一种AOI自动光学无损检测设备制造技术

本发明专利技术属于检测设备技术领域，具体的说是一种AOI自动光学无损检测设备，包括，底座，传送带，还包括，传送模块，所述传送模块设于传送带上，用于在传送电路板过程中使被测电路板保持静止；检测模块，所述检测模块设于底座上，与传送模块配合用于对被测电路板进行检测，通过设置传送模块与检测模块，减少了摄像头与电路板移动过程中产生的抖动，提高了检测质量，同时减少了因提高成像质量而导致检测速度的下降，提高了检测速度，进而提高了AOI自动光学无损检测设备的检测效率。损检测设备的检测效率。损检测设备的检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种AOI自动光学无损检测设备


[0001]本专利技术属于检测设备
，具体的说是一种AOI自动光学无损检测设备。

技术介绍

[0002]随着集成电路的技术升级，印刷电路板向着微型化、集成化以及智能化的方向发展，其中微型化与集成化使电路板上的集成元器件之间的排布与连接关系变得错综复杂、细密，因此需要对焊接好的电路板进行检测，人工检测主板费时费力，因此出现了一种AOI自动光学检测设备，检测设备在获取被测目标的图像，再经过提高电路板的一定的图像处理算法，从拍摄的图像中获取目标的尺寸、位置、方向、光谱特征、结构及缺陷等信息，从而可以执行产品的检验、装配线上的零部件鉴定及定位、过程监控中的测量、过程控制反馈、分类与分组等任务；
[0003]AOI检测设备在对主板进行检测时，为了获取清晰的图像，需要使传送带上移动的电路板静止，减少摄像头与电路板之间的相对移动，从而获得相对清晰的图像进行比对分析检测，减少静止的摄像头在拍摄运动的主板时产生的残影而导致图像质量的下降，现有技术中传送带带动待测电路板静止时，传送带上仍然会振动一段时间，立即进行检测会因为振动影响摄像头所拍摄的图片质量，进而影响检测精度；若等待传送带完全停止再进行检测，需要一段时间，延长了检测时间，降低了检测效率；
[0004]鉴于此，为了克服上述技术问题，本专利技术设计了一种AOI自动光学无损检测设备，解决了上述检测效率低下的技术问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术所要解决的技术问题是：现有技术中传送带自身的振动会影响摄像头对电路板的检测，进而降低检测设备的检测质量，降低了检测效率。
[0006]本专利技术提供的一种AOI自动光学无损检测设备，包括：底座、传送带、传送模块和检测模块，所述传送模块设于传送带上，用于在传送电路板过程中使被测电路板保持静止；
[0007]所述检测模块设于底座上，与传送模块配合用于对被测电路板进行检测。
[0008]优选的，传送模块包括：
[0009]连接板，所述连接板与传送带固接，且数目为一个以上；
[0010]凹槽，所述凹槽设于连接板上；
[0011]缓冲片，所述缓冲片固接在凹槽内；
[0012]物料板，所述物料板设于连接板正上方，且间隔布置在不同的连接板上；
[0013]柱体，所述柱体与物料板靠近连接板一侧固接；
[0014]定位销，所述定位销与物料板远离连接板一侧固接；
[0015]限位板，检测模块的下方设有限位板，所述限位板固定安装在底座上；限位板的下表面设置有与所述定位销位置相对应的限位槽；限位槽用于对定位销的水平方向进行限位，保证物料板上待测电路板正对检测模块；
[0016]永磁体，所述永磁体与物料板靠近连接板一侧固接；
[0017]电磁体，所述电磁体与底座固接；
[0018]光线传感器，所述光线传感器与电磁体固接。
[0019]优选的，检测模块包括：
[0020]腔室，所述腔室设于底座上；
[0021]云台，所述云台在腔室内与底座滑动连接；
[0022]气弹簧，所述气弹簧设于腔室内，且两端与腔室、云台固接；
[0023]摄像头，所述摄像头与云台转动连接。
[0024]优选的，所述物料板上设有绝缘垫。
[0025]优选的，所述定位销上套设有缓冲垫圈。
[0026]优选的，所述云台与底座之间固接有缓冲气囊。
[0027]优选的，所述底座上固接有吸尘器。
[0028]优选的，所述摄像头上固接有补光灯。
[0029]优选的，所述连接板上固接有信号灯。
[0030]本专利技术的有益效果如下：
