【技术实现步骤摘要】
一种测定高纯二氧化锗中杂质元素的样品前处理设备
[0001]本技术涉及二氧化锗
,具体为一种测定高纯二氧化锗中杂质元素的样品前处理设备。
技术介绍
[0002]二氧化锗是一种重要的半导体光电子材料,可应用于光电通讯的纳米连接,广泛应用于集成光学系统的光波导等光学器件,在光学数据存储系统等方面也有着广阔的应用前景,因此关于GeO2材料制备的研究具有非常重要的科学意义和巨大的应用潜力,二氧化锗一般通过水解高纯四氯化锗制备得来,但是由于水解GeCl4所制备的GeO2经过离心甩干后仍然会含有一定的水和结晶水,因此在测定高纯二氧化锗中杂质元素前必须先去除这些水和结晶水。
[0003]经检索公开号为:CN101684000B的中国专利公开了一种微波干燥二氧化锗的设备。以家用微波炉为主体,对其进行改进,将微波炉的顶板改成金属网孔状结构,并在微波炉的顶部设置抽排气扇系统;在微波炉内安装温控系统;在连接变压器的电路上设置高温自动报警系统;转盘的转轴由多片扇叶构成;微波炉的内外挡板的盖板上均涂有纳米保护漆。使用本专利技术对二氧化锗 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测定高纯二氧化锗中杂质元素的样品前处理设备,其特征在于,包括:烘干箱(1);烘干机构(2),设置在烘干箱(1)内;烘干机构(2),包括:微波发生器(201),固定连接在烘干箱(1)的两侧内壁;透气网(202),固定安装在烘干箱(1)的顶部;排气箱(203),固定连接在烘干箱(1)的顶部;第二电机(204),通过机箱固定连接在排气箱(203)内腔的一侧;往复丝杆(205),一端通过联轴器和第二电机(204)的输出端固定连接,另一端通过轴承转动连接在排气箱(203)内腔的一侧;限位杆(206),固定连接在排气箱(203)内腔的两侧;连接块(207),螺纹连接在往复丝杆(205)上,且被限位杆(206)贯穿,且和限位杆(206)滑动连接;排气扇(208),固定连接在连接块(207)上。2.根据权利要求1所述的一种测定高纯二氧化锗中杂质元素的样品前处理设备,其特征在于,还包括:设备箱(3),固定连接在烘干箱(1)的底部;旋转机构(4),设置在设备箱(3)内;旋转机构(4),包括:第一电机(401),通过机箱固定连接在设备箱(3)内腔的一侧;蜗杆(402),一端通过联轴器和第一电机(401)的输出端固定连接,另一端通过轴承转动连接在设备箱(3)内腔...
【专利技术属性】
技术研发人员:肖世健,谢洋,吴彤,谈洋,马骏,邵韵秋,
申请(专利权)人:扬州杰嘉工业固废处置有限公司,
类型:新型
国别省市:
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