待测样品及制样方法、在X射线荧光光谱分析中的应用技术

本申请涉及一种待测样品的制样方法，包括如下步骤：提供待测样品粉末；将所述待测样品粉末与粘结剂混合，制备液胶状待测物；将所述液胶状待测物平摊于光滑表面上，进行固化处理，制备所述待测样品。本申请提供的方法无需大型制样设备，制样成本低，所得待测样品用于X射线荧光光谱分析，检测结果准确可靠。检测结果准确可靠。

【技术实现步骤摘要】
待测样品及制样方法、在X射线荧光光谱分析中的应用


[0001]本申请涉及检测分析
，特别是涉及一种待测样品及制样方法在X射线荧光光谱分析中的应用。

技术介绍

[0002]X射线荧光光谱仪(XRF)是检测实验室常见的分析仪器之一，X射线荧光光谱分析的原理为：当外部能量源被激发时，单个原子发射出特定波长的X射线光子，通过计数样品发出的每种能量的光子，可以识别样品中的不同元素。X射线荧光光谱分析是一种快速元素定量高精密度的分析方法，通过X射线荧光光谱定性分析可以判断材料中是否含有某种元素，通过定量分析还可以进一步分析元素的百分比含量，该分析技术在废料分拣与回收、合金材料成分辨别、贵金属、矿业勘探等领域广泛应用。
[0003]样品质量是决定X射线荧光光谱分析结果准确性的重要因素之一，目前常用的制样方法主要包括压样制片法和熔样制片法。压样制片法使用压样机进行制样，该制样方法具有设备成本高、样品压制不结实，检测时容易发生粉尘掉落影响设备安全、压制过程中在高压下易产生裂纹影响结果准确性、需经常校验并更换模具等缺陷。熔样制片法使用高温炉或高频熔样本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种待测样品的制样方法，其特征在于，包括如下步骤：提供待测样品粉末；将所述待测样品粉末与粘结剂混合，制备液胶状待测物；将所述液胶状待测物平摊于光滑表面上，进行固化处理，制备所述待测样品。2.根据权利要求1所述的待测样品的制样方法，其特征在于，提供待测样品粉末的步骤包括：对固体状的待测物进行研磨；可选地，所述待测样品粉末的粒径≤75μm。3.根据权利要求1所述的待测样品的制样方法，其特征在于，所述待测样品粉末与所述粘结剂的质量比为(0.2～2.5)：1。4.根据权利要求1所述的待测样品的制样方法，其特征在于，所述粘结剂在固化前粘稠度为800mPa.s～1200mPa.s、固化后硬度为80D～100D。5.根据权利要求4所述的待测...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭学谦，罗志峰，刘惠敏，平文亮，肖子凡，青礼平，
申请(专利权)人：清远南玻节能新材料有限公司，
类型：发明
国别省市：