[0031]1.本专利技术提供的一种AOI自动光学无损检测设备，本专利技术通过设置连接板、物料板、永磁体、电磁体与光线传感器，使传送带在不停止工作时，使待测电路板与检测模块的位置保持相对不变，与缓冲片相配合，减少电路板与物料板之间的刚性接触与传导至电路板的震动，提高成像质量，进而提高了AOI自动光学无损检测设备的检测质量，同时减少了电路板因震动而受损的概率，也降低了AOI自动光学无损检测设备因震动受损而误判的概率。
[0032]2.本专利技术提供的一种AOI自动光学无损检测设备，本专利技术通过设置云台与气弹簧，使摄像头在检测过程中，减少底座及其他设备传导至云台的震动，同时云台进一步减少摄像头的抖动，进而提高检测时的成像质量，进一步提高AOI自动光学无损检测设备的检测质量。
附图说明
[0033]下面结合附图对本专利技术作进一步说明。
[0034]图1是本专利技术的主体图；
[0035]图2是本专利技术的侧视图；
[0036]图3是图2中A处的放大图；
[0037]图4是图2中B处的放大图；
[0038]图中：底座1、吸尘器11、传送带2、传送模块3、连接板31、信号灯311、凹槽32、缓冲片33、物料板34、绝缘垫341、柱体35、定位销36、限位板361、限位槽362、缓冲垫圈363、永磁体37、电磁体38、传感器39、检测模块4、腔室41、云台42、气弹簧43、摄像头44、缓冲气囊45、补光灯46。
具体实施方式
[0039]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，对本专利技术实施例中的技术
方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0040]本实施例采用的主要构思是：AOI自动光学检测设备开始工作后，与传送带2固接的传送模块3上的待测电路板由传送模块3传送至底座1上的检测模块4上进行检测，检测过程中传送模块3使待测电路板向上暂时脱离传送带2，隔绝传送带2的振动作用并保持静止，使检测模块4对静止的电路板进行光学检测。
[0041]因此为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体实施方式对上述技术方案进行详细的说明：
[0042]本专利技术提供的一种AOI自动光学无损检测设备，包括，底座1、传送带2、传送模块3和检测模块4，所述传送模块3设于传送带2上，用于在传送电路板过程中使被测电路板保持静止；所述检测模块4设于底座1上，与传送模块3配合用于对被测电路板进行检测；
[0043]AOI自动光学检测设备开始工作后，与传送带2固接的传送模块3上的待测电路板由传送模块3传送至底座1上的检测模块4上进行检测，检测过程中传送模块3使待测电路板向上暂时脱离传送带2，隔绝传送带2的振动作用并保持静止，使检测模块4对静止的电路板进行光学检测；
[0044]本专利技术通过设置传送模块3与检测模块4，使得检测模块4在传送模块3传送电路板的同时，对电路板进行检测，减少了摄像头与电路板移动过程中产生的抖动，提高了检测质量，同时减少了因提高成像质量而导致检测速度的下降，提高了检测速度，进而提高了AOI自动光学本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种AOI自动光学无损检测设备，包括底座(1)、传送带(2)、传送模块(3)和检测模块(4)，其特征在于：所述所述传送模块(3)设于传送带(2)上，用于在传送电路板过程中使被测电路板保持静止；所述检测模块(4)设于底座(1)上，与传送模块(3)配合用于对被测电路板进行检测。2.根据权利要求1所述的一种AOI自动光学无损检测设备，其特征在于：传送模块(3)包括：连接板(31)，所述连接板(31)与传送带(2)固接，且数目为一个以上；凹槽(32)，所述凹槽(32)设于连接板(31)上；缓冲片(33)，所述缓冲片(33)固接在凹槽(32)内；物料板(34)，所述物料板(34)设于连接板(31)正上方，且间隔布置在不同的连接板(31)上；柱体(35)，所述柱体(35)与物料板(34)靠近连接板(31)一侧固接；定位销(36)，所述定位销(36)与物料板(34)远离连接板(31)一侧固接；限位板(361)，检测模块(4)的下方设有限位板(361)，所述限位板(361)固定安装在底座(1)上；限位板(361)的下表面设置有与所述定位销36位置相对应的限位槽(362)；永磁体(37)，所述永磁体(37)与物料板(34)靠近连接板(31)一侧固接；电磁体(38)，所述电磁体(38)与底座(1)固接...

【专利技术属性】
技术研发人员：欧阳津，王向阳，刘东，
申请(专利权)人：欧阳津，
类型：发明
国别省市：