三维测量的方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请提供了一种三维测量的方法、装置、电子设备及存储介质。其中，在三维测量的方法中，首先获取待测物体的复合图像序列。然后基于所述复合图像序列，计算得到所述待测物体的平均强度图、调制强度图和包裹相位图。基于所述平均强度图和所述调制强度图，计算得到所述待测物体的对比度图，以及基于所述包括相位图计算得到所述待测物体的相位差图。接着基于所述对比度图和所述相位差图，提取得到格雷码图案。基于所述格雷码图案，计算得到初始条纹阶次。基于预设的虚拟条纹阶次和所述初始条纹阶次，计算得到绝对条纹阶次。最后基于所述绝对条纹阶次和所述包裹相位图，计算得到所述待测物体的绝对相位图，进而构建待测物体的三维模型。型。型。

【技术实现步骤摘要】
三维测量的方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及面结构光形貌测量
，尤其涉及一种三维测量的方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]高精度、高效率的动态三维形貌测量在生物动力学分析、机器人实时操作、振动测量和其他应用中有很大的需求。面结构光测量作为一种主动三维成像技术，在静态测量方面已经有了长足的发展，但是在动态测量上还存在众多亟须解决的难题。
[0003]在现有技术中，为了充分利用单视角结构光系统的几何特性，建立了最小深度与绝对相位之间的映射函数。基于映射关系，可以创建最小参考相位，然后辅助解包裹。由于最小参考相位图是预先固定的，所以相位域中的测量深度范围不能超过2π，这意味着被测物体的高度受到严重限制。除上述方法外，一种可变的移相策略被使用，将包裹相位和条纹阶次同时编码到四个预投影图案的相位域中。但该方法对图像模糊和随机噪声敏感，容易导致解码错误，从而降低三维重建的精度。由此可知，现有技术中的这些方法只关注一个性能指标，即测量时间，而忽略了其他指标，即测量深度范围和解码鲁棒性，导致图像三维测量效果本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种三维测量的方法，其特征在于，包括：获取待测物体的复合图像序列；基于所述复合图像序列，计算得到所述待测物体的平均强度图、调制强度图和包裹相位图；基于所述平均强度图和所述调制强度图，计算得到所述待测物体的对比度图，以及基于所述包括相位图计算得到所述待测物体的相位差图；基于所述对比度图和所述相位差图，提取得到格雷码图案；基于所述格雷码图案，计算得到初始条纹阶次；基于预设的虚拟条纹阶次和所述初始条纹阶次，计算得到绝对条纹阶次；基于所述绝对条纹阶次和所述包裹相位图，计算得到所述待测物体的绝对相位图，并利用绝对相位梯度对所述绝对相位图进行校正，得到校正后的绝对相位图。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测物体的复合图像序列，包括：构建具有不同对比度和相移量序列的子条纹序列；基于所述子条纹序列构建复合条纹图案；将所述复合条纹图案循环投射到所述待测物体上，得到复合图像序列。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述对比度图和所述相位差图，提取得到格雷码图案之后，还包括：对所述格雷码图案进行孔洞填孔操作，得到校正后的格雷码图案。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于预设的虚拟条纹阶次和所述初始条纹阶次，计算得到绝对条纹阶次，包括：对所述虚拟条纹阶次和所述初始条纹阶次进行差值运算，得到初始阶次差；对所述阶次差进行校正，得到校正后的阶次差；对所述校正后的阶次差和所述虚拟条纹阶次进行求和运算，得到绝对条纹阶次。5.一种三维测量的装置，其特征在于，包括：获取单元，用于获取待测物体的复合图像序列；第一计算单元，用于基于所述复合图像序列，计算得到所述待测物体的平均强度图、调制强度图和包裹相位图；第二计算单元，用于基于所述平均强度图和所述调制强度图，计算得到...

【专利技术属性】
技术研发人员：范鑫，郑亚兵，金一，段明辉，孙正，张睿虎，单奕萌，赵文婕，
申请(专利权)人：中国科学技术大学，
类型：发明
国别省市：