用于高压隔离开关的温度感测设备和包括温度感测设备的高压隔离开关制造技术

技术编号:38827660 阅读:9 留言:0更新日期:2023-09-15 20:06
一种用于高压隔离开关的感测设备,包括:发光元件和光纤,发光元件配置为使其温度与高压隔离开关的温度一致,光纤配置为从发光元件接收光发射并配置为引推导光发射。此外,推导单元配置为从光纤接收光发射并且基于所接收的光发射的持续时间来推导关于高压隔离开关的温度的信息。的温度的信息。的温度的信息。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于高压隔离开关的温度感测设备和包括温度感测设备的高压隔离开关


[0001]在下文中,描述了一种用于高压隔离开关的温度感测设备和包括温度感测设备的高压隔离开关。

技术介绍

[0002]向多个间隔开的用户提供电能的渐进式能源供应系统基于分散式发电单元,诸如风力发电厂、热电联产站、太阳能单元和小型实体发电厂。然而,分散式电力部署和消耗需要用于分配电能的增强型电网,其中增强型电网包括多个变电站,其间歇地连接或断开高压链路(linkage)以传输电能。
[0003]高压链路的接通和断开通常用分合闸隔离开关BCDS来实现,它是电网变电站不可或缺但又是错误敏感元件。
[0004]已知BCDS的常见故障是由BCDS的高压接触装置的错误或不完全接触引起的,例如由于污染或机械变形的接触装置。由此产生的高压接触装置之间不良的电连接会导致BCDS的电阻显著增加,并因此导致运行的BCDS的温度升高。结果,发生事故的风险以及电能损失都极大增加了。
[0005]因此,经常检测和监测BCDS的温度,尤其是BCDS的高压接触装置的温度,对于保证变电站和包括变电站在内的电网的有效运行、提高运行安全性、减少停机时间是必不可少的。
[0006]为了测量、监控和/或报告技术设备的温度,已知多种方法和感测设备。然而,已知的温度测量装置包括电气操作部件,至少用于将测得的温度值传输到中央监控或评估单元。这种电气操作装置不适合在紧挨高压接触装置附近使用,因为接触装置和传感器电极(传感器位置处的地电平>50kV)之间的电压差会使感测设备的可操作性变得不可能,但至少会影响感测设备的可操作性。
[0007]此外,变电站及其诸如BCDS的部件通常会受到环境影响,诸如变化的周围温度、湿度、气压和风力条件和/或灰尘或污染物的沉积。
[0008]因此,用于高压隔离开关的温度感测设备必须能够抵抗要运行变电站所处的常见环境影响,并且不必需要在高压隔离开关附近进行电气操作的部件。

