待测样品及制样方法、在X射线荧光光谱分析中的应用技术

本申请涉及一种待测样品的制样方法，包括如下步骤：提供待测样品粉末；将所述待测样品粉末与粘结剂混合，制备液胶状待测物；将所述液胶状待测物平摊于光滑表面上，进行固化处理，制备所述待测样品。本申请提供的方法无需大型制样设备，制样成本低，所得待测样品用于X射线荧光光谱分析，检测结果准确可靠。检测结果准确可靠。

【技术实现步骤摘要】
待测样品及制样方法、在X射线荧光光谱分析中的应用


[0001]本申请涉及检测分析
，特别是涉及一种待测样品及制样方法在X射线荧光光谱分析中的应用。

技术介绍

[0002]X射线荧光光谱仪(XRF)是检测实验室常见的分析仪器之一，X射线荧光光谱分析的原理为：当外部能量源被激发时，单个原子发射出特定波长的X射线光子，通过计数样品发出的每种能量的光子，可以识别样品中的不同元素。X射线荧光光谱分析是一种快速元素定量高精密度的分析方法，通过X射线荧光光谱定性分析可以判断材料中是否含有某种元素，通过定量分析还可以进一步分析元素的百分比含量，该分析技术在废料分拣与回收、合金材料成分辨别、贵金属、矿业勘探等领域广泛应用。
[0003]样品质量是决定X射线荧光光谱分析结果准确性的重要因素之一，目前常用的制样方法主要包括压样制片法和熔样制片法。压样制片法使用压样机进行制样，该制样方法具有设备成本高、样品压制不结实，检测时容易发生粉尘掉落影响设备安全、压制过程中在高压下易产生裂纹影响结果准确性、需经常校验并更换模具等缺陷。熔样制片法使用高温炉或高频熔样机进行制样，设备成本更加高昂，模具在高温下同样极易损失变型，需经常校准并重新加工熔制贵金属模具，而且熔样过程中对温度控制要求高，即使细微的温度变化均会对样品的检测结果产生影响，特别是使用对待测元素有干扰的脱模剂时影响更为显著，但实际操作过程中，若想控制温度不产生波动难度非常大，因此，常常会导致该方法制备得到的样品测试准确性不稳定。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要提供一种能够降低设备成本、提高制样效果的待测样品及制样方法，利用该样品进行X射线荧光光谱分析能够提高测试结果准确性。
[0005]进一步地，还提供了所述待测样品在X射线荧光光谱分析中的应用。
[0006]本申请一实施例提供了一种待测样品的制样方法，包括如下步骤：
[0007]提供待测样品粉末；
[0008]将所述待测样品粉末与粘结剂混合，制备液胶状待测物；
[0009]将所述液胶状待测物平摊于光滑表面上，进行固化处理，制备所述待测样品。
[0010]在其中一个实施例中，提供待测样品粉末的步骤包括：对固体状的待测物进行研磨；
[0011]可选地，所述待测样品粉末的粒径≤75μm。
[0012]在其中一个实施例中，所述待测样品粉末与所述粘结剂的质量比为(0.2～2.5)：1。
[0013]在其中一个实施例中，所述粘结剂在固化前粘稠度为800mPa.s～1200mPa.s、固化后硬度为80D～100D。
[0014]在其中一个实施例中，所述粘结剂包括UV胶以及AB胶中的至少一种；
[0015]可选地，所述粘结剂选自UV胶，所述UV胶的预聚物包括丙烯酸酯。
[0016]在其中一个实施例中，固化方式为：采用紫外灯或高压汞灯进行照射。
[0017]在其中一个实施例中，在固化的步骤之后，还包括将所述待测样品与所述光滑表面分离的步骤。
[0018]在其中一个实施例中，所述待测样品呈直径为30mm～55mm的圆片状。
[0019]本申请一实施例还提供了一种待测样品，通过上述任一实施例中所述的待测样品的制样方法制备得到。
[0020]本申请一实施例还提供了上述一实施例中所述的待测样品在X射线荧光光谱分析中的应用。
[0021]本申请提供的待测样品制样方法，通过先将待测样品制成粉末状，然后与粘结剂混合制成液胶状待测物后摊平与一光滑表面上，并进行固化处理得到，上述方法无需大型制样设备，制样成本低，所得待测样品用于X射线荧光光谱分析，检测结果更加精准。
具体实施方式
[0022]为了便于理解本申请，下面结合实施例对本申请进行更全面的描述。本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本申请所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本申请的公开内容的理解更加透彻全面。
