一种用于0.1MeV以上能区(n,f)截面实验数据树形评价方法技术

本发明专利技术涉及一种用于0.1MeV以上能区(n,f)截面实验数据树形评价方法，包括步骤：进行(n,f)截面实验数据及评价数据的收集；根据隐性变量，对收集到的实验数据进行评价；对每个类型已评价的实验数据进行一致性判断；对实验数据的评价结果进行数据处理。采用本发明专利技术所述的用于0.1MeV以上能区(n,f)截面实验数据树形评价方法为该能区(n,f)截面数据评价提出了一种详细、科学的分类评价方法，为澄清(n,f)截面实验数据分歧提出了权重分析方法，找到了数学依据，规范了评价流程，节省了评价时间，提高了评价效率，并且，可用于其它截面评价参考。可用于其它截面评价参考。可用于其它截面评价参考。

【技术实现步骤摘要】
一种用于0.1MeV以上能区(n,f)截面实验数据树形评价方法


[0001]本专利技术属于核数据评价
，具体涉及一种用于0.1MeV以上能区(n,f)截面实验数据树形评价方法。

技术介绍

[0002]核能的精细化研究和高速发展，对高精度、多种类的高质量核数据提出了迫切的需求。核数据的质量和精确度是核工程能否取得预期成果的重要条件，如核反应堆的设计、测试、检验和安全分析，其结果的准确性和可靠性与核数据的质量密切相关。在快增殖堆设计中，为提高临界质量精度，要求增殖系数精度甚至达到0.3％，这时要求主要能区裂变截面即(n,f)截面精度达到1～3％。
[0003]目前主要裂变核的裂变截面实验数据之间、实验数据和评价数据之间、各不同评价数据之间均存在较大分歧，为用户在使用该截面数据造成困难。裂变评价截面的准确度提高、数据分歧澄清具有重要意义。在侧重统计分析的方法即教科书评价思路中，假定测量数据为随机事件，其分布服从高斯分布，真值为高斯分布的峰顶所对应的数值，即数学期望。这是一种数理统计的理想状态，需要满足两个条件：
①
数据量足够多，可以使用统计方法处理；
②
数据的测量为完全独立事件，之间无任何关联。
[0004]然而在实际应用中，测量数据因测量的实验年代、方法、装置、样品、测量环境、数据的修正等因素，并不服从高斯分布。相反地，经常由于数据分歧，在数据拟合过程中会出现PPP问题。而数据之间也常有一些关联。国际上，关于数据评价准确性和不确定性、PPP问题解决的讨论一直是数据评价中的热点问题。为了使推荐数据更加接近真值，需要精细评价每家数据的不确定度，这给评价带来了极大工作量。
[0005]另一种评价思路较为侧重物理评价，主要根据实验测量的条件，仅推荐少数准确度和精度较好的实验数据作为评价依据，其它多数实验数据用作评价参考。这种评价方法在美国ENDF/B
‑
VIII.0库、中国CENDL
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3.2库、CENDL
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3.1库某些核素的丰实验数据反应截面评价中均有使用。然而，这种方法因缺乏数学依据，并未有详细报导。这两种评价思路，均需要对实验测量有丰富的知识和清晰的了解，能够较为合理地评价不同年代、实验室测量的实验数据，用于数据的进一步拟合处理。
[0006]经过研究发现，统计学中的辛普森悖论与核数据评价中所面临的PPP问题是同一类统计问题。将辛普森悖论的解决方法用于(n,α)及14MeV附近(n,x)截面数据评价工作中，得到了较为可靠的评价结果，然而，(n,f)截面测量过程较为复杂，数据类型、实验方法、中子源、探测器都与活化法测量的(n,x)截面完全不同，因此，需要提供一种用于0.1MeV以上能区(n,f)截面实验数据树形评价方法。

