光盘缺陷侦测装置及其方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光驱的光盘缺陷侦测装置及其方法。光驱记录第一数据组至光盘的至少一个数据单元，当第一数据组已被记录后，光盘缺陷侦测装置对得自光盘的数据单元的第二数据组进行验证。光盘缺陷侦测装置包含：错误侦测器，用以接收第一数据组及第二数据组，并将第一数据组与第二数据组作比较，以产生第二数据组的错误信息；以及缺陷验证单元，耦接至错误侦测器，用以根据错误信息决定数据单元是否有缺陷。依据本发明专利技术对得自光盘的数据单元的第二数据组进行验证时，能改善验证的精确性，亦能有效地减少内存的使用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于一种缺陷侦测装置及其方法，特别是关于一种光驱的光盘缺陷侦测装置及其方法，用以对源自光盘的数据进行马"正(verification)。
技术介绍
请参考图1,图l是依据现有技术对光盘数据进行验证的缺陷侦测装置10 的功能区块图。已记录(或写入)至光盘的数据自光盘读取并解调后传送至缺 陷侦测装置10的緩沖区130。内部奇偶校验方向译码功能区块100(Parity of the Inner code direction decoding block)以内部奇偶校'^^码器105(PI译码器) 对纠错码区块(ECCblock)执行内部奇偶校验码检查(PIcheck)。并且，外部奇 4禺才交验方向译石马功能区块400(Parity of the Outer code direction decoding block)以外部奇偶才交^r^码器405(PO译码器)对该纠错码区块执行外部奇偶 校-验码检查(PO check)。内部奇偶校验方向译码功能区块100与外部奇偶才交 验方向译码功能区块400共享緩沖区130及内存200,分别进行内部奇偶才交 验码检查与外部奇偶校验码检查。所有的检查结果均将传送至缺陷-资〖正单元 300，以决定该纠错码区块是否能纠错。接着验证动作可以中断，以置换有缺 陷的数据，也可以传送缺陷地址至主机(host)加以注册(registration)，以-便当 所有检查完成后再对有缺陷的数据进行置换。因此，内存200的容量必须足 够大以同时执行内部奇偶校验码检查与外部奇偶校验码检查。并且，现有技术需要用里德-所罗门(Reed-Solomon)译码器进行内部奇偶 才交-险码检查，因此就一个数据行/数据帧(row/frame)而言，前述进行-验证的内 部奇偶校验码检查及外部奇偶校验码检查的标准过程仅能提供有解或无解的 结果，因此内部奇偶4交验码;险查及外部奇偶校验码检查的标准有其精确度的限制，因此，其无法为当前多样化的光盘相关技术提供具较高精确度(例如 以字节为单位)的动态标准(active standard)。依据蓝光光盘(例如Blu-ray disc)规范(蓝光光盘类似于前述的DVD)，当 对数据集群(cluster of data)进行!H正时，会执4亍长程编码(LDC， Long Distance Code)以及突发错误标识码(BIS, Burst Indicating Code)的才企查，而对于所述才企 查过程存在一种标准。光盘缺陷侦测装置10会对突发4ti吴标识码进^^码， 获取错误地址并标记其为 一须纠错数据(picket)。由于突发错误标识码运载 有地址与控制信息并被有效地保护，因此能以较高的机率对突发错误标识码 进行正确的译码。换言之，对突发错误标识码进#%码能接受较多的错误， 亦较容易进行纠错。接着，光盘缺陷侦测装置10会对长程编码进4恃码，根 据对突发错误标识码进行译码时所标记的须纠错数据，进行错误擦除纠正 (erasure correction)。然而，长程编码以及突发错误标识码检查的标准亦有其 精确度的限制。因此，其亦无法为当前多样化的光盘相关技术提供具更高精 确度的动态标准，例如以区段(sector)为单位的动态标准。因此，确有开发进行验证时精确度高且内存使用量小的光盘缺陷侦测装 置及其方法的必要。
技术实现思路
