微波处理装置制造方法及图纸

本公开的微波处理装置具备加热室、微波产生部、放大部、供电部、检测部、控制部以及存储部。微波产生部产生具有规定的频带中的任意频率的微波。放大部对微波的输出电平进行放大。供电部将由放大部放大后的微波作为入射电力向加热室辐射。检测部对入射电力中的从加热室返回供电部的反射电力进行检测。控制部对微波产生部和放大部进行控制。存储部将反射电力的值与微波的频率以及从加热开始起的经过时间一起存储。控制部基于通过参照反射电力的运算而得到的运算值，对微波产生部以及放大部进行控制。控制。控制。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】微波处理装置


[0001]本公开涉及具备微波产生部的微波处理装置。

技术介绍

[0002]在现有的微波处理装置中，存在基于反射波量的经时变化检测出被加热物沸腾的情况而使半导体振荡器的振荡频率以及振荡输出等变化的装置(例如，参照专利文献1)。
[0003]基于微波的反射电力的总和、或者微波的反射电力的总和相对于入射电力的总和的比例的变化的大小来检测被加热物的沸腾。作为表示变化的大小的指标，使用绝对值、偏差以及标准偏差。上述以往的微波处理装置的目的在于通过在检测出沸腾的时刻结束加热或者降低加热输出，来高精度地控制食品的温度。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：国际公开第2018/125147号
[0007]非专利文献
[0008]非专利文献1：山西健司,
データマイニングによる
異常検知,共立出版,2009
[0009]非专利文献2：J.Takeuchi and K.Yamanishi.A Unifying framework for detecting outliers and change points from time series.IEEE Transaction on Knowledge and Data Engineering，18(4):482
‑
492，2006.
[0010]非专利文献3：K.Yamanishi and J.Takeuchi.Discovering outlier filtering rules from unlabeled data.In Proceeding of the Seventh ACM SIGKDDInternational Conference on Knowledge Discovery and Data Mining(KDD01)，ACM Press，pp.389
‑
394，2001