[0023]除非另有定义，本申请所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的
的技术人员通常理解的含义相同。在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。本申请所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0024]本申请中，以开放式描述的技术特征中，包括所列举特征组成的封闭式技术方案，也包括包含所列举特征的开放式技术方案。
[0025]本申请中涉及“多个”、“多种”、“多次”、“多元”等，如无特别限定，指在数量上大于2或等于2。例如，“一种或多种”表示一种或大于等于两种。
[0026]本申请中，“优选”、“更好”、“更佳”、“为宜”仅为描述效果更好的实施方式或实施例，应当理解，并不构成对本专利技术保护范围的限制。
[0027]本申请中，“进一步”、“更进一步”、“特别”等用于描述目的，表示内容上的差异，但并不应理解为对本专利技术保护范围的限制。
[0028]本申请中，“可选地”、“可选的”、“可选”，指可有可无，也即指选自“有”或“无”两种并列方案中的任一种。如果一个技术方案中出现多处“可选”，如无特别说明，且无矛盾之处或相互制约关系，则每项“可选”各自独立。
[0029]除了在操作实施例中所示以外或另外表明之外，所有在说明书和权利要求中表示成分的量、物化性质等所使用的数字理解为在所有情况下通过术语“约”来调整。例如，因此，除非有相反的说明，否则上述说明书和所附权利要求书中列出的数值参数均是近似值，本领域的技术人员能够利用本文所公开的教导内容寻求获得的所需特性，适当改变这些近似值。用端点表示的数值范围的使用包括该范围内的所有数字以及该范围内的任何范围，例如，1至5包括1、1.1、1.3、1.5、2、2.75、3、3.80、4和5等等。
[0030]本申请中的温度参数，如无特别限定，既允许为恒温处理，也允许在一定温度区间内存在变动。应当理解的是，所述的恒温处理允许温度在仪器控制的精度范围内进行波动。允许在如
±
5℃、
±
4℃、
±
3℃、
±
2℃、
±
1℃的范围内波动。
[0031]本申请一实施例提供了一种待测样品的制样方法，包括如下步骤：
[0032]提供待测样品粉末；
[0033]将待测样品粉末与粘结剂混合，制备液胶状待测物；
[0034]将液胶状待测物平摊于光滑表面上，进行固化处理，制备待测样品。
[0035]本申请提供的待测样品制样方法，通过先将待测样品制成粉末状，然后与粘结剂混合制成液胶状待测物后摊平与一光滑表面上，并进行固化处理得到，上述制样方法操作简单、无需大型制样设备，制样成本低，所得待测样品用于X射线荧光光谱分析，检测结果更加精准、测试周期短、无化学污染。
[0036]进一步地，可以理解地，本申请中的待测样品只要是能通过X射线荧光光谱仪进行元素分析的物质均可，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种待测样品的制样方法，其特征在于，包括如下步骤：提供待测样品粉末；将所述待测样品粉末与粘结剂混合，制备液胶状待测物；将所述液胶状待测物平摊于光滑表面上，进行固化处理，制备所述待测样品。2.根据权利要求1所述的待测样品的制样方法，其特征在于，提供待测样品粉末的步骤包括：对固体状的待测物进行研磨；可选地，所述待测样品粉末的粒径≤75μm。3.根据权利要求1所述的待测样品的制样方法，其特征在于，所述待测样品粉末与所述粘结剂的质量比为(0.2～2.5)：1。4.根据权利要求1所述的待测样品的制样方法，其特征在于，所述粘结剂在固化前粘稠度为800mPa.s～1200mPa.s、固化后硬度为80D～100D。5.根据权利要求4所述的待测...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭学谦，罗志峰，刘惠敏，平文亮，肖子凡，青礼平，
申请(专利权)人：清远南玻节能新材料有限公司，
类型：发明
国别省市：