本发明专利技术涉及勘探技术领域，特别地涉及一种总有机碳含量的预测方法、装置、存储介质和电子设备，方法包括：基于含膏碳酸盐岩的目标地层的测井曲线和地层体积模型划分出目标地层中的非烃源岩层和烃源岩潜力层，获取总有机碳含量数据集和测井响应异常变化数据集，计算所述总有机碳含量数据集和所述测井响应异常变化数据集的相关系数，基于所述相关系数从所述测井曲线中选出对有机质敏感的敏感测井曲线，根据所述敏感测井曲线构建总有机碳含量与测井曲线的多元统计地质模型，能够对含膏碳酸盐岩地层中总有机碳含量进行准确预测。岩地层中总有机碳含量进行准确预测。岩地层中总有机碳含量进行准确预测。
【技术实现步骤摘要】
总有机碳含量的预测方法、装置、存储介质和电子设备
[0001]本专利技术涉及勘探
，特别地涉及一种总有机碳含量的预测方法、装置、存储介质和电子设备。
技术介绍
[0002]碳酸盐岩烃源岩是我国古生界地层重要的烃源岩类型，在塔里木盆地、四川盆地和鄂尔多斯盆地，碳酸盐岩烃源岩对古生界油气藏的成藏和富集都起到至关重要的作用。碳酸盐岩地层中优质烃源岩均与咸化环境有关，咸化环境下的沉积过程有利于有机质的堆积与保存；水下沉积的石膏、杂卤石与泥页岩等含膏碳酸盐岩的有机质丰富，具有成为优质烃源岩的潜力。因此，含膏碳酸盐岩的烃源潜力评价在勘探开发中占有十分重要的位置。
[0003]有机质丰度是判断岩石能否成为烃源岩的关键指标之一，是油气资源评价的基本参数，是勘探目标选择和勘探决策的重要依据。有机质丰度与岩性密切相关，有机质丰度的评价指标是有机碳含量。不同岩性的有机碳含量相差较大；纯的碳酸盐岩地层中有机碳含量较低，大多小于0.5％，而含膏碳酸盐岩夹泥页岩的有机碳含量较丰富，多在0.5％以上，甚至超过2％。在前人研究中，对碎屑岩地层中有机碳含量进行预测的研究较多，而针对含膏碳酸盐岩地层中总有机碳含量进行预测的研究较少，目前并未有较好的预测方法。
[0004]本领域亟需一种方案对含膏碳酸盐岩地层中总有机碳含量进行预测。
技术实现思路
[0005]本专利技术提供一种总有机碳含量的预测方法、装置、存储介质和电子设备，适用于含膏碳酸盐岩地层中烃源岩总有机碳含量TOC的预测，解决了一些技术方案中难以对含膏碳酸盐岩地层中总有机碳含量进行预测的技术问题。
[0006]第一方面，本专利技术提供了一种总有机碳含量的预测方法，包括：
[0007]S100，基于含膏碳酸盐岩的目标地层的测井曲线和地层体积模型划分出目标地层中的非烃源岩层和烃源岩潜力层；
[0008]S200，获取每一岩心的总有机碳含量而形成总有机碳含量数据集，获取每一岩心的深度对应的测井数据而形成测井响应异常变化数据集；
[0009]S300，计算总有机碳含量数据集和测井响应异常变化数据集的相关系数，基于相关系数从测井曲线中选出对有机质敏感的敏感测井曲线；
[0010]S400，根据敏感测井曲线构建总有机碳含量与测井曲线的多元统计地质模型；
[0011]S500，利用目标地层的测井曲线及多元统计地质模型，对目标地层的总有机碳含量进行预测。
[0012]在一些实施例中，基于含膏碳酸盐岩的目标地层的测井曲线和地层体积模型划分出目标地层中的非烃源岩层和烃源岩潜力层，包括：
[0013]S101，基于含膏碳酸盐岩的目标地层的测井曲线和地层体积模型计算目标地层的矿物剖面；
[0014]S102，根据目标地层的矿物剖面划分出目标地层中的非烃源岩层和烃源岩潜力层。
[0015]在一些实施例中，目标地层的矿物剖面，包括：目标地层的各深度的矿物成分以及不同矿物成分的含量；
[0016]根据目标地层的矿物剖面划分出目标地层中的非烃源岩层和烃源岩潜力层，包括：
[0017]根据目标地层的各深度的矿物成分以及不同矿物成分的含量划分出目标地层中的非烃源岩层和烃源岩潜力层。
[0018]在一些实施例中，矿物成分包括：白云石、方解石、硬石膏和石盐；
[0019]根据目标地层的各深度的矿物成分以及不同矿物成分的含量划分出目标地层中的非烃源岩层和烃源岩潜力层，包括：
[0020]在目标地层的每一深度，若硬石膏含量+石盐含量＞第一阈值，则该深度属于非烃源岩层；或者
[0021]在目标地层的每一深度，若白云石含量+方解石含量+硬石膏含量+石盐含量＞第二阈值，则该深度属于非烃源岩层。
[0022]在一些实施例中，获取每一岩心的深度对应的测井数据而形成测井响应异常变化数据集，包括：
[0023]S201，获取非烃源岩层的测井数据作为地层基线测井值；
[0024]S202，获取每一岩心的深度对应的烃源岩潜力层的测井数据与地层基线测井值的变化值而形成测井响应异常变化数据集。
[0025]在一些实施例中，测井曲线包括：声波时差曲线、密度曲线、补偿中子曲线、自然伽马曲线和电阻率曲线；
[0026]测井响应异常变化数据集包括：自然伽马测井值、声波时差增高值、密度降低值、中子孔隙度增加值和地层电阻率增加值。
[0027]在一些实施例中，根据敏感测井曲线构建总有机碳含量与测井曲线的多元统计地质模型，包括：
[0028]S401，确定总有机碳含量参数以及每一敏感测井曲线的权重；
