一种区分电涡流信号异常的测量方法及系统技术方案

本发明专利技术公开一种区分电涡流信号异常的测量方法及系统，属于电涡流信号异常测量领域。预设至少三个依次减小的扫描时间，每次选取一个扫描时间后，将探头按照选取的扫描时间分别垂直扫过带缺陷试样的表面和内部电阻不均试样的表面，分别记录两种试样电涡流波形的振幅，判断振幅随扫描时间减小而发生的变化，即可判定电涡流异常信号的来源。本发明专利技术通过控制探头扫描速度来区分电涡流异常信号是由电阻不均导致还是基体内部缺陷导致，测量方法更简便。便。便。

【技术实现步骤摘要】
一种区分电涡流信号异常的测量方法及系统


[0001]本专利技术涉及电涡流信号异常测量领域，特别是涉及一种区分电涡流信号异常的测量方法及系统。

技术介绍

[0002]电涡流检测是一种常见的缺陷无损检测手段，当材料内部存在缺陷时，会引起局部的电磁性能突变，进而使得材料内部的涡流电场发生变化，由于电磁感应引起磁场变化，最终反应到信号接收线圈内的电流变化。基于以上原理，电涡流可以用来检测材料内部或者表面的缺陷。但是在测量金属导体时，由于金属结构材料使用时往往需要经过热处理，在高温热处理之后由于温度及冷速不均匀，易导致材料电磁性能不均，在电涡流检测时会出现电涡流信号异常，干扰对缺陷的检测。
[0003]通常由于缺陷引起的电涡流信号是突变，样品由正常区域划过缺陷后回到正常区域形成的异常信号通常形成回路信号(如图1中的(a)部分所示)。而材料电磁信号变化产生的电涡流异常信号是连续变化的，由其电磁性能变化导致的电涡流异常信号无固定形状(如图1中的(b)部分所示)。因此，可以通过信号形状区分两种信号。图1中Phase表示相位，Amplitude表示振幅。
[0004]对于目前区分电涡流信号异常来源的方法，在实际生产过程中，由于试样表面不平或者探头在划动过程中倾斜、抬离，会导致电涡流信号偏离屏幕中心，这种情况需要重新校准信号，使其回到屏幕中央，这一过程在测试时反复进行，时间浪费严重。大规模检测时，为提高检测效率，测试设备通常开启高通滤波，在过滤高频干扰信号的同时，测试信号每间隔短暂时间会自动回到屏幕中央，虽然提升效率，但是由于自动归零会使得图1中的(b)部分中信号也呈现闭合回路，致使无法区分电涡流信号异常的来源。即现有手段无法同时实现效率与准确性。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种区分电涡流信号异常的测量方法及系统，通过简便的测量方法区分电涡流异常信号的来源。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供了如下方案：
[0007]一种区分电涡流信号异常的测量方法，包括：
[0008]预设至少三个依次减小的扫描时间；
[0009]按照扫描时间从大到小的顺序，每次选取一个扫描时间；
[0010]在每次选取一个扫描时间后，将探头按照选取的扫描时间垂直扫过带缺陷试样的表面，记录电涡流波形的振幅，并将探头按照同一扫描时间垂直扫过内部电阻不均试样的表面，记录电涡流波形的振幅；
[0011]分别确定带缺陷试样和内部电阻不均试样所记录的振幅随扫描时间减小而发生的变化，并根据振幅变化判定电涡流异常信号的来源。
[0012]一种区分电涡流信号异常的测量系统，包括：电涡流检测装置和判定模块；
[0013]所述电涡流检测装置用于在每次选取一个扫描时间后，将探头按照选取的扫描时间垂直扫过带缺陷试样的表面，记录电涡流波形的振幅，并将探头按照同一扫描时间垂直扫过内部电阻不均试样的表面，记录电涡流波形的振幅；其中，通过预设至少三个依次减小的扫描时间，按照扫描时间从大到小的顺序，每次选取一个扫描时间；
[0014]判定模块用于确定带缺陷试样和内部电阻不均试样的振幅随扫描时间减小而发生的变化，并根据振幅变化判定电涡流异常信号的来源。
[0015]根据本专利技术提供的具体实施例，本专利技术公开了以下技术效果：
[0016]本专利技术公开一种区分电涡流信号异常的测量方法及系统，预设至少三个依次减小的扫描时间，每次选取一个扫描时间后，将探头按照选取的扫描时间分别垂直扫过带缺陷试样的表面和内部电阻不均试样的表面，分别记录两种试样电涡流波形的振幅，判断振幅随扫描时间减小而发生的变化，即可判定电涡流异常信号的来源。本专利技术通过控制探头扫描速度来区分电涡流异常信号是由电阻不均导致还是基体内部缺陷导致，测量方法更简便。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为现有的电涡流异常信号示意图；
