一种数字集成电路辐射效应原位测试系统及测试方法技术方案

本发明专利技术提供一种数字集成电路辐射效应原位测试系统及测试方法，用于解决现有的辐射效应原位测试系统无法实现对数字集成电路的性能和功能进行全面测试的技术问题。测试系统包括驱动单元、采集单元及分析单元；采集单元包括SMU测试模块和至少一个数字向量测试模块，SMU测试模块用于为待测数字集成电路供电并采集待测数字集成电路的功耗电流；数字向量测试模块用于为待测数字集成电路输入电信号激励，并采集待测数字集成电路输出的电平信号；分析单元用于接收SMU测试模块和每个数字向量测试模块采集到的信息，并对其进行处理。并对其进行处理。并对其进行处理。

【技术实现步骤摘要】
一种数字集成电路辐射效应原位测试系统及测试方法


[0001]本专利技术涉及一种辐射效应测试系统，尤其涉及一种数字集成电路辐射效应原位测试系统及测试方法。

技术介绍

[0002]随着航天技术的发展，航空航天的任务与日俱增，而航天器在宇宙空间中运行时，会收到电子、质子及各种能量的重离子的辐射，从而导致航天器中的电子元器件发生空间辐射效应。目前，空间辐射效应导致的电子元器件辐射损伤已经成为航天器发生故障的主要原因，约占在轨故障的45％。
[0003]与电子和重离子只能引起某一两种空间辐射效应相比，质子会引起电离辐射总剂量效应、单粒子效应、位移损伤效应这三大主要的空间辐射效应。因此，近几年多家研究机构新建了多台质子加速器，利用地面加速器辐射模拟装置研究质子导致电子元器件辐射损伤的机理。
[0004]数字集成电路是航天器电子系统中的重要组成部分，其包括存储器、FPGA、DSP等大规模集成电路，也包括54、74型号系列的中小规模集成电路。辐射效应将会直接导致数字集成电路电参数超差，甚至功能失效，从而导致整个航天器系统出现故障。因此，数字集成本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数字集成电路辐射效应原位测试系统，其特征在于：包括驱动单元(1)、采集单元(2)及分析单元(3)；所述采集单元(2)包括SMU测试模块(4)和至少一个数字向量测试模块(5)；所述SMU测试模块(4)的输入端和每个数字向量测试模块(5)的输入端分别与驱动单元(1)连接；所述SMU测试模块(4)和每个数字向量测试模块(5)分别用于与待测数字集成电路(6)连接，待测数字集成电路(6)位于辐射场内；所述SMU测试模块(4)用于为待测数字集成电路(6)供电并采集待测数字集成电路(6)的功耗电流；所述数字向量测试模块(5)用于为待测数字集成电路(6)输入测试向量，并采集待测数字集成电路(6)输出的电平信号；所述分析单元(3)分别与SMU测试模块(4)的输出端和每个数字向量测试模块(5)的输出端连接，用于接收SMU测试模块(4)和每个数字向量测试模块(5)采集到的信息，并对其进行处理。2.根据权利要求1所述的一种数字集成电路辐射效应原位测试系统，其特征在于：还包括显示单元(7)，所述显示单元(7)与分析单元(3)连接，用于显示分析单元(3)输出的处理结果。3.根据权利要求2所述的一种数字集成电路辐射效应原位测试系统，其特征在于：所述驱动单元(1)和采集单元(2)均位于辐射场外。4.根据权利要求2所述的一种数字集成电路辐射效应原位测试系统，其特征在于：所述驱动单元(1)和采集单元(2)均位于辐射场内，且采用抗辐射屏蔽盒进行屏蔽。5.根据权利要求3或4所述的一种数字集成电路辐射效应原位测试系统，其特征在于：所述SMU测试模块(4)包括至少一块双路的SMU测试板卡，或者至少两个单路的SMU测试板卡。6.根据权利要求5所述的一种数字集成电路辐射效应原位测试系统，其特征在于：所述驱动单元(1)、SMU测试模块(4)、数字向量测试模块(5)及分析单元(3)均采用labview和Python编程语言进行编程。7.一种数字集成电路辐射效应原位测试方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1】搭建系统搭建权利要求1
‑
6任一所述的数字集成电路辐射效应原位测试系统，设置参考电平V
OL
和V
OH
，并将待测数字集成电路(6)放置于辐射场内；步骤2】驱动采集单元通过驱动单元(1)分别驱动SMU测试模块(4)和每个数字向量测试模块(5)，为待测数字集成电路(6)供...

【专利技术属性】
技术研发人员：张兴尧，郭旗，李豫东，崔江维，文林，孙静，冯婕，
申请(专利权)人：中国科学院新疆理化技术研究所，
类型：发明
国别省市：