[0029]S402，根据敏感测井曲线的权重以及总有机碳含量参数构建总有机碳含量与测井曲线的多元统计地质模型。
[0030]第二方面，本专利技术提供了一种总有机碳含量的预测装置，包括：
[0031]地层划分模块100，用于基于含膏碳酸盐岩的目标地层的测井曲线和地层体积模型划分出目标地层中的非烃源岩层和烃源岩潜力层；
[0032]数据集获取模块200，用于获取每一岩心的总有机碳含量而形成总有机碳含量数据集，获取每一岩心的深度对应的测井数据而形成测井响应异常变化数据集；
[0033]曲线选择模块300，用于计算总有机碳含量数据集和测井响应异常变化数据集的相关系数，基于相关系数从测井曲线中选出对有机质敏感的敏感测井曲线；
[0034]建模模块400，用于根据敏感测井曲线构建总有机碳含量与测井曲线的多元统计地质模型；
[0035]预测模块500，用于利用目标地层的测井曲线及多元统计地质模型，对目标地层的
总有机碳含量进行预测。
[0036]第三方面，本专利技术提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现第一方面的方法。
[0037]第四方面，本专利技术提供了一种电子设备，包括处理器和存储器，存储器上存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现第一方面的方法。
[0038]本专利技术提供的一种总有机碳含量的预测方法、装置、存储介质和电子设备，通过基于含膏碳酸盐岩的目标地层的测井曲线和地层体积模型划分出目标地层中的非烃源岩层和烃源岩潜力层，获取总有机碳含量数据集和测井响应异常变化数据集，计算所述总有机碳含量数据集和所述测井响应异常变化数据集的相关系数，基于所述相关系数从所述测井曲线中选出对有机质敏感的敏感测井曲线，根据所述敏感测井曲线构建总有机碳含量与测井曲线的多元统计地质模型，能够对含膏碳酸盐岩地层中总有机碳含量进行准确预测。
附图说明
[0039]在下文中将基于实施例并参考附图来对本专利技术进行更详细的描述：
[0040]图1为本专利技术实施例的一种总有机碳含量的预测方法示意图；
[0041]图2为本专利技术实施例的一种总有机碳含量的预测原理示意图；
[0042]图3为本专利技术实施例的一种总有机碳含量的预测装置示意图。
[0043]在附图中，相同的部件使用相同的附图标记，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种总有机碳含量的预测方法，其特征在于，包括：S100，基于含膏碳酸盐岩的目标地层的测井曲线和地层体积模型划分出目标地层中的非烃源岩层和烃源岩潜力层；S200，获取每一岩心的总有机碳含量而形成总有机碳含量数据集，获取每一岩心的深度对应的测井数据而形成测井响应异常变化数据集；S300，计算所述总有机碳含量数据集和所述测井响应异常变化数据集的相关系数，基于所述相关系数从所述测井曲线中选出对有机质敏感的敏感测井曲线；S400，根据所述敏感测井曲线构建总有机碳含量与测井曲线的多元统计地质模型；S500，利用目标地层的测井曲线及所述多元统计地质模型，对目标地层的总有机碳含量进行预测。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于含膏碳酸盐岩的目标地层的测井曲线和地层体积模型划分出目标地层中的非烃源岩层和烃源岩潜力层，包括：S101，基于含膏碳酸盐岩的目标地层的测井曲线和地层体积模型计算目标地层的矿物剖面；S102，根据所述目标地层的矿物剖面划分出目标地层中的非烃源岩层和烃源岩潜力层。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述目标地层的矿物剖面，包括：所述目标地层的各深度的矿物成分以及不同矿物成分的含量；所述根据所述目标地层的矿物剖面划分出目标地层中的非烃源岩层和烃源岩潜力层，包括：根据所述目标地层的各深度的矿物成分以及不同矿物成分的含量划分出目标地层中的非烃源岩层和烃源岩潜力层。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述矿物成分包括：白云石、方解石、硬石膏和石盐；所述根据所述目标地层的各深度的矿物成分以及不同矿物成分的含量划分出目标地层中的非烃源岩层和烃源岩潜力层，包括：在目标地层的每一深度，若硬石膏含量+石盐含量＞第一阈值，则该深度属于非烃源岩层；或者在目标地层的每一深度，若白云石含量+方解石含量+硬石膏含量+石盐含量＞第二阈值，则该深度属于非烃源岩层。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取每一岩心的深度对...
【专利技术属性】
技术研发人员：谷宁，金冰垚，张军涛，金晓辉，张涛，刘光祥，李慧莉，吴疆，周雁，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院，
类型：发明
国别省市：
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