基于多档位的气流感应芯片测试电路及测试方法技术

本申请公开基于多档位的气流感应芯片测试电路及测试方法，气流感应芯片测试电路用于连接气流感应芯片；气流感应芯片测试电路包括电容阵列、可调连接器、以及基准电容；可调连接器的其中一侧设置出预设档位数量个第一排针；可调连接器的另一侧设置出预设档位数量个第二排针，所有第二排针都连接到基准电容；基准电容与气流感应芯片连接；电容阵列包括预设档位数量个电容子阵列，每个电容子阵列连接上与该电容子阵列的总电容值相匹配的第一排针；位于可调连接器的两侧的第一排针和第二排针支持被一个跳线帽连接；每个第一排针所连接的电容子阵列的总电容值与该第一排针所代表的电容档位一一对应，以使得每个第一排针代表一种电容档位。电容档位。电容档位。

【技术实现步骤摘要】
基于多档位的气流感应芯片测试电路及测试方法


[0001]本申请涉及电子电路的
，具体涉及到基于多档位的气流感应芯片测试电路及测试方法。

技术介绍

[0002]目前，公知的电子烟气流检测方法是通过采样电路对眯头(气流传感器)进行电压采样，再由放大电路对电压放大，最后由模/数转换的微控制器加以识别处理；或不经放大电路放大处理而直接用高位模/数转换微控制器处理，这些检测方法可以用于对气流传感器的灵敏度进行测试，前提是需要调节振膜所接收的气流气压，即通过改变气流气压来改变电容式咪头的极板之间的距离，形成电容值变化，在此基础上，若专门设置气源发生器以及气压阀等模拟气流，则会增加气流检测设备的装配尺寸和设计成本。
[0003]另外，一款气流传感器，是由气流传感芯片、可变电容器、电池以及其它必需的且能够建立起电气连接的元器件封装组成以便于组装成电子烟，而且气流传感器在完成全部元器件（包括设置振膜和电极板成所述可变电容器）封装后才能进行灵敏度测试，由于芯片封装成应用传感器所需的封装时间较长，所以产品研发周期也会相应延长。

