一种双光路检测模组制造技术

本申请公开了一种双光路检测模组，包括：双光路产生组件和荧光接收组件；其中，所述双光路产生组件包括光源和分光器件；所述双光路产生组件用于通过所述光源产生激发光，并通过所述分光器件对所述激发光分光，获得第一激发光路和第二激发光路；其中，所述第一激发光路对应荧光测试卡上的控制线，并在所述控制线激发产生第一荧光光束；所述第二激发光路对应所述荧光测试卡上的检测线，并在所述检测线激发产生第二荧光光束；所述荧光接收组件用于探测所述第一荧光光束和所述第二荧光光束。该双光路检测模组能够在稳定条件下测量荧光强度，并且大大提高了检测效率，降低成本，有利于干式荧光免疫分析仪结构小型化。荧光免疫分析仪结构小型化。荧光免疫分析仪结构小型化。

【技术实现步骤摘要】
一种双光路检测模组


[0001]本申请涉及光学检测
，特别是涉及一种双光路检测模组。

技术介绍

[0002]干式荧光检测技术以干式荧光测试卡为载体，干式荧光测试卡一般是划有控制线(C线)、检测线(T线)的条状纤维层材料，待测物质在T线处经过特异性免疫结合反应，并且混合游离物在C线处经过免疫反应。通过特定波长的激发光激发测试卡上的T线和C线区域，T线和C线区域上面的物质分子受激跃迁至激发态，处于激发态的分子以辐射的形式将富余能量以发光的方式释放出来，即产生荧光，而分子自身重新恢复到基态。干式荧光免疫分析仪就是通过测定T线和C线产生的荧光信号的强度，形成荧光免疫测定曲线，再通过计算机算法对测定曲线进行处理从而确定待测物的定量浓度。因此，准确测定干式荧光测试卡T线和C线产生的荧光信号强度对于确定待测物的定量浓度的最终结果具有十分关键的作用。
[0003]目前干式荧光免疫分析仪常用的测定方法是通过步进电机和皮带等传送装置使干式荧光测试卡的T线和C线先后位移到指定测试位置，利用测试位置上面的光路装置首先测量T线荧光强度，随后测试C线荧光强度。
[0004]但是随着这一测定方法的使用，其存在的问题也逐渐展现。步进电机和皮带等传送装置会造成仪器内部机械振动，使测量光路不稳定，不利于荧光信号的采集，最终降低测试结果准确度和重复性，测量方式耗费耗时，步进电机和皮带等传送装置占用仪器较大空间，不利于仪器的小型化发展。

