一种激光与射线组合测量的测厚装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种激光与射线组合测量的测厚装置，包括第一支架，第一支架上设有第二支架，第二支架上设有测厚仪组件，测厚仪组件包括射线测厚组件和激光测厚组件，激光测厚组件包括第一激光测距仪和第二激光测距仪，第一激光测距仪和第二支架之间设有第一支撑臂，第一支撑臂和第一激光测距仪上设有第一调节螺栓和第二调节螺栓，第一调节螺栓和第二调节螺栓相垂直，第二支架和第二激光测距仪设有第二支撑臂，第二支撑臂和第二激光测距仪上设有第三调节螺栓，第一调节螺栓以及第二调节螺栓均与第三调节螺栓相垂直。能够便于调整两个激光测距组件的同轴度进而提高激光测距组件测量精度，本实用新型专利技术调节、使用方便，具有广泛的市场前景。市场前景。市场前景。

【技术实现步骤摘要】
一种激光与射线组合测量的测厚装置


[0001]本技术涉及测厚设备领域，具体涉及一种激光与射线组合测量的测厚装置。

技术介绍

[0002]测厚仪具有安全可靠、测量精度高、测量范围大等优点，广泛应用于纸张、木板、钢板、传输带、橡胶片、电池极片等材料厚度的在线检测。在锂电池的生产制造过程中，测厚仪就被广泛应用于极片涂布和辊压厚度的在线测量。在极片涂布厚度的在线测量工艺中，极片的涂布烘干工艺完成后，再进行极片的辊压工艺；辊压完成后则是利用激光测厚组件对辊压后的极片进行厚度测量。
[0003]当极片的涂布烘干完成后，由于涂布工艺的原因，在涂层两侧的边缘处，涂层厚度呈现逐渐变薄的趋势即极片涂层的削薄区。由于所述的射线测厚组件在利用射线穿透涂层进行厚度测量的过程反馈的数值为某一特定区域厚度的平均值，因此所述的射线测厚组件在测量极片涂层的削薄区时并不能准确的反馈削薄区特定点位的具体数值或者有若干个特定点位反馈的具体数值而推算出来的削薄区厚度的下降趋势，因此所述的射线测厚组件在测量极片涂层削薄区时的数据反馈并不能完全满足实际需求。因此本产品在极片的涂布烘本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光与射线组合测量的测厚装置，包括第一支架(1)，所述的第一支架(1)上设置有第二支架(2)，其特征在于：所述的第二支架(2)上设置有测厚仪组件，所述的测厚仪组件包括射线测厚组件和激光测厚组件，所述的激光测厚组件包括第一激光测距仪(3)和第二激光测距仪(4)，第一激光测距仪(3)和第二支架(2)之间设置有第一支撑臂(5)，第一支撑臂(5)和第一激光测距仪(3)上设置有第一调节螺栓(6)和第二调节螺栓(7)，第一调节螺栓(6)和第二调节螺栓(7)相垂直，第二支架(2)和第二激光测距仪(4)设置有第二支撑臂(8)，第二支撑臂(8)和第二激光测距仪(4)上设置有第三调节螺栓(9)，第一调节螺栓(6)以及第二调节螺栓(7)均与第三调节螺栓(9)相垂直。2.根据权利要求1所述的激光与射线组合测量的测厚装置，其特征在于：所述的第一激光测距仪(3)和第一支撑臂(5)之间设置有第一支撑板(10)，第一支撑板(10)和第二调节螺栓(7)螺纹连接，第一支撑板(10)上设置有第一固定槽(11)，第一固定槽(11)的长度延伸方向和第二调节螺栓(7)相平行，第二激光测距仪(4)和第二支撑臂(8)之间设置有第二支撑板(12)，第二支撑板(12)和第三调节螺栓(9)螺纹连接，第二支撑板(12)上设置有第二固定槽(13)，第二固定槽(13)的长度延伸方向和第三调节螺栓(9)相平行。3.根据权利要求1所述的激光与射线组合测量的测厚装置，其特征在于：所述的第二支架(2)两侧均分别设置有托辊支架(14)，第一激光测距仪(3)和第二激光测距仪(4)之间的托辊支架(14)上设置有检测支撑架(15)，检测支撑架(15)...

【专利技术属性】
技术研发人员：葛铮，李铮，常少杰，吴凤才，白云飞，
申请(专利权)人：开封市测控技术有限公司，
类型：新型
国别省市：