技术实现思路

[0004]本申请公开基于多档位的气流感应芯片测试电路及测试方法，具体的技术方案如下：基于多档位的气流感应芯片测试电路，气流感应芯片测试电路用于连接气流感应芯片；气流感应芯片测试电路包括电容阵列、可调连接器、以及基准电容；可调连接器的其中一侧设置出预设档位数量个第一排针；可调连接器的另一侧设置出预设档位数量个第二排针，所有第二排针都连接到基准电容；基准电容与气流感应芯片连接，以使气流感应芯片在外接电容没有发生形变的前提下感测到外部电容值的变化；电容阵列包括预设档位数量个电容子阵列，每个电容子阵列连接上与该电容子阵列的总电容值相匹配的第一排针；位于可调连接器的两侧的第一排针和第二排针被一个跳线帽连接后，若触发气流感应芯片放电，则被跳线帽连接的第一排针所连接的电容子阵列的总电容值与基准电容的电容值之间的比值是处于预设气流灵敏度范围时，气流感应芯片的灵敏度合格；其中，该跳线帽连接的电容子阵列的总电容值与基准电容的电容值之间的比值是气流感应芯片的灵敏度；每个第一排针所连接的电容子阵列的总电容值与该第一排针所代表的电容档位一一对应，以使得每个第一排针代表一种电容档位。
[0005]进一步地，所述气流感应芯片测试电路还包括开关单元，所有第二排针都通过开关单元连接到所述基准电容的一端，所述基准电容的一端与所述气流感应芯片的电容感测端连接，所述基准电容的另一端接地。
[0006]进一步地，第一排针所连接的电容子阵列的总电容值越大，所代表的电容档位越高；第一排针所连接的电容子阵列的总电容值越小，所代表的电容档位越低；其中，一个跳
线帽插入第一排针和第二排针后，该跳线帽将对应一个第一排针和对应一个第二排针连接在一起，跳线帽与对应一个第一排针所连接的电容子阵列相连接。
[0007]进一步地，在所述电容阵列当中，除了仅存在一个电容的电容子阵列之外，每个电容子阵列内存在与所对应的电容档位相匹配数量的电容并联连接，以使每个第一排针所连接的电容子阵列的总电容值与该第一排针所代表的电容档位一一对应；其中，不同数量的电容并联连接所得到的总电容值是不同；每个电容子阵列当中，所有电容的一端与对应电容档位的第一排针连接，所有电容的另一端接地。
[0008]进一步地，在所述电容阵列当中，存在电容数量依次递增的电容子阵列，预设档位数量个电容子阵列中，电容数量是从数值1递增到预设档位数量；在所述电容阵列当中，电容子阵列中的电容数量是数值1时，存在一个电容的电容子阵列的总电容值是等于基准电容的电容值，电容数量多于数值1的电容子阵列的总电容值是大于基准电容的电容值。
[0009]进一步地，从跳线帽连接的最低电容档位对应的第一排针开始，若没有触发气流感应芯片放电，则跳线帽沿着低电容档位向高电容档位的方向依次连接第一排针和对应的第二排针，直至触发气流感应芯片放电，然后判断被跳线帽连接的第一排针所连接的电容子阵列的总电容值与基准电容的电容值之间的比值是否处于预设气流灵敏度范围，是则确定气流感应芯片的灵敏度合格，否则跳线帽继续沿着高电容档位向低电容档位的方向地依次连接第一排针和对应的第二排针；和/或，从跳线帽连接的最低电容档位对应的第一排针开始，若没有触发气流感应芯片放电，则跳线帽沿着低电容档位向高电容档位的方向依次连接第一排针和对应的第二排针，直至该跳线帽电气连接的电容子阵列的总电容值与基准电容的电容值之间的比值是位于预设合格阈值范围内且没有触发气流感应芯片放电，则确定气流感应芯片的灵敏度合格；其中，预设合格阈值范围不同于预设气流灵敏度范围。
[0010]进一步地，从跳线帽连接的最高电容档位对应的第一排针开始，若没有触发气流感应芯片放电，则跳线帽沿着高电容档位向低电容档位的方向依次连接第一排针和对应的第二排针，直至触发气流感应芯片放电，然后判断被跳线帽连接的第一排针所连接的电容子阵列的总电容值与基准电容的电容值之间的比值是否处于预设气流灵敏度范围，是则确定气流感应芯片的灵敏度合格，否则跳线帽继续沿着高电容档位向低电容档位的方向地依次连接第一排针和对应的第二排针；和/或，从跳线帽连接的最高电容档位对应的第一排针开始，若没有触发气流感应芯片放电，则跳线帽沿着高电容档位向低电容档位的方向依次连接第一排针和对应的第二排针，直至该跳线帽电气连接的电容子阵列的总电容值与基准电容的电容值之间的比值是位于预设合格阈值范围内且没有触发气流感应芯片放电，则确定气流感应芯片的灵敏度合格；其中，预设合格阈值范围不同于预设气流灵敏度范围。
[0011]进一步地，所述气流感应芯片的电源端连接电池，电池与去耦电容并联连接，所述气流感应芯片的一个电平输出端与一个指示灯连接以在触发气流感应芯片放电时指示灯亮灯，所述气流感应芯片的另一个电平输出端与电阻丝连接以在触发气流感应芯片放电时开始通电加热；其中，被跳线帽连接的第一排针所连接的电容子阵列的总电容值与基准电容的电容值之间的比值超过预先设置的吸气阈值时，触发所述气流感应芯片放电。
[0012]一种测试方法，测试方法用于控制气流感应芯片测试电路对气流感应芯片的灵敏度进行测试；测试方法包括：将位于可调连接器的两侧的第一端口和第二端口选通连接后，若检测到气流感应芯片被触发放电，则在被选通连接的第一端口所连接的电容子阵列的总