技术实现思路

[0009]该技术问题的解决方案由根据独立权利要求1的感测设备和根据独立权利要求12的高压隔离开关提供。感测设备和高压隔离开关的其他实施例由权利要求2至11和13至15定义。
[0010]一种用于高压隔离开关的感测设备包括:发光元件,其配置为使其温度与高压隔离开关的温度一致;以及光纤,其配置为从所述发光元件接收光发射,并配置为引导所述光发射。此外,推导单元配置为从所述光纤接收所述光发射,并且基于所述接收的光发射的持
续时间/时间范围来推导关于所述高压隔离开关的温度的信息。
[0011]所述发光元件配置为发射光发射。由所述发光元件发射和/或由所述光纤引导的所述光发射可以包括紫外光、可见光和/或红外光。
[0012]所述发光元件可以配置为基于其温度和/或基于所述高压隔离开关的温度来发射光发射。对应于发光元件和/或高压隔离开关的温度,光发射可以在强度、持续时间、频谱宽度和/或频率分布/组成方面发生变化。换句话说,发光元件和/或高压隔离开关的温度可以影响由发光元件发射和/或由光纤引导的光发射的特性或物理参数。发光元件和/或高压隔离开关的温度可以影响光发射的强度、持续时间、频谱宽度和/或频率分布/组成。
[0013]光纤可以包括二氧化硅材料,特别是玻璃材料、和/或聚合物材料。此外,光纤可以耦合到发光元件、和/或光纤可以耦合到推导单元。光纤可以被涂层或周围材料(例如,用聚合物材料)部分地涂覆或包围。
[0014]推导单元可以与光纤耦合和/或进一步配置成基于接收到的光发射的强度和/或频谱和/或频率分布推导关于高压隔离开关的温度的信息,接收到的光发射已经由发光元件发射和/或由光纤引导。推导单元可以包括至少一个光电元件和/或集成电路。此外,推导单元可以配置为与数据处理系统(例如与高压隔离开关和/或变电站的控制和/或监控系统)耦接。可选地,推导单元可以集成到数据处理系统中。
[0015]感测设备的优点是发光元件和光纤,即必须至少部分地布置在紧挨高压接触装置附近的元件,可以在没有电能传输的情况下运行。因此,可以排除由于高压隔离开关附近的电磁影响而导致的感测设备的故障。
[0016]另一个优点是,可以在没有任何可移动元件和/或具有额外的隔离和/或保护装置(诸如密封感测设备)的聚合物涂层的情况下来实现该感测设备。因此,可以有效地保护感测设备免受环境影响。
[0017]可选地,用于高压隔离开关的感测设备包括:接触元件,其配置为布置在所述高压隔离开关的接触装置的表面上,特别是金属表面上,并且配置成为与所述表面的温度一致。
[0018]所述发光元件和/或所述光纤可以设置在所述接触元件的表面上。替代地或补充地,发光元件和/或光纤可以至少部分地由所述接触元件包围。
[0019]可选地,所述接触元件包括塑料或聚合物材料和/或金属材料,例如,铜材料。
[0020]此外,所述接触元件可包括圆柱形部分和/或环形部分。
[0021]所述发光元件和/或所述光纤可以配置为与所述高压隔离开关的表面温度一致和/或与所述接触元件的温度一致。
[0022]接触元件的优点在于它增强并简化了在高压隔离开关处发光元件的定位,特别是在高压隔离开关的接触装置的金属表面上。
[0023]接触元件可以被成形为对应于高压隔离开关的现有装置,例如,对应于高压隔离开关的现有隔离和/或间隔装置。在一个变型中,接触元件可以具有环形部分并且配置成围绕间隔元件布置,该间隔元件布置在高压接触元件与将高压接触元件压到另一个高压接触元件以增强这些元件之间的导电接触的弹簧之间。
[0024]接触元件的另一个优点是,它增强了发光元件和高压隔离开关之间的温度一致。
[0025]接触元件的另一个优点是,它可以例如通过至少部分地包围发光元件来保护发光元件免受环境影响。
[0026]可选地,所述发光元件可以为涂层,其设置在所述光纤的一个表面或部分表面上。在一个变型中,发光元件可以是覆盖光纤表面的一部分的涂层,其中光纤的涂层部分被接触元件包围。
[0027]此外,发光元件可以包括/包含发光物质/材料,特别是光致发光物质/材料,例如包括/包含锌、镉、锰、铝、硅和/或稀土金属的氧化物、氮化物、氮氧化物、硫化物、硒化物、卤化物和/或硅酸盐的磷物质/材料。
[0028]在一个变体中,发光元件是设置在光纤的一部分上的光致发光涂层。
[0029]在一个变体中,用于高压隔离开关的感测设备还包括配置为间歇地发光的光源。光纤可以配置为接收由光源发射的光,并且引导由光源发射的光。发光元件可配置为吸收从光源发射并由光纤引导的光的能量。
[0030]包含(光)发光物质的发光元件的优点在于,可以通过间歇地引导来自光源的光穿过光纤而不传输电能来为(光)发光材料供应能量。当发光物质吸收来自光源的光的能量时,发光物质内部的电子会发生能级跃迁现象,从而产生发光现象,即荧光。当光源间歇性提供的光暂时变暗时,发光将在本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于高压隔离开关的感测设备,所述感测设备包括:发光元件,其配置为使其温度与高压隔离开关的温度一致;光纤,其配置为从所述发光元件接收光发射,并且配置为引导所述光发射;推导单元,其配置为从所述光纤接收所述光发射,并且基于所述接收的光发射的持续时间来推导关于高压隔离开关的温度的信息。2.如权利要求1所述的感测设备,进一步包括:接触元件,其配置为布置在所述高压隔离开关的表面上,并配置为与所述表面的温度一致,其中所述发光元件和/或所述光纤设置在所述接触元件的表面上,和/或其中所述发光元件和/或所述光纤由所述接触元件包围。3.如权利要求2所述的感测设备,其中,所述接触元件包括塑料材料,和/或所述接触元件包括金属材料,和/或所述接触元件包括圆柱形部分,和/或所述接触元件包括环形部分。4.如权利要求1至3中任一项所述的感测设备,其中,所述发光元件和/或所述光纤配置为与所述高压隔离开关的表面温度一致和/或与所述接触元件的温度一致。5.如权利要求1至4中任一项所述的感测设备,其中,所述发光元件是设置在所述光纤表面的涂层。6.如权利要求1至5中任一项所述的感测设备,其中,所述发光元件包括发光物质。7.如权利要求6中任一项所述的感测设备,还包括:配置为间歇发光的光源,其中所述光纤还配置为接收由所述光源发射的光,并且还配置为引导由所述光源发射的光,并且其中所述发光元件进一步配置为吸收从所述光源发射并由所述光纤引导的光的能量。8.如权利要求1至7中任一项所述的感测设备,其中,所述推导单元进一步配置为基于光强和/或接收的光发射的频谱和/或频率分布来推导关于所述高压隔离开关的温度的信息。9.如权利要求1至8中任一项...

【专利技术属性】
技术研发人员:邓军涛卢伟
申请(专利权)人:伟勒德工业股份公司
类型:发明
国别省市:

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