硬盘效能问题分类模型的建立方法及系统、分析方法技术方案

本发明专利技术提供一种硬盘效能问题分类模型的建立方法及系统、分析方法，硬盘效能问题分类模型的建立方法，其包括供一分析装置执行：取得多个单体硬盘的多笔量测数据，每一笔量测数据报含多个振动参数；基于多个预设条件二值化这些量测资料，这些默认条件分别对应于这些振动参数；基于经二值化的这些量测数据及判定树算法，取得硬盘效能问题分类模型。取得硬盘效能问题分类模型。取得硬盘效能问题分类模型。

【技术实现步骤摘要】
硬盘效能问题分类模型的建立方法及系统、分析方法


[0001]本专利技术关于一种分类模型的建立方法，特别是关于一种硬盘效能问题分类模型的建立方法。

技术介绍

[0002]随着因特网的发达，信息处理量越来越大，服务器需要的数目也越来越多。若服务器的效能降低时，影响整个网络的数据传输，可能造成游戏当机、电子邮件无法正常传输或视频会议的中断，如何改善服务器的效能降低变为一个重要的课题。
[0003]一般而言，服务器的效能与硬盘效能是相关的，服务器的效能会受硬盘效能所影响；若硬盘的效能下降，服务器的效能也随之下降。工程师往往利用人力逐步分析方式在服务器内部寻找硬盘效能下降原因，经常发生无法找到影响硬盘效能的根本原因，以至于无法对症下药解决硬盘效能下降的问题。