电容值与基准电容的电容值之间的比值是处于预设气流灵敏度范围时，确定气流感应芯片的灵敏度合格，其中，被选通连接的电容子阵列的总电容值与基准电容的电容值之间的比值是气流感应芯片的灵敏度；其中，气流感应芯片测试电路用于连接气流感应芯片；气流感应芯片测试电路包括电容阵列、可调连接器、以及基准电容；可调连接器的其中一侧设置出预设档位数量个第一端口；可调连接器的另一侧设置出预设档位数量个第二端口，所有第二端口都连接到基准电容；基准电容与气流感应芯片连接；电容阵列包括预设档位数量个电容子阵列，每个电容子阵列连接上与该电容子阵列的总电容值相匹配的第一端口；每个第一端本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于多档位的气流感应芯片测试电路，其特征在于，气流感应芯片测试电路用于连接气流感应芯片；气流感应芯片测试电路包括电容阵列、可调连接器、以及基准电容；可调连接器的其中一侧设置出预设档位数量个第一排针；可调连接器的另一侧设置出预设档位数量个第二排针，所有第二排针都连接到基准电容；基准电容与气流感应芯片连接，以使气流感应芯片在外接电容没有发生形变的前提下感测到外部电容值的变化；电容阵列包括预设档位数量个电容子阵列，每个电容子阵列连接上与该电容子阵列的总电容值相匹配的第一排针；位于可调连接器的两侧的第一排针和第二排针被一个跳线帽连接后，若触发气流感应芯片放电，则被跳线帽连接的第一排针所连接的电容子阵列的总电容值与基准电容的电容值之间的比值是处于预设气流灵敏度范围时，气流感应芯片的灵敏度合格；其中，该跳线帽连接的电容子阵列的总电容值与基准电容的电容值之间的比值是气流感应芯片的灵敏度；每个第一排针所连接的电容子阵列的总电容值与该第一排针所代表的电容档位一一对应，以使得每个第一排针代表一种电容档位。2.根据权利要求1所述气流感应芯片测试电路，其特征在于，所述气流感应芯片测试电路还包括开关单元，所有第二排针都通过开关单元连接到所述基准电容的一端，所述基准电容的一端与所述气流感应芯片的电容感测端连接，所述基准电容的另一端接地。3.根据权利要求1所述气流感应芯片测试电路，其特征在于，第一排针所连接的电容子阵列的总电容值越大，所代表的电容档位越高；第一排针所连接的电容子阵列的总电容值越小，所代表的电容档位越低；其中，一个跳线帽插入第一排针和第二排针后，该跳线帽将对应一个第一排针和对应一个第二排针连接在一起，跳线帽与对应一个第一排针所连接的电容子阵列相连接。4.根据权利要求3所述气流感应芯片测试电路，其特征在于，在所述电容阵列当中，除了仅存在一个电容的电容子阵列之外，每个电容子阵列内存在与所对应的电容档位相匹配数量的电容并联连接，以使每个第一排针所连接的电容子阵列的总电容值与该第一排针所代表的电容档位一一对应；其中，不同数量的电容并联连接所得到的总电容值是不同；每个电容子阵列当中，所有电容的一端与对应电容档位的第一排针连接，所有电容的另一端接地。5.根据权利要求4所述气流感应芯片测试电路，其特征在于，在所述电容阵列当中，存在电容数量依次递增的电容子阵列，预设档位数量个电容子阵列中，电容数量是从数值1递增到预设档位数量；在所述电容阵列当中，电容子阵列中的电容数量是数值1时，存在一个电容的电容子阵列的总电容值是等于基准电容的电容值，电容数量多于数值1的电容子阵列的总电容值是大于基准电容的电容值。6.根据权利要求3所述气流感应芯片测试电路，其特征在于，从跳线帽连接的最低电容档位对应的第一排针开始，若没有触发气流感应芯片放电，则跳线帽沿着低电容档位向高电容档位的方向依次连接第一排针和对应的第二排针，直至触发气流感应芯片放电，然后判断被跳线帽连接的第一排针所连接的电容子阵列的总电容值与基准电容的电容值之间的比值是否处于预设气流灵敏度范围，是则确定气流感应芯片的灵敏度合格，否则跳线帽
继续沿着高电容档位向低电容档位的方向地依次连接第一排针和对应的第二排针；和/或，从跳线帽连接的最低电容档位对应的第一排针开始，若没有触发气流感应芯片放电，则跳线帽沿着低电容档位向高电容档位的方向依次连接第一排针和对应的第二排针，直至该跳线帽电气连接的电容子阵列的总电容值与基准电容的电容值之间的比值是位于预设合格阈值范围内且没有触发气流感应芯片放电，则确定气流感应芯片的灵敏度合格；其中，预设合格阈值范围不同于预设气流灵敏度范围。7.根据权利要求3所述气流感应芯片测试电路，其特征在于，从跳线帽连接的最高电容档位对应的第一排针开始，若没有触发气流感应芯片放电，则跳线帽沿着高电容档位向低电容档位的方向依次连接第一排针和对应的第二排针，直至触发气流感应芯片放电，然后判断被跳线帽连接的第一排针所连接的电容子阵列的总电容值与基准电容的电容值之间的比值是否处于预设气流灵敏度范围，是则确定气流感应芯片的灵敏度合格，否则跳线帽继续沿着高电容档位向低电容档位的方向地依次连接第一排针和对应的第二排针；和/或，从跳线帽连接的最高电容档位对应的第一排针开始，若没有触发气流感应芯片放电，则跳线帽沿着高电容档位向低电容档位的方向依次连接第一排针和对应的第二排针，直至该跳线帽电气连接的电容子阵列的总电容值与基准电容的电容值之间的比值是位于预设合格阈值范围内且没有触发气流感应芯片放电，则确定气流感应芯片的灵敏度合格；其中，预设合格阈值范围不同于预设气流灵敏度范围。8.根据权利要求1所述气流感应芯片测试电路，其特征在于，所述气流感应芯片的电源端连接电池，电池与去耦电容并联连接，所述气流感应芯片的一个电平输出端与一个指示灯连接以在触发气流感应芯片放电时指示灯亮灯，所述气流感应芯片的另一个电平输出端与电阻丝连接以在触发气流感应芯片放电时开始通电加热；其中，被跳线帽连接的第一排针所连接的电容子阵列的总电容值与基准电容的电容值之间的比值超过预先设置的吸气阈值时，触发所述气流感应芯片放电。9.一种测试方法，其特征在于，测试方法用于控制气流感应芯片测试电路对气流感应芯片的灵敏度进行测试；...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈旭生，钟伟金，
申请(专利权)人：深圳市智慧芯图科技有限公司，
类型：发明
国别省市：