技术实现思路

[0007]针对现有技术中存在的缺陷，本专利技术的目的是提供一种用于0.1MeV以上能区(n,f)截面实验数据树形评价方法以澄清数据分歧，提高评价数据的准确性及可信度，实现(n,
f)截面数据准确评价，为其它截面的评价提供方法参考。
[0008]为达到以上目的，本专利技术采用的技术方案是：一种用于0.1MeV以上能区(n,f)截面实验数据树形评价方法，包括步骤：进行(n,f)截面实验数据及评价数据的收集；根据隐性变量，对收集到的实验数据进行评价；对每个类型已评价的实验数据进行一致性判断；对实验数据的评价结果进行数据处理。
[0009]进一步，所述对收集到的实验数据进行评价包括：实验测量类型评价、实验方法评价、中子源评价、探测器评价及样品制备评价。
[0010]进一步，所述实验测量类型评价中，收集到的实验数据类型包括有截面绝对测量数据、平均测量数据AV、导出数据DERIV、评价数据EVAL、与其它截面的比值数据RATIO，谱平均SPA，裂变谱平均FIS，快堆中子谱平均FST，麦克斯韦谱平均MXW，相对测量REL，根据数据不确定度、数据量、数据一致程度、数据覆盖的能区的特点，对收集到的实验数据类型进行权重分析。
[0011]进一步，所述实验方法评价中，中子诱发裂变反应，通过裂变碎片的测量来标记裂变事件，测量裂变的设备为裂变电离室，根据不同裂变电离室的特征，对各类型裂变电离室测量数据进行权重分析。
[0012]进一步，所述中子源评价中，裂变截面的测量中，包括白光中子源及单能或准能中子源，根据中子源产生的中子质量，对不同中子源测得的实验数据进行权重分析。
[0013]进一步，所述探测器评价中包括轻粒子测量及裂变碎片测量，根据探测器的分辨本领，对于不同探测器测得的实验数据进行权重分析。
[0014]进一步，所述样品制备评价中，对样品定量精细的数据给予较大权重。
[0015]进一步，所述一致性判断为在将每个所述隐性变量评价完成后，判断所有重点推荐实验数据是否分布在一个西格玛之内，如果是，则认为数据一致，如果不是，则进一步评价。
[0016]进一步，所述数据处理包括数据拟合、物理分析及数据推荐。
[0017]进一步，所述数据拟合采用最小二乘法，对所有实验数据进行拟合处理，所述物理分析包括分析实验数据、评价数据之间的分歧，所述数据推荐是以最小二乘法得到的数据为推荐数据中心值。
[0018]本专利技术的效果在于：为0.1MeV以上能区(n,f)截面数据评价提出了一种详细、科学的分类评价方法，为澄清(n,f)截面实验数据分歧提出了权重分析方法，找到了数学依据，规范了评价流程，节省了评价时间，提高了评价效率，并且，可用于其它截面评价参考。
附图说明
[0019]图1是本专利技术一种用于0.1MeV以上能区(n,f)截面树形评价方法的模块流程图；
[0020]图2裂变室原理示意图；
[0021]图3是各种中子源的单色性示意图；
[0022]图4是平行板雪崩探测器电离室结构示意图；
[0023]图5是时间投影室结构示意图；
[0024]图6是
238
U(n,f)截面实验数据白光中子源测量数据的示意图；
[0025]图7是
238
U(n,f)/截面实验数据中在D
‑
T中子源上测量的数据示意图；
[0026]图8是
238
U(n,f)/截面实验数据中使用D
‑
T中子源在14MeV附近测量数据的示意图；
[0027]图9是
238
U(n,f)/截面实验数据中使用D
‑
T中子源在14MeV附近测量明确以COIN或ASSOP定中子通量的数据示意图；
[0028]图10是
238
U(n,f)/截面实验数据中使用D
‑
D中子源测量数据的示意图；
[0029]图11是
238
U(n,f)/截面实验数据中使用D
‑
D中子源在2.5MeV附近测量数据的示意图；...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于0.1MeV以上能区(n,f)截面实验数据树形评价方法，其特征在于，包括：进行(n,f)截面实验数据及评价数据的收集；根据隐性变量，对收集到的实验数据进行评价；对每个类型已评价的实验数据进行一致性判断；对实验数据的评价结果进行数据处理。2.如权利要求1所述的一种用于0.1MeV以上能区(n,f)截面实验数据树形评价方法，其特征在于：所述对收集到的实验数据进行评价包括：实验测量类型评价、实验方法评价、中子源评价、探测器评价及样品制备评价。3.如权利要求2所述的一种用于0.1MeV以上能区(n,f)截面实验数据树形评价方法，其特征在于：所述实验测量类型评价中，收集到的实验数据类型包括有截面绝对测量数据、平均测量数据AV、导出数据DERIV、评价数据EVAL、与其它截面的比值数据RATIO，谱平均SPA，裂变谱平均FIS，快堆中子谱平均FST，麦克斯韦谱平均MXW，相对测量REL，根据数据不确定度、数据量、数据一致程度、数据覆盖的能区的特点，对收集到的实验数据类型进行权重分析。4.如权利要求2所述的一种用于0.1MeV以上能区(n,f)截面实验数据树形评价方法，其特征在于：所述实验方法评价中，中子诱发裂变反应，通过裂变碎片的测量来标记裂变事件，测量裂变的设备为裂变电离室，根据不同裂变电离室的特征，对各类型裂变电离室测量数据进行权重分析。5.如权利要求2所述的一种用于0.1MeV以上能区(...

【专利技术属性】
技术研发人员：张玥，阮锡超，吴海成，于保生，李春娟，续瑞瑞，黄小龙，陈国长，舒能川，张智，陶曦，王记民，栾广源，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：