技术实现思路

[0004]根据前述，本专利技术提供一种硬盘效能问题分类模型的建立方法及系统、分析方法，以寻找出硬盘效能的根本原因。
[0005]依据本专利技术的一实施例的硬盘效能问题分类模型的建立方法，其包含供分析装置执行：取得多个单体硬盘的多笔量测数据，每一所述量测数据报含多个振动参数；基于多个预设条件二值化这些量测资料，这些默认条件分别对应于这些振动参数；基于经二值化的这些量测数据及判定树算法，取得硬盘效能问题分类模型。
[0006]依据本专利技术的一实施例的一种硬盘效能问题分析方法，包含：以计算机系统，将异常的服务器硬盘的量测数据输入前述的硬盘效能问题分类模型，以取得分类结果；其中分类结果指示多个问题因子间的排序，且这些问题因子关联于多个振动参数中的多者。
[0007]依据本专利技术的一实施例的一种硬盘效能问题分类模型建立系统，其包含多个振动参数传感器和分析装置。多个振动参数传感器用于量测多个单体硬盘中的每一者的多个振动参数的多个数值。分析装置连接于多个振动参数传感器并用于取得多个单体硬盘的多笔量测数据，分析装置基于多个默认条件二值化多笔量测资料，多个默认条件分别对应于多个振动参数，分析装置基于经二值化的多笔量测数据及判定树算法，取得硬盘效能问题分类模型，其中每一个量测数据报含多个单体硬盘中的对应者的多个振动参数的多个数值。
[0008]综上所述，本专利技术的硬盘效能问题分类模型的建立方法及硬盘效能问题分类模型建立系统，将多笔量测数据进行二值化，并结合判定树算法，可以快速地建立分类准确度高的判定树来作为硬盘效能问题分类模型，且由于是以单体硬盘的振动量测数据作为训练数据，对所建立的判定树进行剪枝的需求不高。另外，本专利技术的硬盘效能问题分析方法，将伺服储存系统内部有问题的硬盘的量测数据输入上述硬盘效能问题分类模型，可以良好地推测硬盘效能降低的主要原因。
附图说明
[0009]图1为依据本专利技术一实施例所绘示的硬盘效能问题分类模型建立系统的功能方块图。
[0010]图2为依据本专利技术一实施例所绘示的硬盘效能问题分类模型建立方法的流程图。
[0011]图3为依据本专利技术一实施例所绘示的取得硬盘效能问题分类模型的详细步骤的流程图。
[0012]图4为依据本专利技术一实施例所绘示的判定树算法的二元树图。
[0013]图5为依据本专利技术一实施例所绘示的硬盘效能问题分析方法的执行环境示意图。
[0014]图6为依据本专利技术一实施例所绘示的硬盘效能问题分析方法的流程图。
[0015]元件标号说明
[0016]1ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
硬盘效能问题分类模型建立系统
[0017]2ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
计算机系统
[0018]11
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振动参数传感器
[0019]12
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分析装置
[0020]111
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三轴加速度计
[0021]112
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音压计
[0022]113
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共振频率分析仪
[0023]C1～C5
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类别
[0024]c11,c12,c21,
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分类条件
[0025]c22,c31,c32,
[0026]c41,c42
[0027]D1～D4
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决策点
[0028]S1～S4,S31～S36 步骤
具体实施方式
[0029]以下在实施方式中详细叙述本专利技术的详细特征以及优点，其内容足以使任何熟习相关技艺者了解本专利技术的
技术实现思路
并据以实施，且根据本说明书所揭露的内容、申请专利范围及图式，任何熟习相关技艺者可轻易地理解本专利技术相关的目的及优点。以下的实施例系进一步详细说明本专利技术的观点，但非以任何观点限制本专利技术的范畴。
[0030]应当理解的是，尽管术语「第一」、「第二」等在本专利技术中可用于描述各种组件、部件、区域、层及/或部分，但是这些组件、部件、区域、层及/或部分不应受这些术语的限制。这些术语仅用于将一个组件、部件、区域、层及/或部分与另一个组件、部件、区域、层及/或部分区分开。
[0031]另外，术语「包括」及/或「包含」指所述特征、区域、整体、步骤、操作、组件及/或部件的存在，但不排除一个或多个其他特征、区域、整体、步骤、操作、组件、部件及/或其组合的存在或添加。
[0032]请参阅图1，其为依据本专利技术一实施例所绘示的硬盘效能问题分类模型建立系统的功能方块图。如图1所示，硬盘效能问题分类模型建立系统1包括多个振动参数传感器11以及分析装置12，其中分析装置12连接于这些振动参数传感器11。
[0033]所述多个振动参数传感器11用于量测多个单体硬盘(单碟)中的每一者的多个振动参数的多个数值。进一步来说，所述多个振动参数传感器11可以包括三轴加速度计111、音压计112以及共振频率分析仪113中的至少二者。三轴加速度计111用于量测多个单体硬盘的加速度数值和角加速度数值。音压计112用于量测多个单体硬盘的音压数值。共振频率分析仪113可以硬盘I/O效能评测工具(IOMeter)或频谱分析仪实现，用于分析多个单体硬盘的共振频率数值。也就是说，所述多个振动参数可以包括加速度、角加速度、音压和共振频率中的至少二者。
[0034]分析装置12可以为微控制器、图形处理器或其他具有处理数据功能及储存功能的电子装置，而未局限于本专利技术所列举的范围。分析装置12用于取得所述多个单体硬盘的多笔量测数据，其中每一笔量测数据报括所述多个单体硬盘中的对应者的多个振动参数的多个数值，即前述多个振动参数传感器11所测得之振动参数数值。分析装置12基于多个预设条件二值化上述多笔量测资料，并基于经二值化的量测数据及判定树算法取得硬盘效能问题分类模型。
[0035]在一实施态样中，多个振动传感器11和分析装置12整合为一个电子设备。在另一个实施态样中，多个振动传感器11和分析本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种硬盘效能问题分类模型的建立方法，其包含以一分析装置执行：取得多个单体硬盘的多笔量测数据，每一所述量测数据报含多个振动参数的多个数值；基于多个预设条件二值化所述量测资料，所述默认条件分别对应于所述振动参数；以及基于经二值化的所述量测数据及一判定树算法，取得一硬盘效能问题分类模型。2.如权利要求1所述的硬盘效能问题分类模型的建立方法，其中该判定树算法为ID3算法。3.如权利要求1所述的硬盘效能问题分类模型的建立方法，其中所述振动参数包含加速度、角加速度、音压及共振频率中的多者。4.如权利要求1所述的硬盘效能问题分类模型的建立方法，其中基于经二值化的所述量测数据及该判定树算法，取得该硬盘效能问题分类模型包含：基于熵及信息增益中的一或二个，决定一第1决策点，以将经二值化的所述量测数据中的至少一部分分成二个量测数据组，其中该第i决策点关联于所述振动参数中的一个；定义i值为正整数且起始值为2，执行一分类运算，该分类运算包含：基于该熵及该信息增益中的一或二个，决定第i决策点，以将经第(i
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1)决策点分类的该二个量测数据组中的一个分成另二个量测数据组，其中该第i决策点关联于所述振动参数中的另一者；判断i值是否等于所述振动参数的数量，其中所述振动参数的该数量大于或等于2；若i值不等于所述振动参数的该数量，将i值加1并再次执行该分类运算；以及若i值等于所述振动参数的该数量，基于该第1决策点及执行一或多次的该分类运算的结果组成该硬盘效能问题分类模型。5.如权利要求1所述的硬盘效能问题分类模型的建立方法，其中基于经二值化的所述量测数据及该判定树算法，取得该硬盘效能问题分类模型包含执行k折交叉验证。6.一种硬盘效能问题分析方法，包含：以一计算机系统，将异常的一服务器硬盘的一量测数据输入由权利要求1至5中任一者所述的硬盘效能问题分类模型的建立方法所建立的该硬盘效能问题分类模型，以取得一分类结果...

【专利技术属性】
技术研发人员：廖奕茹，张祯元，陈伯修，蔡协良，
申请(专利权)人：英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：