一种降低环境辐射干扰的大气红外透过率测量系统及方法技术方案

本发明专利技术属于红外成像技术领域，公开了一种降低环境辐射干扰的大气红外透过率测量系统及方法，利用多个红外光谱仪对不同红外靶标进行辐射能量测量；在利用测量数据分析大气红外透过率过程中，引入环境辐射干扰变量；根据光谱辐射仪工作机理，利用多组测量数据建立方程组，解耦环境辐射干扰变量，分析大气红外透过率，降低环境辐射干扰对大气红外透过率测量结果的影响。本发明专利技术在大气红外透过率测量过程中，考虑了天空辐射、太阳直射辐射、大气散射辐射、背景反射辐射等环境辐射对测量结果的影响，并在大气红外透过率分析过程中通过对环境辐射能量解耦，降低环境辐射对大气红外透过率分析结果的干扰，提高了大气红外透过率的测量精度。精度。精度。

【技术实现步骤摘要】
一种降低环境辐射干扰的大气红外透过率测量系统及方法


[0001]本专利技术属于红外成像
，涉及一种降低环境辐射干扰的大气红外透过率测量系统及方法，适用于红外3～5μm和8～14μm大气红外透过率测量。

技术介绍

[0002]红外成像技术具有广泛的用途，也是当今信息领域最活跃的研究方向之一，而大气是影响光电成像性能的一个重要因素。掌握不同气象条件下大气的红外透过特性，对红外成像技术发展具有重要意义：能够为定量分析不同气象环境下大气对红外成像系统性能影响提供数据支撑。
[0003]目前，大气红外透过率测量原理主要是：利用红外光谱辐射仪测量不同距离处实验靶标的光谱辐射能量；通过对比不同距离处实验靶标在各个谱段的辐射能量测量结果，分析大气红外透过率。在这一过程中，大气红外透过率测量极易受到环境辐射(天空辐射、太阳直射辐射、大气散射太阳辐射、背景辐射等)的影响，影响大气红外透过率测量结果精度。

技术实现思路

[0004](一)专利技术目的
[0005]本专利技术的目的是：针对现有大气红外透过率测量系统及方法中存在的缺本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种降低环境辐射干扰的大气红外透过率测量系统，其特征在于，包括：两套含望远镜的红外光谱辐射仪及仪器支架、两套标准大面阵靶标、一套角度测量设备、一套测距设备、一套定位设备；在待测大气红外透过率地点，安装两套靶标，利用测距设备测量两套靶标靶面中心之间的间距；在设定的距离R处安装两套光谱辐射仪，确保两套光谱辐射仪前后端及底面齐平，两套光谱辐射仪侧面垂直间距等于两套靶标的靶面中心间距；利用角度测量设备、定位设备分别测量两套靶标的靶面朝向、光谱仪朝向、靶标和光谱仪的坐标，调整靶面姿态，确保两套靶标的靶面分别与对应的光谱辐射仪朝向垂直；然后记录靶标坐标及高度；根据光谱仪及靶标的坐标及高度，计算并记录测量方向、位置信息。2.一种降低环境辐射干扰的大气红外透过率测量方法，其特征在于，包括以下步骤：第一步，准备工作；按照权利要求足1所述的测量系统的组成准备各仪器和设备；第二步，安置设备；按照权利要求足1所述的测量系统搭建降低环境辐射干扰的大气红外透过率测量系统；第三步，启动设备；第四步，开始测量；第五步，数据分析，计算大气红外透过率。3.根据权利要求2所述的降低环境辐射干扰的大气红外透过率测量方法，其特征在于，第三步中，启动光谱辐射仪，启动两套靶标，调节靶标能量远超周围环境光谱辐射能量，确保光谱辐射仪能够明显区分靶面与周围环境；在此基础上，继续调节两套靶标的靶面光谱辐射能量，确保光谱辐射仪能够明显区分两套靶标的靶面。4.根据权利要求3所述的降低环境辐射干扰的大气红外透过率测量方法，其特征在于，第四步中，在同一时刻，分别记录测量时间、两套靶标的靶面光谱辐射能量P
T
(T1,λ)和P
T
(T2,λ)、光谱辐射仪的测量数据P
C
(T1,λ)和P
C
(T2,λ)。5.根据权利要求4所述的降低环境辐射干扰的大气红外透过率测量方法，其特征在于，第五步中，根据第四步中的记录数据，计算试验位置、试验时间的大气红外透过率。6.根据权利要求5所述的降低环境辐射干扰的大气红外透过率测量方法，其特征在于，第五步中，大气红外透过率为：7.根据权利要求6所述的降低环境辐射干扰的...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭冰涛，蔡鹏程，王怡恬，韩琪，张卫国，刘万刚，
申请(专利权)人：西安应用光学研究所，
类型：发明
国别省市：