一种测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供的测量装置，用于测量待测件的尺寸，其包括孔径测量结构和测试平台。其中，孔径测量结构设置于测试平台上，待测件上设置有开孔，待测件的开孔能够套设于孔径测量结构，使得孔径测量结构快速测得待测件的开孔的尺寸。测试平台包括至少一个测距尺，测距尺由孔径测量结构向孔径测量结构的径向外侧延伸，测距尺用于测量待测件的外轮廓与开孔的中心之间的距离。如此，测量装置能够同时测量待测件的孔径、待测件的尺寸以及确定待测件的开孔的中心位置，从而，能够准确定位待测件的开孔中心，有利于简化测量流程，提高测量效率。提高测量效率。提高测量效率。

【技术实现步骤摘要】
一种测量装置


[0001]本技术涉及测量
，尤其涉及一种测量装置。

技术介绍

[0002]开孔零件在航空航天等尖端领域得到广泛应用。在开孔零件应用领域，对于开孔零件的孔中心位置要求较高，需要精准、快速地测量开孔中心的偏移量以及开孔的尺寸。目前，操作人员常采用游标卡尺分步骤测量以获得上述参数，但存在测量过程繁琐、测量效率不高以及开孔的中心定位不准确的问题。

技术实现思路

[0003]为解决上述技术问题，本技术提供了一种测量装置。
[0004]本技术提供了一种测量装置，用于测量待测件的尺寸，待测件设置有开孔，测量装置包括：
[0005]孔径测量结构，开孔能够套设于孔径测量结构；
[0006]测试平台，孔径测量结构设置于测试平台上，测试平台还包括至少一个测距尺，测距尺由孔径测量结构向孔径测量结构的径向外侧延伸，测距尺用于测量待测件的外轮廓与开孔的中心之间的距离。
[0007]本技术的一些实施例中，测距尺包括滑轨以及与滑轨滑动配合的限位件，滑轨上或者滑轨的两侧设置有第一标识部，第一标识部用于标识与孔径测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量装置，用于测量待测件(2)的尺寸，所述待测件(2)上设置有开孔(21)，其特征在于，所述测量装置(1)包括：孔径测量结构(11)，所述开孔(21)能够套设于所述孔径测量结构(11)；测试平台(12)，所述孔径测量结构(11)设置于所述测试平台(12)上，所述测试平台(12)还包括至少一个测距尺(121)，所述测距尺(121)由所述孔径测量结构(11)向所述孔径测量结构(11)的径向外侧延伸，所述测距尺(121)用于测量所述待测件(2)的外轮廓与所述开孔(21)的中心之间的距离。2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述测距尺(121)包括滑轨(122)以及与所述滑轨(122)滑动配合的限位件(123)，所述滑轨(122)上或者所述滑轨(122)的两侧设置有第一标识部，所述第一标识部用于标识与所述孔径测量结构(11)的中心的距离。3.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述滑轨(122)包括由所述测试平台(12)的表面内凹形成的滑槽。4.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述测距尺(121)还包括锁紧件，所述锁紧件用于将所述限位件(123)锁紧于所述滑轨(122)。5.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述滑轨(122)的一端与所述孔径测量结构(11)相连，所述滑轨(122)的另一端设置有挡块(124)。6...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭鹏宗，汪加欢，潘童，李果，
申请(专利权)人：中复神鹰碳纤维股份有限公司，
类型：新型
国别省市：