本发明专利技术提供了一种动态响应调试方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：获取电源芯片预先确定的动态响应待测频点，对待测频点进行扫频测试，根据扫频测试结果中的电压最大值对应第一频点和电压最小值对应第二频点，确定动态响应的调试方式，其中，调试方式包括分段调试，在确定调试方式为分段调试的情况下，在预设频段内进行最大值和/或最小值分段调试。本发明专利技术实施例通过分段调优动态响应，能够分频段对需要调试的电压频段单独进行调优，优化DCDC电源芯片的调优能力，降低调节环路的难度及节省调试及验证的时间和人力，保证服务器的稳定运行。运行。运行。
【技术实现步骤摘要】
动态响应调试方法、装置、设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及服务器
，特别是涉及一种动态响应调试方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
[0002]服务器中给CPU供电的DCDC电源芯片，在实际使用中随着负载CPU的电流变化，DCDC电源芯片的电压会随着电流的变化而变化，因此，为避免电压变化过低或者过高造成掉电而使服务器宕机，需要测试DCDC电源芯片的电压变化是否符合标准。
[0003]现有技术中，为了模拟CPU在实际工作中电流的变化情况，会使用一种VRTT tool搭配软件进行不同电流变化条件进行测试，因此，需要评判该VR的动态响应是否满足标准。
[0004]然而，当VR的动态响应比较差而无法满足电压标准spec时，现有人工调试方案无法保证所有频点的电压满足标准spec，需要进行很多次的调试及多次的验证，调试难度较大且耗费人力，无法单独对某一频段的电压进行调节，从而难以满足CPU的电压要求，影响服务器的稳定运行。
技术实现思路
[0005]有鉴于此，本专利技术旨在提出一种动态响应调试方法、装置、设备及存储介质，解决了现有调试难度较大且耗费人力，无法单独对某一频段的电压进行调节的技术问题，实现高效在线动态响应调试，保证服务器稳定运行。
[0006]依据本专利技术的第一方面，提供了一种动态响应调试方法，所述方法包括：
[0007]获取电源芯片预先确定的动态响应待测频点，对所述待测频点进行扫频测试；
[0008]根据扫频测试结果中的电压最大值对应第一频点和电压最小值对应第二频点，确定动态响应的调试方式，其中，所述调试方式包括分段调试；
[0009]在确定调试方式为所述分段调试的情况下，在预设频段内进行最大值和/或最小值分段调试。
[0010]可选地，所述获取电源芯片预先确定的动态响应待测频点，对所述待测频点进行扫频测试，包括：
[0011]预先设置测试电源芯片电压变化的测试参数，其中，所述测试参数包括中央控制单元的电流变化和工作频率；
[0012]根据所述电流变化和所述工作频率，确定出测试电源芯片的拉载条件；
[0013]采用预先确定的拉载条件，确定电流变化中动态响应的待测频点。
[0014]可选地，所述根据扫频测试结果中的电压最大值对应第一频点和电压最小值对应第二频点，确定动态响应的调试方式，包括：
[0015]若第一频点对应电压最大值大于第一预设阈值，或第二频点对应电压最小值小于第二预设阈值，确定动态响应的调试方式为调整静态电压；
[0016]若所述电压最大值和所述电压最小值在预设高频范围内大于预设标准值，确定动
态响应的调试方式为调整环路；
[0017]若所述电压最大值或电压最小值大于所述预设标准值，且所述电压最小值或电压最大值存在预设余量，确定动态响应的调试方式为分段调试。
[0018]可选地，所述在确定调试方式为所述分段调试的情况下，在预设频段内进行最大值和/或最小值分段调试，包括：
[0019]若所述第一频点对应电压最大值大于所述预设标准值且所述第二频点对应电压最小值与所述预设标准值差值大于预设余量，确定分段调试方式为最大值分段调试；
[0020]在预先设定频率范围内，将所述预设标准值中的最大值与所述预设余量的差值确定为最大电压判断值；
[0021]根据所述最大电压判断值，调整所述第一频点对应电压最大值大于所述最大电压判断值。
[0022]可选地，所述在确定调试方式为所述分段调试的情况下，在预设频段内进行最大值和/或最小值分段调试，包括：
[0023]若第二频点对应电压最小值大于所述预设标准值且所述第一频点对应电压最大值与所述预设标准值差值大于所述预设余量，确定分段调试方式为最小值分段调试；
[0024]在预先设定频率范围内，将所述预设标准值中的最小值与所述预设余量的总和确定为最小电压判断值；
[0025]根据所述最小电压判断值，调整所述第二频点对应电压最小值小于所述最小电压判断值。
[0026]可选地，所述在确定调试方式为所述分段调试的情况下，在预设频段内进行最大值和/或最小值分段调试之前，还包括：
[0027]在确定调试方式为所述调整静态电压的情况下，调整环路的静态电压；
[0028]获取调整后的电压最大值或调整后的电压最小值；
[0029]若检测到调整后的所述电压最大值小于第一预设阈值，或调整后的所述电压最小值大于第二预设阈值，控制停止调整静态电压。
