采用双面振速测量和等效源法分离声场的方法技术

采用双面振速测量和等效源法分离声场的方法，其特征是在被测声场中设置测量面Ｓ↓［１］和与其平行、且相隔距离为δｈ的辅助测量面Ｓ↓［２］；测量两个面上的法向质点振速；设置虚源面Ｓ↓［１］↑［＊］和Ｓ↓［２］↑［＊］，在虚源面上分布等效源；建立等效源与两测量面上法向质点振速之间的传递关系；根据该传递关系确定虚源面Ｓ↓［１］↑［＊］和Ｓ↓［２］↑［＊］上各等效源的源强；根据两虚源面上等效源的源强分离出两测量面上由两侧声源分别辐射的声压、法向质点振速。本发明专利技术采用等效源法来作为声场分离算法，计算稳定性好、计算精度高、实施简单；采用两个测量面上的法向质点振速作为输入量来进行分离，分离的法向质点振速精度高。本发明专利技术方法可广泛用于内部声场或噪声环境下的近场声全息测量、材料反射系数的测量，散射声场的分离等。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及物理专业中噪声类领域声场分离方法。
技术介绍
在实际测量时，通常会遇到测量面两侧都有声源，或是测量面的一侧存在反射或散射。而实际工程中，为了更加准确地研究目标声源的声辐射特性或反射面的反射特性，需要将来自测量面两侧的辐射声分开。现有的分离方法包括(1)基于双面声压测量和二维空间傅立叶变换法的声场分离技术。该方法是G.V.Frisk等在E.G.Williams等提出的近场声全息技术和G.Weinreich等提出的双面测量方法的基础上提出的，并在近二十年里得到了进一步应用和推广。M.Tamura详细建立了基于双面声压测量和二维空间傅立叶变换法的声场分离公式，并通过数值仿真和实验成功求得反射界面的反射系数。Z.Hu和J.S.Bolton也对采用该方法测量平面波反射系数进行了进一步验证。M.T.Cheng等建立了迪卡尔坐标和柱面坐标下的双测量面声场分离公式，并用于实现散射声场的分离，分析了该方法分离散射场的敏感性。F.Yu等成功采用该方法分离近场声全息测量过程中全息面上来自背向的噪声。基于双面声压测量和二维空间傅立叶变换法有其固有的缺陷一方面对测量面的形状有限制，即只能是平面、柱面或球面等规则形状；另一方面受到傅立叶变换算法的影响，分离误差较大，尤其是在来自测量面两侧声压相差较大时，其误差尤为明显。(2)F.Jacobsen等提出的基于声压和速度测量的统计最优声场分离方法。该方法采用Microflown公司的p-u声强探头同时测量声场全息面上的声压和质点振速，再采用建立的联合求解公式实现来自全息面两侧的辐射声场分离。该方法的缺陷对测量面的形状有限制，即只能是平面、柱面或球面等规则形状。(3)C.Langrenne等提出的基于边界元法的双面声场分离方法。该方法首先测量两个包络声源的平行等间距测量面上的声压；再采用Helmholtz积分法分离入射和辐射声压场。该方法的缺陷存在奇异积分、解的非唯一性等处理，计算效率低。(4)C.X.Bi等提出的基于双面声压测量和等效源法的声场分离技术。该方法首先测量两个平行等间距测量面上的声压；再采用等效源法分离入射和辐射声压场。该方法采用两个测量面上的声压作为输入量来进行分离，分离的声压精度较高，但分离的法向质点振速精度相对较低。
技术实现思路
