用于逐次逼近模数转换器中的偏移校准的系统及方法技术方案

技术编号:38852817 阅读:16 留言:0更新日期:2023-09-17 10:00
本文中的公开内容涉及用于逐次逼近模数转换器SAR ADC中的偏移校准的系统及方法。在一个方面,所述SAR ADC包含经配置以接收对应于输入电压的多个位中的一些或全部的校准电路,且对对应于所述输入电压的所述位中的至少一些进行累加或平均。所述校准电路经配置以提供第一偏移信号以控制与第一比较器相关联的第一偏移、提供第二偏移信号以控制与第二比较器相关联的第二偏移,或减小与所述第一偏移及所述第二偏移相关联的偏移差。所述第二偏移相关联的偏移差。所述第二偏移相关联的偏移差。

【技术实现步骤摘要】
用于逐次逼近模数转换器中的偏移校准的系统及方法


[0001]本公开总体上涉及一种通信系统,包含但不限于逐次逼近模数转换器(SAR ADC)。

技术介绍

[0002]通信及计算装置的最新发展要求高数据速率。例如,网络交换机、路由器、集线器或任何通信装置可以高速(例如,1Mbps到100Gbps)交换数据以实时流式传输数据或依无缝方式处理大量数据。为了在数字域中有效地处理数据,信号的幅度或电压可表示多个位,且信号可通过电缆或无线媒体在两个或更多个通信装置之间交换。例如,1.2V的信号可表示[00010110],且1.3V的信号可表示[00011001]。为了将输入信号的电压转换成对应位,一些通信装置实施SAR ADC。例如,SAR ADC可通过逐次逼近来确定对应于输入信号的多个位。SAR ADC的比较器中的动态及静态偏移误差会影响转换的精度及/或准确度。ADC偏移误差可定义为实际传递函数与理想传递函数的偏差。

技术实现思路

[0003]一方面,本公开涉及一种装置,其包括:采样及数模转换(DAC)电路,其用于对输入电压进行采样以获得第本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种装置,其包括:采样及数模转换DAC电路,其用于对输入电压进行采样以获得第一采样电压;第一比较器,其耦合到所述采样及DAC电路;第一组存储电路,其耦合到所述第一比较器及所述采样及DAC电路,所述第一组存储电路经配置以存储对应于所述输入电压的多个位的第一子集;第二比较器,其耦合到所述采样及DAC电路;第二组存储电路,其耦合到所述第二比较器及所述采样及DAC电路,所述第二组存储电路经配置以存储对应于所述输入电压的所述多个位的第二子集;及校准电路,其经配置以从所述第一组存储电路的第一存储单元接收第一位且从所述第一组存储电路及所述第二组存储电路接收数个位,其中所述校准电路经配置以提供第一偏移信号以控制与所述第一比较器相关联的第一偏移且提供第二偏移信号以控制与所述第二比较器相关联的第二偏移。2.根据权利要求1所述的装置,其中所述第一比较器比所述第二比较器具有更快检测速度,其中所述第二比较器比所述第一比较器具有更高灵敏度。3.根据权利要求1所述的装置,其中所述第一位是最高有效位。4.根据权利要求1所述的装置,其中所述数个位包含所述第一组存储电路及所述第二组存储电路的所有所述位。5.根据权利要求1所述的装置,其中所述校准电路包括经配置以接收所述第一位的第一平均电路及经配置以接收所述数个位的第二平均电路。6.根据权利要求5所述的装置,其中第一偏移码计算电路耦合到所述第一平均电路且第二偏移码计算电路耦合到所述第二平均电路。7.根据权利要求5所述的装置,其中所述第一平均电路是累加器。8.根据权利要求1所述的装置,其中所述装置安置于集成电路封装中。9.根据权利要求1所述的装置,其中所述第一比较器的输出直接耦合到所述第一组存储电路的输入端口,其中所述第二比较器的输出直接耦合到所述第二组存储电路的输入端口。10.一种装置,其包括:采样及数模转换DAC电路,其用于对输入电压进行采样以获得第一采样电压;第一比较器,其耦合到所述采样及DAC电路;第一组存储电路,其耦合到所述第一比较器及所述采样及DAC电路,所述第一组存储电路经配置以存储对应于所述输入电压的多个位的第一子集;第二比较器,其耦合到所述采样及DAC电路;第二组存储电路,其耦合到所述第二比较器及所述采样及DAC电路,所述第二组存储电路经配置以存储对应于所述输入电压的所述多个位的第二子集;及校准电路,其经配置以接收对应于所述输入电压的所述多个位的所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘勇曹军德龙
申请(专利权)人:安华高科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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