[0030]可选地，所述在确定调试方式为所述分段调试的情况下，在预设频段内进行最大值和/或最小值分段调试之前，还包括：
[0031]在确定调试方式为所述调整环路的情况下，调整环路的多个频点对应电压；
[0032]获取调整后的全部频点对应的电压最大值和电压最小值；
[0033]若检测到所述电压最大值和电压最小值在预设高频范围内小于预设标准值，控制停止调整环路。
[0034]依据本专利技术的第二方面，提供了一种动态响应调试装置，
[0035]扫频测试模块，用于获取电源芯片预先确定的动态响应待测频点，对所述待测频点进行扫频测试；
[0036]确定调试模块，用于根据扫频测试结果中的电压最大值对应第一频点和电压最小值对应第二频点，确定动态响应的调试方式，其中，所述调试方式包括分段调试；
[0037]分段调试模块，用于在确定调试方式为所述分段调试的情况下，在预设频段内进行最大值和/或最小值分段调试。
[0038]根据本专利技术的第三方面，提供一种电子设备，包括：
[0039]处理器；
[0040]用于存储所述处理器可执行指令的存储器；
[0041]其中，所述处理器被配置为执行所述指令，以实现如第一方面所述的动态响应调试方法。
[0042]根据本专利技术的第四方面，提供一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述的动态响应调试方法的步骤。
[0043]本专利技术实施例提供的一种动态响应调试方法，通过获取电源芯片预先确定的动态响应待测频点，对待测频点进行扫频测试，根据扫频测试结果中的电压最大值对应第一频点和电压最小值对应第二频点，确定动态响应的调试方式，其中，调试方式包括分段调试，在确定调试方式为分段调试的情况下，在预设频段内进行最大值和/或最小值分段调试。本专利技术实施例通过对动态响应待测频点进行扫频测试，根据扫频结果找动态响应的调优方案，通过分段调优动态响应，能够分频段对需要调试的电压频段单独进行调优，在保证静态电压不变以保证CPU的需求的基础上，优化DCDC电源芯片的调优能力，降低调节环路的难度及节省调试及验证的时间和人力，实现单独对某一频段的电压进行调节，避免DCDC电源芯片电压变化过低或者过高造成掉电而使服务器宕机，保证服务器的稳定运行。
[0044]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种动态响应调试方法，其特征在于，所述方法包括：获取电源芯片预先确定的动态响应待测频点，对所述待测频点进行扫频测试；根据扫频测试结果中的电压最大值对应第一频点和电压最小值对应第二频点，确定动态响应的调试方式，其中，所述调试方式包括分段调试；在确定调试方式为所述分段调试的情况下，在预设频段内进行最大值和/或最小值分段调试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取电源芯片预先确定的动态响应待测频点，对所述待测频点进行扫频测试，包括：预先设置测试电源芯片电压变化的测试参数，其中，所述测试参数包括中央控制单元的电流变化和工作频率；根据所述电流变化和所述工作频率，确定出测试电源芯片的拉载条件；采用预先确定的拉载条件，确定电流变化中动态响应的待测频点。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据扫频测试结果中的电压最大值对应第一频点和电压最小值对应第二频点，确定动态响应的调试方式，包括：若第一频点对应电压最大值大于第一预设阈值，或第二频点对应电压最小值小于第二预设阈值，确定动态响应的调试方式为调整静态电压；若所述电压最大值和所述电压最小值在预设高频范围内大于预设标准值，确定动态响应的调试方式为调整环路；若所述电压最大值或电压最小值大于所述预设标准值，且所述电压最小值或电压最大值存在预设余量，确定动态响应的调试方式为分段调试。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在确定调试方式为所述分段调试的情况下，在预设频段内进行最大值和/或最小值分段调试，包括：若所述第一频点对应电压最大值大于所述预设标准值且所述第二频点对应电压最小值与所述预设标准值差值大于预设余量，确定分段调试方式为最大值分段调试；在预先设定频率范围内，将所述预设标准值中的最大值与所述预设余量的差值确定为最大电压判断值；根据所述最大电压判断值，调整所述第一频点对应电压最大值大于所述最大电压判断值。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在确定调试方式为所述分段调试的情况下，在预设频段内进行最大值和/或最小值分段调试，包括：若...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵国玲，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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