本专利技术所解决的技术问题是避免上述现有技术所存在的不足之处，提供一种，以双测量面上法向质点振速为输入量，采用等效源法实现的计算稳定性好、计算精度高、实施简单的声场分离方法。 本专利技术解决技术问题所采用的技术方案是 本专利技术方法的特点是按如下步骤进行 a、测量两个面上的法向质点振速 在由声源1和声源2构成的被测声场中，位于声源1与声源2之间有测量面S1，在测量面S1与声源2之间设置一与测量面S1平行、且相隔距离为δh的辅助测量面S2；在两测量面上分别分布有测量网格点，相邻网格点之间的距离小于半个波长；测量两个测量面上各网格点处的法向质点振速幅值和相位信息获得两测量面上的法向质点振速；所述被测声场为稳态声场； b、在测量面S1与声源1之间设定虚源面S1*，在辅助测量面S2与声源2之间设定虚源面S2*，并在两虚源面上分别分布有等效源，等效源的个数不大于对应测量面网络点数；所述等效源为标准点源、面源或体源； c、建立两虚源面上等效源与所述两测量面上法向质点振速之间的传递关系 其中 为测量面S1上测得的法向质点振速、 测量面S2上测得的法向质点振速、 W1为虚源面S1*上等效源权重矢量、W2为虚源面S2*上等效源权重矢量、 为虚源面S1*上等效源与测量面S1上法向质点振速之间的传递矩阵、 为虚源面S1*上等效源与测量面S2上法向质点振速之间的传递矩阵、 为虚源面S2*上等效源与测量面S2上法向质点振速之间的传递矩阵、 为虚源面S2*上等效源与测量面S1上法向质点振速之间的传递矩阵； d、求解两虚源面上等效源的源强 根据步骤c所建立的两虚源面上等效源与所述两测量面上法向质点振速之间的传递关系，联合求解获得虚源面S1*和虚源面S2*上各等效源的源强为 其中 e、计算两测量面上由两侧声源分别辐射的声压、法向质点振速 根据步骤d确定的两虚源面上等效源的源强，可以计算出两测量面上由两侧声源分别辐射的声压、法向质点振速分别为 其中 为声源1在测量面S1上所辐射的法向质点振速、 为声源2在测量面S1上所辐射的法向质点振速、 为声源1在辅助测量面S2上所辐射的法向质点振速、 为声源2在辅助测量面S2上辐射的法向质点振速、 为声源1在测量面S1上所辐射的声压、 为声源2在测量面S1上所辐射的声压、 为声源1在辅助测量面S2上所辐射的声压、 为声源2在辅助测量面S2上辐射的声压、 为虚源面S1*上等效源与测量面S1上声压之间的传递矩阵、 为虚源面S1*上等效源与测量面S2上声压之间的传递矩阵、 为虚源面S2*上等效源与测量面S2上声压之间的传递矩阵、 为虚源面S2*上等效源与测量面S1上声压之间的传递矩阵； 本专利技术方法的特点也在于 各网格点上的法向质点振速幅值和相位信息的测量是采用单个或多个质点振速传感器分别在两测量面上扫描、采用质点振速传感器阵列分别在两测量面上快照、或采用双质点振速传感器阵列在两测量面上一次快照获得。 测量面S1和辅助测量面S2为平面或曲面。 声源1为主声源，声源2为噪声源、反射源或散射源。 本专利技术方法是测量两个相隔距离为δh的测量面上的法向质点振速，采用等效源法来实现测量面上由两侧声源辐射声压、法向质点振速的分离。 理论模型 等效源法的基本思想是采用分布在声源内部的一系列等效源加权叠加来近似实际声场，此时只需确定这些等效源的源强即可预测整个声场。在实际求解过程中，等效源的源强可以通过测量的声源的边界条件(声压或法向振速)来确定。对于声场中任一个测量面，也可以通过在该面的背离分析域内虚源面上分布等效源来近似在该面前方区域的辐射声场。 参见图1，测量面S的右侧区域场点r处声学量可以由分布在该面左侧虚源面S*的一系列等效源近似获得。设测量面S和虚源面S*上分别分布了M个测量点和N个等效源，第i个等效源在场点r处的辐射声压为pi*(r)和粒子速度为vi*(r)，则场点r处的实际辐射声压和质点振速可表示为 式中，wi为i个等效源所对应的源强。各等效源的源强由测量面的边界条件确定，由等式(2)可得测量面S上M个测量点的法向质点振速可以表示为 式(3)写成矩阵形式为 式中， W＝(6) 式中，vS为声场中M个测点处的法向质点振速列向量；W为对应N个等效源所占的权重系数列向量；vS*为N个等效源与M个测点处法向质点振速之间的M×N阶传递矩阵本文档来自技高网...