[0019]图2为本专利技术实施例提供的一种区分电涡流信号异常的测量方法的流程图；
[0020]图3为本专利技术实施例提供的一种区分电涡流信号异常的测量方法的原理图；
[0021]图4为本专利技术实施例提供的由于内部电阻不均导致电涡流信号异常的叶片局部图；
[0022]图5为本专利技术实施例提供的表面光滑中间有一条人为缺陷的试样图。
具体实施方式
[0023]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0024]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。
[0025]本专利技术通过控制探头扫描速度来区分电涡流异常信号是由电阻不均导致还是基体内部缺陷导致。
[0026]如图2所示，本专利技术实施例提供了一种区分电涡流信号异常的测量方法，包括：
[0027]步骤1：预设至少三个依次减小的扫描时间。
[0028]步骤2：按照扫描时间从大到小的顺序，每次选取一个扫描时间。
[0029]步骤3：在每次选取一个扫描时间后，将探头按照选取的扫描时间垂直扫过带缺陷试样的表面，记录电涡流波形的振幅，并将探头按照同一扫描时间垂直扫过内部电阻不均试样的表面，记录电涡流波形的振幅。
[0030]步骤4：分别确定带缺陷试样和内部电阻不均试样所记录的振幅随扫描时间减小而发生的变化，并根据振幅变化判定电涡流异常信号的来源。
[0031]其中，根据振幅变化判定电涡流异常信号的来源，具体包括：
[0032]若振幅随扫描时间减小而变大，则判定电涡流异常信号的来源为内部电阻不均而引起的材料电磁属性变化；若振幅随扫描时间减小而不变，则判定电涡流异常信号的来源为缺陷。
[0033]参见图3，以预设三个依次减小的扫描时间，带缺陷试样为表面光滑中间有一条人为缺陷的试样，以及内部电阻不均试样为由于内部电阻不均导致电涡流信号异常的叶片为例，详细阐明本专利技术的测量方法。
[0034]步骤1：开启电涡流检测的高通滤波将探头在一个表面光滑中间有一条人为缺陷的试样表面(如图5所示)垂直扫过，记录扫过试样时间为T1(即，探头垂直扫过试样表面的周期T)，电涡流波形图Y轴的振幅为A1。再以同样的时间扫过由于内部电阻不均导致的电涡流信号异常的叶片(如图4所示)记录Y轴的振幅A11。
[0035]步骤2：将步骤1中扫过试样时间缩短为原来的二分之一记为T2(即)，此时电涡流波形图Y轴的振幅为A2。用时T2扫过叶片，记录所测叶片电涡流信号本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种区分电涡流信号异常的测量方法，其特征在于，包括：预设至少三个依次减小的扫描时间；按照扫描时间从大到小的顺序，每次选取一个扫描时间；在每次选取一个扫描时间后，将探头按照选取的扫描时间垂直扫过带缺陷试样的表面，记录电涡流波形的振幅，并将探头按照同一扫描时间垂直扫过内部电阻不均试样的表面，记录电涡流波形的振幅；分别确定带缺陷试样和内部电阻不均试样所记录的振幅随扫描时间减小而发生的变化，并根据振幅变化判定电涡流异常信号的来源。2.根据权利要求1所述的区分电涡流信号异常的测量方法，其特征在于，根据振幅变化判定电涡流异常信号的来源，具体包括：若振幅随扫描时间减小而变大，则判定电涡流异常信号的来源为内部电阻不均而引起的材料电磁属性变化；若振幅随扫描时间减小而不变，则判定电涡流异常信号的来源为缺陷。3.根据权利要求1所述的区分电涡流信号异常的测量方法，其特征在于，若预设三个依次减小的扫描时间，则三个扫描时间依次为T、和其中，T为探头垂直扫过试样表面的周期。4.根据权利要求1所述的区分电涡流信号异常的测量方法，其特征在于，所述带缺陷试样为表面光滑中间有一条人为缺陷的试样；所述内部电阻不均试样为由于内部电阻不均导致电涡流信号异常的叶片。5.一种区分电涡流信号异常的测量系统，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：张恒，王思岳，覃皓，刘原，宫声凯，
申请(专利权)人：北航成都航空动力创新研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：