映射关系,mf
i
中第j个修改列表mf
i,j
包括文件fi
i,j
和K个修改位置loc
i,j
的二级映射关系;其中,i的取值范围为1到N,j的取值范围为1到M;第二子数据库包括R个测试用例的关联信息列表TC,TC中第r个测试用例case
r
的关联信息列表tc
r
包括T个关联列表af
r
,af
r
中第t个关联列表包括文件fi
r,t
和H个关联位置loc
r,t
的关联映射关系;其中,r的取值范围为1到R,t的取值范围为1到T;当计算机程序被处理器执行时,实现以下步骤:P100,根据测试失败的测试用例case
r
查找第二子数据库,得到case
r
的关联信息列表tc
r
;P200,分别根据tc
r
中所有的关联映射关系查找第一子数据库中的二级映射关系,得到与每个关联映射关系匹配的二级映射关系;P300,根据每个二级映射关系所属的一级映射关系,得到修改列表的候选身份标识集合;P400,根据候选身份标识集合中每个候选身份标识绑定的文件在修改前后测试的数据变化,确定目标身份标识。2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,其中:所述第一子数据库中id
i
绑定的修改映射关系还包括修改用户U
i
、修改时间T
i
和M个修改列表mf
i
之间的一级映射关系;当第一子数据库中多个不同的身份标识绑定同一个修改位置时,P200还包括:分别根据tc
r
中所有的关联映射关系查找第一子数据库中的二级映射关系,得到与每个关联映射关系匹配的二级映射关系;当一个关联映射关系匹配得到多个候选二级映射关系时,获取每个候选二级...
【专利技术属性】
技术研发人员:冯通,
申请(专利权)人:上海合见工业软件集团有限公司成都融见软件科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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