【技术保护点】
采用双面振速测量和等效源法分离声场的方法，其特征是按如下步骤进行：　ａ、测量两个面上的法向质点振速　在由声源１和声源２构成的被测声场中，位于声源１与声源２之间有测量面Ｓ↓［１］，在测量面Ｓ↓［１］与声源２之间设置一与测量面Ｓ↓［１］平行、且相隔距离为δｈ的辅助测量面Ｓ↓［２］；在两测量面上分别分布有测量网格点，相邻网格点之间的距离小于半个波长；测量两个测量面上各网格点处的法向质点振速幅值和相位信息获得两测量面上的法向质点振速；所述被测声场为稳态声场；　ｂ、在测量面Ｓ↓［１］与声源１之间设定虚源面Ｓ↓［１］↑［＊］，在辅助测量面Ｓ↓［２］与声源２之间设定虚源面Ｓ↓［２］↑［＊］，并在两虚源面上分别分布有等效源，等效源的个数不大于对应测量面网络点数；所述等效源为标准点源、面源或体源；　ｃ、建立两虚源面上等效源与所述两测量面上法向质点振速之间的传递关系　ｖ↓［Ｓ↓［１］］＝（ｖ↓［Ｓ↓［１］］↑［１］）↑［＊］Ｗ↓［１］＋（ｖ↓［Ｓ↓［１］］↑［２］）↑［＊］Ｗ↓［２］　ｖ↓［Ｓ↓［２］］＝（ｖ↓［Ｓ↓［２］］↑［１］）↑［＊］Ｗ↓［１］＋（ｖ↓［Ｓ↓［２］］↑［２］）↑［＊］Ｗ↓［２］，其中　ｖ↓［Ｓ↓［１］］为测量面Ｓ↓［１］上测得的法向质点振速、ｖ↓［Ｓ↓［２］］测量面Ｓ↓［２］上测得的法向质点振速、　Ｗ↓［１］为虚源面Ｓ↓［１］↑［＊］上等效源权重矢量、Ｗ↓［２］为虚源面Ｓ↓［２］↑［＊］上等效源权重矢量、　（ｖ↓［Ｓ↓［１］］↑［１］）↑［＊］为虚源面Ｓ↓［１］↑［＊］上等效源与测量面Ｓ↓［１］上法向质点振速之间的传递矩阵、　（ｖ↓［Ｓ↓［２］］↑［１］）↑［＊］为虚源面Ｓ↓［１］↑［＊］上等效源与测量面Ｓ↓［２］上法向质点振速之间的传递矩阵、　（ｖ↓［Ｓ↓［２］］↑［２］）↑［＊］为虚源面Ｓ↓［２］↑［＊］上等效源与测量面Ｓ↓［２］上法向质点振速之间的传递矩阵、　（ｖ↓［Ｓ↓［１］］↑［２］）↑［＊］为虚源面Ｓ↓［２］↑［＊］上等效源与测量面Ｓ↓［１］上法向质点振速之间的传递矩阵；　ｄ、求解两虚源面上等效源的源强　根据步骤ｃ所建立的两虚源面上等效源与所述两测量面上法向质点振速之间的传递关系，联合求解获得虚源面Ｓ↓［１］↑［＊］和虚源面Ｓ↓［２］↑［＊］上各等效源的源强为　Ｗ↓［１］＝［（ｖ↓［Ｓ↓［１］］↑［１］）↑［＊］－Ｇ↓［１］（ｖ↓［Ｓ↓［２］］↑［１］）↑［＊］］↑［＋］（Ｖ↓［Ｓ↓［１］］－Ｇ...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：毕传兴，张永斌，徐亮，陈心昭，
申请(专利权)人：合肥工业大学，
类型：发明
国别省市：34[中国|安徽]