为了解决上述传统光盘验证方法精确度受限制以及需要大容量内存的问 题，根据本专利技术的实施例提供一种光驱的光盘缺陷侦测装置及光盘缺陷侦测 方法。本专利技术的实施例提供一种光驱的光盘缺陷侦测装置，其中所述光驱用于 记录第 一数据组至光盘的至少一个数据单元，当所述第一数据组已被记录后 ,所述缺陷侦测装置对来自所述光盘的所述数据单元的第二凄i:据组进行-验证 ,其特征在于，所述光盘缺陷侦测装置包含错误侦测器，用以接收所述第 一数据组及所述第二数据组，并将所述第 一数据组与所述第二数据组作比较,以产生所述第二数据组的错误信息；以及缺陷验证单元，耦接至所述4fi吴 侦测器，用以根据所述错误信息决定所述数据单元是否具有缺陷。本专利技术的实施例中更提供一种光驱的光盘缺陷侦测方法，其中所述光驱 记录第 一数据组至光盘的至少 一个数据单元，当所述第 一数据组已被记录后， 所述光盘缺陷侦测装置对来自所述光盘的所述数据单元的第二数据组进行验 证，其特征在于，所述光盘缺陷侦测方法包含下列步骤将所述第一数据组 与所述第二数据组作比较，以产生所述第二数据组的错误信息；以及根据所 述错误信息决定所述数据单元是否具有缺陷。并且，本专利技术的实施例中更提供一种光驱的光盘缺陷侦测方法，对读取 自光盘的至少一个数据单元并已解调的数据进行验证，该光盘缺陷侦测方法 包含下列步骤侦测所述数据单元的位置；依据单一方向对所述数据进#^ 码，以产生错误信息；以及接收所述错误信息，决定所述数据单元是否有缺 陷。依据本专利技术的实施例及方法，光盘缺陷侦测装置将记录至光盘的数据单 元的第一数据组与得自光盘的该数据单元的第二数据组作比丰支，以对第二凄t 据组进行验证，精确性高于仅使用里德-所罗门译码机制或长程编码/突发错 误标识码译码机制。并且藉由侦测数据单元的位置或者提供突发错误标识码 具有的地址，能改善进行验证的精确性。对得自光盘的该数据单元的第二数 据组进行验证时，本专利技术实施例的光盘缺陷侦测装置亦能有效地减少内存的 使用。附图说明图1是依据现有技术对光盘数据进行验证的缺陷侦测装置的功能区块图图2是依据本专利技术第一实施例，将记录至一光盘的第一数据组与得自该 光盘的至少 一个数据单元的第二数据组以字节为单位作比较的缺陷侦测装置的功能区块图。图3是依据本专利技术第二实施例，将第一数据组与读取自光盘的至少一个 数据单元的第二数据组以信道位为单位执行比较的缺陷侦测装置30的功能 区块图。图4是依据本专利技术第三实施例，将第一数据组与得自光盘的至少一个数 据单元的第二数据组以数据帧(或数据行)为单位执行比较的缺陷侦测装置的 功能区块图。图5是依据本专利技术第四实施例，提供每一数据帧的位置信息，此实施例 中为同步码型信息至帧错误侦测器的缺陷侦测装置的功能区块图。图6是依据本专利技术第五实施例，以长程编码或突发错误标识码为单位执 行比较的缺陷侦测装置的功能区块图。图7是依据本专利技术第六实施例，提供突发错误标识码所具有的位置信息 C地址)至LDC/BIS错误侦测器的缺陷侦测装置的功能区块图。图8是依据本专利技术光盘缺陷侦测方法进行验证的流程图。图9是依据本专利技术另 一光盘缺陷侦测方法进行验证的流程图。具体实施例方式为了让本专利技术的上述和其它目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特 举数较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下请参考图2,图2是依据本专利技术第一实施例的缺陷侦测装置20的功能区 块图，缺陷侦测装置20将记录至一光盘的第一数据组(set of data)与得自光盘 500 的至少一个数据单元的第二数据组以字节(byte)为单位作比较。第一数 据组为一组已编码的主机数据并准备记录(写入)至光盘500的至少一个凄t据 单元。第二数据组为一组读取自光盘500的数据单元的已解调数据。此第一 实施例中，再记录该组已编码主机数据至光盘500前，该组已编码主机凄t据本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光驱的光盘缺陷侦测装置，其中所述光驱用于记录第一数据组至光盘的至少一个数据单元，当所述第一数据组已被记录后，所述缺陷侦测装置对来自所述光盘的所述数据单元的第二数据组进行验证，其特征在于，所述光盘缺陷侦测装置包含：　错误侦测器，用以 接收所述第一数据组及所述第二数据组，并将所述第一数据组与所述第二数据组作比较，以产生所述第二数据组的错误信息；以及　缺陷验证单元，耦接至所述错误侦测器，用以根据所述错误信息决定所述数据单元是否具有缺陷。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：朱清和，
申请(专利权)人：联发科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]