技术实现思路

[0011]然而，在专利文献1所记载的微波处理装置中，在沸腾控制的精度方面还有改善的余地。因此，本公开的目的在于提供一种能够高精度地检测被加热物的状态变化的微波处理装置。
[0012]本公开的一个方式所涉及的微波处理装置具备收纳被加热物的加热室、包含微波产生部的加热部、放大部、供电部、检测部、控制部以及存储部。
[0013]微波产生部产生具有规定的频带中的任意的频率的微波。放大部对微波的输出电平进行放大。供电部将由放大部放大后的微波作为入射电力向加热室辐射。检测部对入射电力中的从加热室返回供电部的反射电力进行检测。
[0014]控制部对微波产生部和放大部进行控制。存储部将反射电力的值与微波的频率以及从加热开始起的经过时间一起存储。控制部基于通过参照了反射电力的运算而得到的运算值，对微波产生部及放大部进行控制。
[0015]本公开所涉及的微波处理装置能够高精度地检测被加热物的状态变化。被加热物
的状态变化是指沸腾、膨化、熔化、解冻、破裂、干燥等由加热引起的被加热物的介电常数的变化、以及由加热引起的被加热物的形状和形态的变化。
附图说明
[0016]图1是本公开的实施方式1所涉及的微波处理装置的概略结构图。
[0017]图2是表示实施方式1的烹调控制整体的流程的流程图。
[0018]图3是表示实施方式1中的反射电力的检测处理的详细情况的流程图。
[0019]图4是表示变化查找器(change finder)中的分数的计算流程的流程图。
[0020]图5是用于说明实施方式1中的被加热物的状态变化的检测所使用的阈值的图。
[0021]图6是用于说明实施方式1中的被加热物的状态变化的检测的图。
[0022]图7是表示实施方式1中的被加热物的沸腾检测的概念图。
[0023]图8A是表示实施方式1中的沸腾检测的验证实验中的加热条件的图。
[0024]图8B是表示实施方式1中的沸腾检测的实验结果的第一图。
[0025]图8C是表示实施方式1中的沸腾检测的实验结果的第二图。
[0026]图8D是表示实施方式1中的沸腾检测的实验结果的第三图。
[0027]图8E是表示实施方式1中的沸腾检测的实验结果的第四图。
[0028]图9是表示实施方式2中的烹调控制整体的流程的流程图。
[0029]图10是表示实施方式2中的反射电力的检测处理的详细情况的流程图。
[0030]图11是用于说明实施方式2中的被加热物的状态变化的检测的图。
[0031]图12是表示实施方式2中的被加热物的膨化检测的概念图。
[0032]图13是用于说明实施方式3中的被加热物的状态变化的检测的图。
[0033]图14是表示实施方式3中的被加热物的熔化检测的概念图。
[0034]图15A是用于说明实施方式3中的熔化检测的验证实验中的加热条件的图。
[0035]图15B是表示实施方式3中的熔化检测的实验结果的第一图。
[0036]图15C是表示实施方式3中的熔化检测的实验结果的第二图。
[0037]图16是表示实施方式4中的被加热物的解冻检测的概念图。
[0038]图17是表示实施方式5中的被加热物的破裂检测的概念图。
[0039]图18是表示实施方式6中的被加热物的干燥检测的概念图。
具体实施方式
[0040](成为本公开的基础的见解)
[0041]专利文献1所记载的微波处理装置根据反射电力的变化、以及反射电力的总和相对于入射电力的总和的比例的变化，来检测被加热物的沸腾状态。下面，将反射电力的总和相对于入射电力的总和的比例称为反射率。
[0042]但是，在不考虑微波的频率特性的情况下，难以高精度地检测加热对象物的状态变化。根据频率的不同，反射电力相对于被加热物的状态变化而变化的程度不同。
[0043]例如，存在相对于液体的沸腾而反射电力的变化大的频率和变化小的频率。这样的频率特性依赖于加热室内的微波的驻波分布，因此频率特性受到被加热物的种类、粘度、量、形状、载置位置、加热室的形状等的较大影响。频率特性也受膨化、熔化、解冻、破裂、干
燥等被加热物的状态变化的种类影响。
[0044]因此，在针对各种被加热物的实际烹调中，难以使用一个频率或窄频带内的频率来检测状态变化。
[0045]本申请专利技术人等进行了深入研究，结果想到了以下专利技术：基于考虑了频率特性的反射电力的变化，高精度地检测被加热物的状态变化。
[0046]本公开的第一方式所涉及的微波处理装置具备收纳被加热物的加热室、包含微波产生部的加热部、放大部、供电部、检测部、控制部以及存储部。
[0047]微波产生部产生具有规定的频带中的任意的频率的微波。放大部对微波的输出电平进行放大。供电部将由放大部放大后的微波作为入射电力向加热室辐射。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种微波处理装置，其中，所述微波处理装置具备：加热室，其构成为对被加热物进行收纳；加热部，其包含微波产生部，所述微波产生部构成为产生具有规定的频带中的任意频率的微波；放大部，其构成为对所述微波的输出电平进行放大；供电部，其构成为将由所述放大部放大后的所述微波作为入射电力向所述加热室辐射；检测部，其构成为检测所述入射电力中的从所述加热室返回所述供电部的反射电力；控制部，其对所述微波产生部以及所述放大部进行控制；以及存储部，其构成为将所述反射电力的值与所述微波的频率以及从加热开始起的经过时间一起存储，所述控制部构成为：基于通过参照所述反射电力的运算而得到的运算值，对所述微波产生部以及所述放大部进行控制。2.根据权利要求1所述的微波处理装置，其中，所述控制部构成为：使用针对所述微波的每个所述频率计算出的值的平均值作为所述运算值。3.根据权利要求1所述的微波处理装置，其中，所述控制部针对所述微波的每个所述频率计算出所述运算值，所述控制部构成为：在针对两个以上的频率的所述微波的所述运算值超过阈值的情况下，对所述微波产生部进行控制。4.根据权利要求1～3中任一项所述的微波处理装置，其中，所述控制部构成为：使用作为针对时间序列数据的在线变化点检测方法的变化查找器，求出所述运算值。5.根据权利要求1所述的微波处理装置，其中，所述检测部还构成为：对所述入射电力进行检测，所述存储部构成为：将所述入射电力的值与所述微波的所述频率以及所述经过时间一起存储，所述控制部计算出作为所述反射电力的总和相对于所述入射电力的总和的比例的反射率，作为所述运算值，所述控制部构成为：基于所述反射率对所述微波产生部进行控制。6.根据权利要求1所述的微波处理装置，其中，所述控制部使所述运算值与所述经过时间一起存储于所述存储部，所述控制部构成为：在所述运算值超过比所述运算值的最小值的1倍大且比所述运...

【专利技术属性】
技术研发人员：细川大介，大森义治，中村秀树，前田和树，夘野高史，
申请(专利权)人：松下知识产权经营株式会社，
类型：发明
国别省市：