技术实现思路

[0005]基于上述问题，本申请提供了一种双光路检测模组，以在稳定条件下测量荧光强度，提高了检测效率，降低成本，实现检测仪器结构的小型化。
[0006]本申请实施例公开了如下技术方案：
[0007]一种双光路检测模组，包括：双光路产生组件和荧光接收组件；其中，所述双光路产生组件包括光源和分光器件；
[0008]所述双光路产生组件用于通过所述光源产生激发光，并通过所述分光器件对所述激发光分光，获得第一激发光路和第二激发光路；
[0009]其中，所述第一激发光路对应荧光测试卡上的控制线，并在所述控制线激发产生第一荧光光束；所述第二激发光路对应所述荧光测试卡上的检测线，并在所述检测线激发产生第二荧光光束；
[0010]所述荧光接收组件用于探测所述第一荧光光束和所述第二荧光光束。
[0011]可选的，所述双光路产生组件还包括：第一反射器件，所述第一反射器件设置在所述第一激发光路上或者设置在所述第二激发光路上；
[0012]当所述第一反射器件设置在所述第一激发光路上时，所述第一反射器件具体用于将接收到的光束反射至所述控制线；
[0013]当所述第一反射器件设置在所述第二激发光路上时，所述第一反射器件具体用于将接收到的光束反射至所述检测线。
[0014]可选的，所述第一反射器件的反射面与所述分光器件的反射面平行。
[0015]可选的，所述双光路产生组件还包括：第一准直镜，所述第一准直镜设置在所述光源与所述分光器件之间，用于将所述激发光准直后传输给所述分光器件。
[0016]可选的，所述双光路产生组件还包括：第一会聚透镜和第二会聚透镜，其中所述第一会聚透镜设置在所述第一激发光路上，用于将所述第一激发光路的光会聚到所述控制线；所述第二会聚透镜设置在所述第二激发光路上，用于将所述第二激发光路的光会聚到所述检测线。
[0017]可选的，所述荧光接收组件包括第一光电探测器和第二光电探测器；所述双光路检测模组还包括：第二反射器件和第三反射器件；所述第二反射器件用于将所述控制线产生的所述第一荧光光束反射至所述第一光电探测器；所述第三反射器件用于将所述检测线产生的所述第二荧光光束反射至所述第二光电探测器。
[0018]可选的，所述第二反射器件设置在所述第一激发光路上，所述第二反射器件对于第一激发光路起到透射作用；所述第三反射器件设置在所述第二激发光路上，所述第三反射器件用于对所述第二激发光路起到透射作用。
[0019]可选的，所述第一激发光路为所述分光器件的透射光路，所述第二激发光路为所述分光器件的反射光路；所述第一反射器件设置在所述第二激发光路上；
[0020]所述第二反射器件的反射面与所述分光器件的反射面平行且朝向相反；所述第三反射器件的反射面与所述第二反射器件的反射面垂直；所述分光器件的反射面与所述激发光在所述分光器件成45
°
入射角。
[0021]可选的，还包括：滤光组件；所述滤光组件包括第一滤光片和第二滤光片，其中，所述第一滤光片设置在所述第一激发光路上，用于滤除所述第一激发光路上与所述控制线的荧光激发波长无关的光；所述第二滤光片设置在所述第二激发光路上，用于滤除所述第二激发光路上与所述检测线的荧光激发波长无关的光。
[0022]可选的，所述滤光组件还包括第三滤光片和第四滤光片，其中所述第三滤光片用于滤除所述第一荧光光束中与所述控制线的荧光发射波长无关的光；所述第四滤光片用于滤除所述第二荧光光束中与所述检测线的荧光发射波长无关的光。
[0023]可选的，所述荧光接收组件还包括：第三会聚透镜和第四会聚透镜；其中所述第三会聚透镜用于会聚所述第一荧光光束至所述第一光电探测器；所述第四会聚透镜用于会聚所述第二荧光光束至所述第二光电探测器；
[0024]所述双光路检测模组还包括第二准直镜和第三准直镜；所述第二准直镜设置在所述第三会聚透镜的第一侧，所述第三会聚透镜的第二侧设有所述第一光电探测器；所述第二准直镜用于在所述第一荧光光束进入所述第三会聚透镜之前，对所述第一荧光光束进行准直；所述第三准直镜设置在所述第四会聚透镜的第一侧，所述第四会聚透镜的第二侧设有所述第二光电探测器；所述第三准直镜用于在所述第二荧光光束进入所述第四会聚透镜之前，对所述第二荧光光束进行准直。
[0025]可选的，所述第一激发光路上设置的器件和所述第二激发光路上设置的器件分别位于两条相互平行的直线上；
[0026]所述第一激发光路上设置的器件共用第一位移装置，所述第二激发光路上设置的器件共用第二位移装置；所述第一激发光路和所述第二激发光路的距离受所述第一位移装置和/或所述第二位移装置的调节可变。
[0027]相较于现有技术，本申请具有以下有益效果：
[0028]本申请实施例提供的一种双光路检测模组采用双光路产生组件生成两激发光路，同时激发干式荧光测试卡上的检测线和控制线的荧光，使用荧光接收组件同时探测干式荧光测试卡上的检测线和控制线的两路荧光，能够在稳定条件下测量荧光强度，并且大大提高了检测效率，降低成本，由于双光路检测模组测量荧光强度不需要传送装置配合检测，将双光路检测模组应用于干式荧光免疫分析仪，有利于干式荧光免疫分析仪结构小型化。
附图说明
[0029]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双光路检测模组，其特征在于，包括：双光路产生组件和荧光接收组件；其中，所述双光路产生组件包括光源和分光器件；所述双光路产生组件用于通过所述光源产生激发光，并通过所述分光器件对所述激发光分光，获得第一激发光路和第二激发光路；其中，所述第一激发光路对应荧光测试卡上的控制线，并在所述控制线激发产生第一荧光光束；所述第二激发光路对应所述荧光测试卡上的检测线，并在所述检测线激发产生第二荧光光束；所述荧光接收组件用于探测所述第一荧光光束和所述第二荧光光束。2.根据权利要求1所述的双光路检测模组，其特征在于，所述双光路产生组件还包括：第一反射器件，所述第一反射器件设置在所述第一激发光路上或者设置在所述第二激发光路上；当所述第一反射器件设置在所述第一激发光路上时，所述第一反射器件具体用于将接收到的光束反射至所述控制线；当所述第一反射器件设置在所述第二激发光路上时，所述第一反射器件具体用于将接收到的光束反射至所述检测线。3.根据权利要求2所述的双光路检测模组，其特征在于，所述第一反射器件的反射面与所述分光器件的反射面平行。4.根据权利要求2所述的双光路检测模组，其特征在于，所述双光路产生组件还包括：第一准直镜，所述第一准直镜设置在所述光源与所述分光器件之间，用于将所述激发光准直后传输给所述分光器件。5.根据权利要求2所述的双光路检测模组，其特征在于，所述双光路产生组件还包括：第一会聚透镜和第二会聚透镜，其中所述第一会聚透镜设置在所述第一激发光路上，用于将所述第一激发光路的光会聚到所述控制线；所述第二会聚透镜设置在所述第二激发光路上，用于将所述第二激发光路的光会聚到所述检测线。6.根据权利要求2所述的双光路检测模组，其特征在于，所述荧光接收组件包括第一光电探测器和第二光电探测器；所述双光路检测模组还包括：第二反射器件和第三反射器件；所述第二反射器件用于将所述控制线产生的所述第一荧光光束反射至所述第一光电探测器；所述第三反射器件用于将所述检测线产生的所述第二荧光光束反射至所述第二光电探测器。7.根据权利要求6所述的双光路检测模组，其特征在于，所述第二反射器件设置在所述第一激发光路上，所述第二反射器件对于第一激发光路起到透射作用；所述第三反射器件设置在所述第二激发光路上，所述第三反射器件用于对所述第二激发光路...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘少伟，刘靓，余自如，于伟鹏，张焕，王亚萍，田小娟，
申请(专利权)人：广州光信科技有限公司，
类型：发明
国别省市：